Choice of metadata IPR SMART
Page 1, Results: 1
Report on unfulfilled requests: 0
1.
Подробнее
Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3 : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2009 - .Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3 / Данилов В. С. - 2009. - 80 с. - ISBN 978-5-7782-1284-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.85
Кл.слова (ненормированные):
анализ процесса -- полупроводниковое устройство -- анализ тока
Аннотация: В третьей части учебного пособия рассмотрены наиболее важные процессы, происходящие в МОП-транзисторах. Адресовано студентам, специализирующимся в области создания полупроводниковых устройств.
Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3 : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2009 - .Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3 / Данилов В. С. - 2009. - 80 с. - ISBN 978-5-7782-1284-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
анализ процесса -- полупроводниковое устройство -- анализ тока
Аннотация: В третьей части учебного пособия рассмотрены наиболее важные процессы, происходящие в МОП-транзисторах. Адресовано студентам, специализирующимся в области создания полупроводниковых устройств.
Page 1, Results: 1