Digital catalogue

93252

    Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов : практикум / Барабанов В. Ф. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. - 75 с. - ISBN 978-5-7731-0778-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК

68

ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
внутрисхемный тестер -- программа -- цифровая микросхема -- электронное устройство -- электронный компонент
Аннотация: В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети») при изучении дисциплин «Конструкторско-технологическое обеспечение производства ЭВМ», «Автоматизация проектирования вычислительных систем», «Электротехника и электроника».

Доп.точки доступа:
Барабанов, В. Ф.
Тюрин, С. В.
Гребенникова, Н. И.
Акинина, Ю. С.