Choice of metadata IPR SMART
Page 1, Results: 9
Report on unfulfilled requests: 0
1.
Подробнее
Блесман, А. И.
Методы исследования наноматериалов : учебное пособие / Блесман А. И. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 79 с. - ISBN 978-5-4497-1978-2, 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.37
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- наноинженерия -- наноматериал -- рентген -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов — растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплину «Методы исследования наноматериалов», а также будет полезно при прохождении практики и выполнении ВКР.
Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.
Полонянкин, Д. А.
Блесман, А. И.
Методы исследования наноматериалов : учебное пособие / Блесман А. И. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 79 с. - ISBN 978-5-4497-1978-2, 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- наноинженерия -- наноматериал -- рентген -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов — растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплину «Методы исследования наноматериалов», а также будет полезно при прохождении практики и выполнении ВКР.
Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.
Полонянкин, Д. А.
2.
Подробнее
Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 : учебное пособие / Билалов А. В. - Казань : Издательство КНИТУ, 2022. - 108 с. - ISBN 978-5-7882-2934-8, 978-5-7882-3094-8 (ч.3) : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 24.5
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- масс-спектрометрия -- реометрия -- спектроскопия -- химия -- хроматография
Аннотация: Предложены вопросы, задания и тесты для контроля знаний и умений, полученных студентами при изучении курса «Инструментальные методы исследования в химической технологии». Предназначено для магистрантов, обучающихся по направлению подготовки 18.04.01 «Химическая технология», а также для слушателей вузов и техникумов химических и химико-технологических специальностей. Подготовлено на кафедре физической и коллоидной химии.
Доп.точки доступа:
Билалов, А. В.
Галяметдинов, Ю. Г.
Осипова, В. В.
Романова, К. А.
Шамилов, Р. Р.
Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 : учебное пособие / Билалов А. В. - Казань : Издательство КНИТУ, 2022. - 108 с. - ISBN 978-5-7882-2934-8, 978-5-7882-3094-8 (ч.3) : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- масс-спектрометрия -- реометрия -- спектроскопия -- химия -- хроматография
Аннотация: Предложены вопросы, задания и тесты для контроля знаний и умений, полученных студентами при изучении курса «Инструментальные методы исследования в химической технологии». Предназначено для магистрантов, обучающихся по направлению подготовки 18.04.01 «Химическая технология», а также для слушателей вузов и техникумов химических и химико-технологических специальностей. Подготовлено на кафедре физической и коллоидной химии.
Доп.точки доступа:
Билалов, А. В.
Галяметдинов, Ю. Г.
Осипова, В. В.
Романова, К. А.
Шамилов, Р. Р.
3.
Подробнее
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.371
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
4.
Подробнее
Рогачев, Е. А.
Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е. А. - Омск : Омский государственный технический университет, 2021. - 88 с. - ISBN 978-5-8149-3367-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.3
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- материал -- севременные методы
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
Рогачев, Е. А.
Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е. А. - Омск : Омский государственный технический университет, 2021. - 88 с. - ISBN 978-5-8149-3367-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- материал -- севременные методы
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
5.
Подробнее
Исаенкова, М. Г.
Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда : лабораторная работа. Учебное пособие / Исаенкова М. Г. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2019. - 32 с. - ISBN 978-5-7262-2376-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.34
Кл.слова (ненормированные):
кристаллическая структура -- поликристаллический материал -- порошковый материал
Аннотация: Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов. Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
Доп.точки доступа:
Крымская, О. А.
Перлович, Ю. А.
Исаенкова, М. Г.
Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда : лабораторная работа. Учебное пособие / Исаенкова М. Г. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2019. - 32 с. - ISBN 978-5-7262-2376-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кристаллическая структура -- поликристаллический материал -- порошковый материал
Аннотация: Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов. Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
Доп.точки доступа:
Крымская, О. А.
Перлович, Ю. А.
6.
Подробнее
Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии : монография / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 156 с. - ISBN 978-5-9275-2415-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.36
Кл.слова (ненормированные):
кремниевая матрица -- металлооксидная наноструктура -- нанокомпозит -- нанокомпозитная пленка -- оксид 3d-металла -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская спектроскопия -- углеродная матрица -- электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.
Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.
Шматко, В. А.
Фуник, А. О.
Невзорова, Н. М.
Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии : монография / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 156 с. - ISBN 978-5-9275-2415-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кремниевая матрица -- металлооксидная наноструктура -- нанокомпозит -- нанокомпозитная пленка -- оксид 3d-металла -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская спектроскопия -- углеродная матрица -- электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.
Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.
Шматко, В. А.
Фуник, А. О.
Невзорова, Н. М.
7.
Подробнее
Основы рентгеновской дифрактометрии : лабораторный практикум / сост. Ю. В. Великанова. - Самара : Самарский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2020. - 78 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.344
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- кристалл -- лабораторная работа -- рентген
Аннотация: Данные лабораторные работы знакомят обучающихся с основами дифракционных методов исследования кристаллов и с базовыми понятиями кристаллографии. Материал предназначен для студентов 4 курса очной и очно-заочной формы обучения и преподавателей дисциплины «Основы рентгеновской дифрактометрии».
Доп.точки доступа:
Великанова, Ю. В. \сост.\
Основы рентгеновской дифрактометрии : лабораторный практикум / сост. Ю. В. Великанова. - Самара : Самарский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2020. - 78 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- кристалл -- лабораторная работа -- рентген
Аннотация: Данные лабораторные работы знакомят обучающихся с основами дифракционных методов исследования кристаллов и с базовыми понятиями кристаллографии. Материал предназначен для студентов 4 курса очной и очно-заочной формы обучения и преподавателей дисциплины «Основы рентгеновской дифрактометрии».
Доп.точки доступа:
Великанова, Ю. В. \сост.\
8.
Подробнее
Химич, М. А.
Введение в рентгеноструктурный анализ : учебное пособие / Химич М. А. - Томск : Издательство Томского государственного университета, 2022. - 88 с. - ISBN 978-5-907572-78-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
кристаллическое строение -- механика -- рентгеновский дифрактометр -- рентгеновское излучение -- рентгеноструктурный анализ -- физика
Аннотация: Учебное пособие посвящено описанию основ рентгеноструктурного анализа. Целью автора было максимально лаконично и доступно охарактеризовать физические основы рентгеноструктурного анализа и его отдельные методы, которые могут быть использованы при решении практических научно-исследовательских и инженерно-технических задач. Представленный материал может быть полезен тем, кому необходимо понимать, как рентгеновское излучение взаимодействует с веществом, какие методы рентгеноструктурного анализа существуют и какие подходы можно применять в том или ином случае для решения поставленных задач. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению «15.03.03 Прикладная механика» и смежным направлениям. Пособие может быть использовано студентами физико-технического, физического, химического, радиофизического факультетов по направлениям «Радиофизика», «Оптотехника», «Физика», «Химия», «Фундаментальная и прикладная химия» а также преподавателями при разработке курсов лекций и практических занятий.
Химич, М. А.
Введение в рентгеноструктурный анализ : учебное пособие / Химич М. А. - Томск : Издательство Томского государственного университета, 2022. - 88 с. - ISBN 978-5-907572-78-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кристаллическое строение -- механика -- рентгеновский дифрактометр -- рентгеновское излучение -- рентгеноструктурный анализ -- физика
Аннотация: Учебное пособие посвящено описанию основ рентгеноструктурного анализа. Целью автора было максимально лаконично и доступно охарактеризовать физические основы рентгеноструктурного анализа и его отдельные методы, которые могут быть использованы при решении практических научно-исследовательских и инженерно-технических задач. Представленный материал может быть полезен тем, кому необходимо понимать, как рентгеновское излучение взаимодействует с веществом, какие методы рентгеноструктурного анализа существуют и какие подходы можно применять в том или ином случае для решения поставленных задач. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению «15.03.03 Прикладная механика» и смежным направлениям. Пособие может быть использовано студентами физико-технического, физического, химического, радиофизического факультетов по направлениям «Радиофизика», «Оптотехника», «Физика», «Химия», «Фундаментальная и прикладная химия» а также преподавателями при разработке курсов лекций и практических занятий.
9.
Подробнее
Васильев, А. А.
Количественный фазовый анализ на дифрактометре «Дифрей 401»: научно-исследовательская работа : учебное пособие / Васильев А. А. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2020. - 36 с. - ISBN 978-5-907226-80-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 33.1
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометр -- материаловедение -- рентгеновская дифракция -- фазовый анализ
Аннотация: В учебном пособии представлен обзор вариантов количественного анализа методом рентгеновской дифракции и реализация двух из них на дифрактометре «Дифрей 401». Представленный материал является руководством к определению количественного фазового состава на этом приборе при выполнении обучающимися научно-исследовательских и выпускных квалификационных работ. Предназначено для обучающихся в бакалавриате и магистратуре по направлениям подготовки соответственно 22.03.01 и 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов». Может быть рекомендовано обучающимся по другим направлениям подготовки технических вузов, аспирантам и слушателям курсов повышения квалификации, а также преподавателям, инженерам и научным работникам, не имеющим специальной подготовки для работы на рентгеновском дифрактометре с позиционно-чувствительным детектором.
Доп.точки доступа:
Дзидзигури, Э. Л
Сидорова, Е. Н.
Васильев, А. А.
Количественный фазовый анализ на дифрактометре «Дифрей 401»: научно-исследовательская работа : учебное пособие / Васильев А. А. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2020. - 36 с. - ISBN 978-5-907226-80-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометр -- материаловедение -- рентгеновская дифракция -- фазовый анализ
Аннотация: В учебном пособии представлен обзор вариантов количественного анализа методом рентгеновской дифракции и реализация двух из них на дифрактометре «Дифрей 401». Представленный материал является руководством к определению количественного фазового состава на этом приборе при выполнении обучающимися научно-исследовательских и выпускных квалификационных работ. Предназначено для обучающихся в бакалавриате и магистратуре по направлениям подготовки соответственно 22.03.01 и 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов». Может быть рекомендовано обучающимся по другим направлениям подготовки технических вузов, аспирантам и слушателям курсов повышения квалификации, а также преподавателям, инженерам и научным работникам, не имеющим специальной подготовки для работы на рентгеновском дифрактометре с позиционно-чувствительным детектором.
Доп.точки доступа:
Дзидзигури, Э. Л
Сидорова, Е. Н.
Page 1, Results: 9