Choice of metadata IPR SMART
Page 1, Results: 1
Report on unfulfilled requests: 0
1.
Подробнее
61986
Вознесенский, Э. Ф.
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.33я7
Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.
Вознесенский, Э. Ф.
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.
Page 1, Results: 1