Choice of metadata IPR SMART
Page 1, Results: 3
Report on unfulfilled requests: 0
1.
Подробнее
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.371
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
2.
Подробнее
Вознесенский, Э. Ф.
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.33я7
Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.
Вознесенский, Э. Ф.
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.
3.
Подробнее
Трубицын, А. А.
Моделирование систем параксиальной электронной оптики : учебное пособие / Трубицын А. А. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2022. - 80 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
моделирование -- уравнение буша -- уравнение гельмгольца-лагранжа -- фокусировка -- электронная оптика -- электростатическое поле
Аннотация: Содержит теоретические сведения об основных законах электронной оптики, подробно рассматриваются условия пространственной и угловой фокусировок, распределение потенциала аксиально-симметричного электростатического поля, уравнение Буша, формулы углового и линейного увеличения, уравнение Гельмгольца-Лагранжа. Также приводится методика расчета кардинальных элементов электростатических линз. К пособию прилагаются четыре практических задания по моделированию систем параксиальной электронной оптики в среде MathCAD. Предназначено для студентов технических вузов, обладающих начальными сведениями из физики и высшей математики.
Доп.точки доступа:
Кочергин, Э. Г.
Трубицын, А. А.
Моделирование систем параксиальной электронной оптики : учебное пособие / Трубицын А. А. - Рязань : Рязанский государственный радиотехнический университет, 2022. - 80 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
моделирование -- уравнение буша -- уравнение гельмгольца-лагранжа -- фокусировка -- электронная оптика -- электростатическое поле
Аннотация: Содержит теоретические сведения об основных законах электронной оптики, подробно рассматриваются условия пространственной и угловой фокусировок, распределение потенциала аксиально-симметричного электростатического поля, уравнение Буша, формулы углового и линейного увеличения, уравнение Гельмгольца-Лагранжа. Также приводится методика расчета кардинальных элементов электростатических линз. К пособию прилагаются четыре практических задания по моделированию систем параксиальной электронной оптики в среде MathCAD. Предназначено для студентов технических вузов, обладающих начальными сведениями из физики и высшей математики.
Доп.точки доступа:
Кочергин, Э. Г.
Page 1, Results: 3