Choice of metadata IPR SMART
Page 1, Results: 3
Report on unfulfilled requests: 0
1.
Подробнее
Исаенкова, М. Г.
Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда : лабораторная работа. Учебное пособие / Исаенкова М. Г. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2019. - 32 с. - ISBN 978-5-7262-2376-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.34
Кл.слова (ненормированные):
кристаллическая структура -- поликристаллический материал -- порошковый материал
Аннотация: Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов. Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
Доп.точки доступа:
Крымская, О. А.
Перлович, Ю. А.
Исаенкова, М. Г.
Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда : лабораторная работа. Учебное пособие / Исаенкова М. Г. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2019. - 32 с. - ISBN 978-5-7262-2376-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кристаллическая структура -- поликристаллический материал -- порошковый материал
Аннотация: Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов. Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
Доп.точки доступа:
Крымская, О. А.
Перлович, Ю. А.
2.
Подробнее
Основы рентгеновской дифрактометрии : лабораторный практикум / сост. Ю. В. Великанова. - Самара : Самарский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2020. - 78 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.344
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- кристалл -- лабораторная работа -- рентген
Аннотация: Данные лабораторные работы знакомят обучающихся с основами дифракционных методов исследования кристаллов и с базовыми понятиями кристаллографии. Материал предназначен для студентов 4 курса очной и очно-заочной формы обучения и преподавателей дисциплины «Основы рентгеновской дифрактометрии».
Доп.точки доступа:
Великанова, Ю. В. \сост.\
Основы рентгеновской дифрактометрии : лабораторный практикум / сост. Ю. В. Великанова. - Самара : Самарский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2020. - 78 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- кристалл -- лабораторная работа -- рентген
Аннотация: Данные лабораторные работы знакомят обучающихся с основами дифракционных методов исследования кристаллов и с базовыми понятиями кристаллографии. Материал предназначен для студентов 4 курса очной и очно-заочной формы обучения и преподавателей дисциплины «Основы рентгеновской дифрактометрии».
Доп.точки доступа:
Великанова, Ю. В. \сост.\
3.
Подробнее
Захаров, Б. А.
Практические аспекты расшифровки кристаллических структур по данным монокристального рентгеноструктурного анализа : учебно-методическое пособие / Захаров Б. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2023. - 41 с. - ISBN 978-5-4437-1478-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.371
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- кристаллическая структура -- монокристальный анализ -- программное обеспечение -- расшифровка -- рентгеноструктурный анализ
Аннотация: В пособии представлена базовая информация, необходимая для знакомства с процессом расшифровки кристаллических структур на основании данных монокристальной рентгеновской дифракции, а также информация о программном обеспечении пакета SHELX и примеры его использования для расшифровки структур. Пособие соответствует программе курса «Методы дифракционных исследований – 1» в части, посвященной практической расшифровке структур методом монокристального рентгеноструктурного анализа. Предназначено для студентов-химиков, физиков, биологов, геологов, планирующих освоить расшифровку кристаллических структур с помощью метода рентгеноструктурного анализа.
Доп.точки доступа:
Болдырева, Е. В.
Захаров, Б. А.
Практические аспекты расшифровки кристаллических структур по данным монокристального рентгеноструктурного анализа : учебно-методическое пособие / Захаров Б. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2023. - 41 с. - ISBN 978-5-4437-1478-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- кристаллическая структура -- монокристальный анализ -- программное обеспечение -- расшифровка -- рентгеноструктурный анализ
Аннотация: В пособии представлена базовая информация, необходимая для знакомства с процессом расшифровки кристаллических структур на основании данных монокристальной рентгеновской дифракции, а также информация о программном обеспечении пакета SHELX и примеры его использования для расшифровки структур. Пособие соответствует программе курса «Методы дифракционных исследований – 1» в части, посвященной практической расшифровке структур методом монокристального рентгеноструктурного анализа. Предназначено для студентов-химиков, физиков, биологов, геологов, планирующих освоить расшифровку кристаллических структур с помощью метода рентгеноструктурного анализа.
Доп.точки доступа:
Болдырева, Е. В.
Page 1, Results: 3