Choice of metadata IPR SMART
Page 1, Results: 26
Report on unfulfilled requests: 0
1.
Подробнее
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2013 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I / Филимонова Н. И. - 2013. - 134 с. - ISBN 978-5-7782-2158-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.85
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронный материал -- наноэлектронная структура -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия
Аннотация: Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Экспериментальные методы исследования и метрология», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем», и студентов, обучающихся по направлению 210100 «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Доп.точки доступа:
Кольцов, Б. Б.
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2013 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I / Филимонова Н. И. - 2013. - 134 с. - ISBN 978-5-7782-2158-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронный материал -- наноэлектронная структура -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия
Аннотация: Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Экспериментальные методы исследования и метрология», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем», и студентов, обучающихся по направлению 210100 «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Доп.точки доступа:
Кольцов, Б. Б.
2.
Подробнее
Блесман, А. И.
Методы исследования наноматериалов : учебное пособие / Блесман А. И. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 79 с. - ISBN 978-5-4497-1978-2, 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.37
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- наноинженерия -- наноматериал -- рентген -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов — растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплину «Методы исследования наноматериалов», а также будет полезно при прохождении практики и выполнении ВКР.
Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.
Полонянкин, Д. А.
Блесман, А. И.
Методы исследования наноматериалов : учебное пособие / Блесман А. И. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 79 с. - ISBN 978-5-4497-1978-2, 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- наноинженерия -- наноматериал -- рентген -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов — растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплину «Методы исследования наноматериалов», а также будет полезно при прохождении практики и выполнении ВКР.
Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.
Полонянкин, Д. А.
3.
Подробнее
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.371
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
4.
Подробнее
Рогачев, Е. А.
Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е. А. - Омск : Омский государственный технический университет, 2021. - 88 с. - ISBN 978-5-8149-3367-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.3
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- материал -- севременные методы
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
Рогачев, Е. А.
Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е. А. - Омск : Омский государственный технический университет, 2021. - 88 с. - ISBN 978-5-8149-3367-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- материал -- севременные методы
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
5.
Подробнее
Концепции современного естествознания : учебное пособие / Брильков А. В. - Красноярск : Сибирский федеральный университет, 2019. - 172 с. - ISBN 978-5-7638-3825-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 20.1
Кл.слова (ненормированные):
биология -- естествознание -- ионометрия -- математическая модель -- микроскопия -- наблюдательная астрономия -- сенсорная система -- физика -- фрактальная геометрия -- химия
Аннотация: Приведены теоретические разработки, относящиеся к следующим разделам современного естествознания: фрактальная геометрия; математическое моделирование в естествознании; методы электронной микроскопии; ионометрия; спектрофотометрический анализ; влияние электромагнитных полей на биологические объекты на молекулярном, клеточном и организменном уровнях; сенсорные системы в биологии; статическое электричество в природе и технике; гироскопические эффекты; радиоактивность; элементы наблюдательной астрономии. Предназначено для студентов социально-экономических и других гуманитарных направлений.
Доп.точки доступа:
Брильков, А. В.
Гурова, Н. Н.
Жабрун, И. В.
Зимницкая, Н. С.
Золотов, О. А.
Ленченко, В. М.
Логинов, Ю. Ю.
Мозжерин, А. В.
Паклин, Н. Н.
Брилькова, А. В. \ред.\
Концепции современного естествознания : учебное пособие / Брильков А. В. - Красноярск : Сибирский федеральный университет, 2019. - 172 с. - ISBN 978-5-7638-3825-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
биология -- естествознание -- ионометрия -- математическая модель -- микроскопия -- наблюдательная астрономия -- сенсорная система -- физика -- фрактальная геометрия -- химия
Аннотация: Приведены теоретические разработки, относящиеся к следующим разделам современного естествознания: фрактальная геометрия; математическое моделирование в естествознании; методы электронной микроскопии; ионометрия; спектрофотометрический анализ; влияние электромагнитных полей на биологические объекты на молекулярном, клеточном и организменном уровнях; сенсорные системы в биологии; статическое электричество в природе и технике; гироскопические эффекты; радиоактивность; элементы наблюдательной астрономии. Предназначено для студентов социально-экономических и других гуманитарных направлений.
Доп.точки доступа:
Брильков, А. В.
Гурова, Н. Н.
Жабрун, И. В.
Зимницкая, Н. С.
Золотов, О. А.
Ленченко, В. М.
Логинов, Ю. Ю.
Мозжерин, А. В.
Паклин, Н. Н.
Брилькова, А. В. \ред.\
6.
Подробнее
Магнитно-резонансная силовая микроскопия и односпиновые измерения / Берман Г. П. - Москва, Ижевск : Регулярная и хаотическая динамика, Ижевский институт компьютерных исследований, 2019. - 204 с. - ISBN 978-5-4344-0614-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
кантилевер -- квазиклассическая теория -- квантовая теория -- силовая микроскопия -- спиновая динамика -- спиновая диффузия
Аннотация: Магнитно-резонансная силовая микроскопия (МРСМ) –– быстро развивающаяся область, которая зародилась в 1990-е годы и не так давно достигла зрелости, объявив о первой регистрации спина единичного электрона, находящегося внутри непрозрачного твердого вещества. Дальнейшее развитие методов МРСМ окажет огромное влияние на многие отрасли науки и техники, включающие физику, химию, биологию и даже медицину. Целью данной книги является описание основных принципов современной теории МРСМ и ее приложений. Особое внимание в книге уделяется методам экспериментального обнаружения спина единичного электрона с помощью адиабатических обращений, вызываемых осциллирующим кантилевером (метод OSCAR). Книга также содержит ценные экспериментальные данные, которые, несомненно, пригодятся ученым, работающим в области квантовой физики или магнитного резонанса. Даже если читатель не знаком с квантовой механикой и явлением магнитного резонанса, он сможет понять и по достоинству оценить основные принципы МРСМ.
Доп.точки доступа:
Берман, Г. П.
Боргонови, Ф.
Горшков, В. Н.
Цифринович, В. И.
Бондарева, Е. В. \пер.\
Капельницкого, С. В. \ред.\
Магнитно-резонансная силовая микроскопия и односпиновые измерения / Берман Г. П. - Москва, Ижевск : Регулярная и хаотическая динамика, Ижевский институт компьютерных исследований, 2019. - 204 с. - ISBN 978-5-4344-0614-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кантилевер -- квазиклассическая теория -- квантовая теория -- силовая микроскопия -- спиновая динамика -- спиновая диффузия
Аннотация: Магнитно-резонансная силовая микроскопия (МРСМ) –– быстро развивающаяся область, которая зародилась в 1990-е годы и не так давно достигла зрелости, объявив о первой регистрации спина единичного электрона, находящегося внутри непрозрачного твердого вещества. Дальнейшее развитие методов МРСМ окажет огромное влияние на многие отрасли науки и техники, включающие физику, химию, биологию и даже медицину. Целью данной книги является описание основных принципов современной теории МРСМ и ее приложений. Особое внимание в книге уделяется методам экспериментального обнаружения спина единичного электрона с помощью адиабатических обращений, вызываемых осциллирующим кантилевером (метод OSCAR). Книга также содержит ценные экспериментальные данные, которые, несомненно, пригодятся ученым, работающим в области квантовой физики или магнитного резонанса. Даже если читатель не знаком с квантовой механикой и явлением магнитного резонанса, он сможет понять и по достоинству оценить основные принципы МРСМ.
Доп.точки доступа:
Берман, Г. П.
Боргонови, Ф.
Горшков, В. Н.
Цифринович, В. И.
Бондарева, Е. В. \пер.\
Капельницкого, С. В. \ред.\
7.
Подробнее
Рентгенография металлов и сплавов : учебное пособие / Кузнецова Е. В. - Липецк : Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. - 184 с. - ISBN 978-5-88247-979-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 34.3
Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- металл -- рентгенография -- рентгеноструктурный анализ -- сплав
Аннотация: Учебное пособие посвящено описанию основ традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Приведены задачи по рентгеноструктурному анализу и даны типичные примеры их решения. Учебное пособие предназначено для обучающихся по направлениям 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов», 22.03.02 «Металлургия» и 28.03.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплины «Рентгенография и электронная микроскопия», «Методы контроля и анализа веществ», «Методы диагностики в нанотехнологиях».
Доп.точки доступа:
Кузнецова, Е. В.
Косинова, 0. А.
Коваленко, И. А.
Цыганов, И. А.
Рентгенография металлов и сплавов : учебное пособие / Кузнецова Е. В. - Липецк : Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. - 184 с. - ISBN 978-5-88247-979-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- металл -- рентгенография -- рентгеноструктурный анализ -- сплав
Аннотация: Учебное пособие посвящено описанию основ традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Приведены задачи по рентгеноструктурному анализу и даны типичные примеры их решения. Учебное пособие предназначено для обучающихся по направлениям 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов», 22.03.02 «Металлургия» и 28.03.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплины «Рентгенография и электронная микроскопия», «Методы контроля и анализа веществ», «Методы диагностики в нанотехнологиях».
Доп.точки доступа:
Кузнецова, Е. В.
Косинова, 0. А.
Коваленко, И. А.
Цыганов, И. А.
8.
Подробнее
Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии : монография / Моргунов Р. Б. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018. - 186 с. - ISBN 978-5-8265-1881-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.334
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовый микроскоп -- калибровочная решётка -- магнетизм -- магнитно-силовая микроскопия -- магнитный кантилевер -- метод биттера -- острие иглы -- сканируюший микроскоп -- стенка блоха
Аннотация: Изложены современные представления об исследовании поверхности твёрдых тел и органических объектов методом зондовой микроскопии. Рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии в различных режимах сканирования. Представлены возможности использования магнитно-силовой микроскопии в исследовании доменной структуры ферромагнетиков и тонких плёнок, объектов полупроводниковой спинтроники. Представляет интерес для научных сотрудников, работающих в области физики поверхности, физики твёрдого тела и магнетизма, а также для студентов и аспирантов физических и инженерных специальностей университетов при изучении спецкурсов физики наносистем.
Доп.точки доступа:
Моргунов, Р. Б.
Коплак, О. В.
Безверхний, А. И.
Дмитриев, О. С.
Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии : монография / Моргунов Р. Б. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018. - 186 с. - ISBN 978-5-8265-1881-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовый микроскоп -- калибровочная решётка -- магнетизм -- магнитно-силовая микроскопия -- магнитный кантилевер -- метод биттера -- острие иглы -- сканируюший микроскоп -- стенка блоха
Аннотация: Изложены современные представления об исследовании поверхности твёрдых тел и органических объектов методом зондовой микроскопии. Рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии в различных режимах сканирования. Представлены возможности использования магнитно-силовой микроскопии в исследовании доменной структуры ферромагнетиков и тонких плёнок, объектов полупроводниковой спинтроники. Представляет интерес для научных сотрудников, работающих в области физики поверхности, физики твёрдого тела и магнетизма, а также для студентов и аспирантов физических и инженерных специальностей университетов при изучении спецкурсов физики наносистем.
Доп.точки доступа:
Моргунов, Р. Б.
Коплак, О. В.
Безверхний, А. И.
Дмитриев, О. С.
9.
Подробнее
Кузнецова, Т. В.
Микроскопия материалов цементного производства : учебное пособие / Кузнецова Т. В. - Саратов : Вузовское образование, 2018. - 235 с. - ISBN 978-5-4487-0155-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 35.20-46
Кл.слова (ненормированные):
кристаллический продукт -- кристаллооптический метод -- микроскопия -- поляризационный микроскоп -- цементное производство
Аннотация: В книге излагается теория и практика методов исследования и определения минералов и искусственных кристаллических продуктов с помощью поляризационного микроскопа. Теория дается в объеме, необходимом для сознательного овладения методикой. Большое внимание уделено практическим вопросам. Разделы, посвященные использованию микроскопических методов, наряду с учетом достижений отечественных и зарубежных исследований, содержат описание практических разработок авторов, значительная часть которых используется в научно-исследовательской практике. Книга может применяться как руководство для специалистов, использующих кристаллооптические методы исследования, а также предназначаться в качестве учебного пособия для студентов вузов технологических специальностей.
Доп.точки доступа:
Самченко, С. В.
Кузнецова, Т. В.
Микроскопия материалов цементного производства : учебное пособие / Кузнецова Т. В. - Саратов : Вузовское образование, 2018. - 235 с. - ISBN 978-5-4487-0155-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кристаллический продукт -- кристаллооптический метод -- микроскопия -- поляризационный микроскоп -- цементное производство
Аннотация: В книге излагается теория и практика методов исследования и определения минералов и искусственных кристаллических продуктов с помощью поляризационного микроскопа. Теория дается в объеме, необходимом для сознательного овладения методикой. Большое внимание уделено практическим вопросам. Разделы, посвященные использованию микроскопических методов, наряду с учетом достижений отечественных и зарубежных исследований, содержат описание практических разработок авторов, значительная часть которых используется в научно-исследовательской практике. Книга может применяться как руководство для специалистов, использующих кристаллооптические методы исследования, а также предназначаться в качестве учебного пособия для студентов вузов технологических специальностей.
Доп.точки доступа:
Самченко, С. В.
10.
Подробнее
Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / Ищенко А. В. - Екатеринбург : Уральский федеральный университет, 2017. - 180 с. - ISBN 978-5-321-02523-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- зондовый прибор -- изображение -- наноиндентор -- поверхность -- сзм -- туннельная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены основы методов получения изображений в сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Практическая часть пособия знакомит с устройством зондовых приборов, принципами их работы и режимами настройки. Представлены примеры лабораторных практикумов для обучения основным навыкам работы с оборудованием для СЗМ и со специализированным программным обеспечением, которое позволяет проводить анализ и обработку изображений, полученных при различных режимах работы зондового микроскопа. Пособие предназначено для бакалавров, магистров и специалистов инженерно-технических и естественно-научных образовательных направлений. Учебное пособие разработано в научно-образовательном центре «Наноматериалы и нанотехнологии» УрФУ.
Доп.точки доступа:
Ищенко, А. В.
Вохминцев, А. С.
Огородников, И. И.
Вайнштейн, И. А.
Шульгина, Б. В. \ред.\
Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / Ищенко А. В. - Екатеринбург : Уральский федеральный университет, 2017. - 180 с. - ISBN 978-5-321-02523-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- зондовый прибор -- изображение -- наноиндентор -- поверхность -- сзм -- туннельная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены основы методов получения изображений в сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Практическая часть пособия знакомит с устройством зондовых приборов, принципами их работы и режимами настройки. Представлены примеры лабораторных практикумов для обучения основным навыкам работы с оборудованием для СЗМ и со специализированным программным обеспечением, которое позволяет проводить анализ и обработку изображений, полученных при различных режимах работы зондового микроскопа. Пособие предназначено для бакалавров, магистров и специалистов инженерно-технических и естественно-научных образовательных направлений. Учебное пособие разработано в научно-образовательном центре «Наноматериалы и нанотехнологии» УрФУ.
Доп.точки доступа:
Ищенко, А. В.
Вохминцев, А. С.
Огородников, И. И.
Вайнштейн, И. А.
Шульгина, Б. В. \ред.\
Page 1, Results: 26