Choice of metadata IPR SMART
Page 3, Results: 26
Report on unfulfilled requests: 0
21.
Подробнее
Артамонова, О. В.
Инструментальные методы исследования неорганических систем твердения : учебное пособие / Артамонова О. В. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 112 с. - ISBN 978-5-9729-1931-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 24.1
Кл.слова (ненормированные):
лазерная дифракция -- микроскопия -- наноразмерная система -- наночастица -- неорганическая система -- система твердения
Аннотация: Представлены теоретические основы некоторых инструментальных методов исследования наноразмерных систем и неорганических систем твердения. Рассмотрены вопросы применения метода лазерной дифракции для установления формы и распределения наночастиц по размерам, а также методы порошковой рентгеновской дифракции, электронной зондовой и растровой микроскопии для изучения фазового состава и параметров микроструктуры неорганических систем твердения. По каждой теме представлены практические работы, а также вопросы для самостоятельной подготовки. Предназначено для бакалавров, обучающихся по направлению 18.03.01 «Химическая технология», 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов», аспирантов, обучающихся по направлению 08.06.01 «Техника и технологии строительства». Может быть полезно студентам химических, инженерных и технических специальностей при изучении дисциплины «Физико-химические методы анализа», «Инструментальные методы анализа».
Доп.точки доступа:
Шведова, М. А.
Артамонова, О. В.
Инструментальные методы исследования неорганических систем твердения : учебное пособие / Артамонова О. В. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 112 с. - ISBN 978-5-9729-1931-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
лазерная дифракция -- микроскопия -- наноразмерная система -- наночастица -- неорганическая система -- система твердения
Аннотация: Представлены теоретические основы некоторых инструментальных методов исследования наноразмерных систем и неорганических систем твердения. Рассмотрены вопросы применения метода лазерной дифракции для установления формы и распределения наночастиц по размерам, а также методы порошковой рентгеновской дифракции, электронной зондовой и растровой микроскопии для изучения фазового состава и параметров микроструктуры неорганических систем твердения. По каждой теме представлены практические работы, а также вопросы для самостоятельной подготовки. Предназначено для бакалавров, обучающихся по направлению 18.03.01 «Химическая технология», 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов», аспирантов, обучающихся по направлению 08.06.01 «Техника и технологии строительства». Может быть полезно студентам химических, инженерных и технических специальностей при изучении дисциплины «Физико-химические методы анализа», «Инструментальные методы анализа».
Доп.точки доступа:
Шведова, М. А.
22.
Подробнее
Бахматов, П. В.
Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 148 с. - ISBN 978-5-9729-2061-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 34.641
Кл.слова (ненормированные):
порообразование -- растровая микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- рэм -- сварное соединение -- сварочная проволока -- фрактография -- электронная микроскопия
Аннотация: Приведены сведения об основах и принципах проведения растровой электронной микроскопии. Описаны основные функциональные возможности Hitachi 3400N. Показаны результаты научных исследований в решении инженерных задач с применением растрового электронного микроскопа: качественный анализ распределения легирующих элементов как по плоскости сканируемого образца, так и по заданному направлению, фрактография, диффузионные слои в сварных соединениях, изучение поверхности свариваемых кромок и сварочной проволоки, причин порообразования в металле шва и другое. Включены как обобщение многочисленных публикаций в отечественной и зарубежной специализированной литературе, так и собственные исследования авторов. Для студентов, магистров, аспирантов технических университетов и институтов, а также специалистов НИИ, КБ, предприятий авиационно-космического комплекса. Материалы книги могут служить основой для разработки технологических рекомендаций, стандартов, определяющих содержание учебных планов, учебно-методических пособий, для профессиональной подготовки инженерных и научных кадров.
Доп.точки доступа:
Григорьев, В. В.
Калугина, А. А.
Бахматов, П. В.
Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 148 с. - ISBN 978-5-9729-2061-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
порообразование -- растровая микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- рэм -- сварное соединение -- сварочная проволока -- фрактография -- электронная микроскопия
Аннотация: Приведены сведения об основах и принципах проведения растровой электронной микроскопии. Описаны основные функциональные возможности Hitachi 3400N. Показаны результаты научных исследований в решении инженерных задач с применением растрового электронного микроскопа: качественный анализ распределения легирующих элементов как по плоскости сканируемого образца, так и по заданному направлению, фрактография, диффузионные слои в сварных соединениях, изучение поверхности свариваемых кромок и сварочной проволоки, причин порообразования в металле шва и другое. Включены как обобщение многочисленных публикаций в отечественной и зарубежной специализированной литературе, так и собственные исследования авторов. Для студентов, магистров, аспирантов технических университетов и институтов, а также специалистов НИИ, КБ, предприятий авиационно-космического комплекса. Материалы книги могут служить основой для разработки технологических рекомендаций, стандартов, определяющих содержание учебных планов, учебно-методических пособий, для профессиональной подготовки инженерных и научных кадров.
Доп.точки доступа:
Григорьев, В. В.
Калугина, А. А.
23.
Подробнее
Казаков, В. Д.
Сканирующие зондовые микроскопы : справочник / Казаков В. Д. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 108 с. - ISBN 978-5-9729-1731-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.33
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовые микроскопы -- зонды мрсм -- электронный микроскоп
Аннотация: Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях. Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим нано-устройства.
Казаков, В. Д.
Сканирующие зондовые микроскопы : справочник / Казаков В. Д. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 108 с. - ISBN 978-5-9729-1731-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовые микроскопы -- зонды мрсм -- электронный микроскоп
Аннотация: Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях. Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим нано-устройства.
24.
Подробнее
Юдакова, О. И.
Методы микроскопического анализа в ботанике : учебно-методическое пособие для студентов биологического факультета, обучающихся по направлению подготовки бакалавриата 06.03.01 Биология / Юдакова О. И. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2023. - 60 с. - ISBN 978-5-292-04839-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 28.0
Кл.слова (ненормированные):
биология -- ботаника -- вегетативный орган -- генеративный орган -- кариологический анализ -- микроскопический анализ -- микроскопия -- растение
Аннотация: В пособии приводятся общие сведения об истории развития микроскопии, типах микроскопов, устройстве современных световых микроскопов и правилах работы с ними. Подробно изложены методики приготовления микроскопических препаратов для проведения кариологического анализа растений и изучения структуры и развития их вегетативных и генеративных органов на тканевом, клеточном и субклеточном уровнях. Описаны рецептуры приготовления наиболее часто используемых фиксаторов и красителей. Для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавриата 06.03.01 Биология, аспирантов и преподавателей.
Юдакова, О. И.
Методы микроскопического анализа в ботанике : учебно-методическое пособие для студентов биологического факультета, обучающихся по направлению подготовки бакалавриата 06.03.01 Биология / Юдакова О. И. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2023. - 60 с. - ISBN 978-5-292-04839-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
биология -- ботаника -- вегетативный орган -- генеративный орган -- кариологический анализ -- микроскопический анализ -- микроскопия -- растение
Аннотация: В пособии приводятся общие сведения об истории развития микроскопии, типах микроскопов, устройстве современных световых микроскопов и правилах работы с ними. Подробно изложены методики приготовления микроскопических препаратов для проведения кариологического анализа растений и изучения структуры и развития их вегетативных и генеративных органов на тканевом, клеточном и субклеточном уровнях. Описаны рецептуры приготовления наиболее часто используемых фиксаторов и красителей. Для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавриата 06.03.01 Биология, аспирантов и преподавателей.
25.
Подробнее
Оборудование для производства наногетероструктурных солнечных элементов : лабораторный практикум / Лебедев А. А. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2023. - 166 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.85
Кл.слова (ненормированные):
оптическая микроскопия -- технологические дефекты -- фотоэлектрические преобразователи
Аннотация: В лабораторном практикуме рассматриваются методики характеризации каскадных фотоэлектрических преобразователей энергии (солнечных элементов) на основе материалов АIIIBV/Ge, позволяющие учитывать их особенности и нашедшие применение при разработке, отладке технологии и непосредственно при производстве таких приборов для использования их в составе солнечных батарей космических аппаратов. Практикум включает три раздела, в которых представлены методики характеризации фотоэлектрических преобразователей и их структурных частей по электрическим, оптическим параметрам, а также методы выявления технологических дефектов. Теоретическое введение, предшествующее каждой из практических частей практикума, позволяет получить минимально необходимые знания как по фундаментальным вопросам физики полупроводников, источников оптического излучения, так и по прикладным вопросам работы полупроводниковых приборов и технологическим аспектам их создания и др. В практической части рассмотрены методики характеризации фотоэлектрических преобразователей с помощью импульсного имитатора внеатмосферного солнечного излучения, установки измерения внешнего кантового выхода фотоотклика, установки измерения электролюминесценции, эллипсометра, спектрофотометра, оптического микроскопа. Методики характеризации эпитаксиальных слоев и композиций из них рассмотрены в первой части практикума (№ 3504). Предназначен для обучающихся в магистратуре по направлению подготовки 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника» (трек «Перспективные полупроводниковые оптоэлектронные приборы»).
Доп.точки доступа:
Лебедев, А. А.
Рябцева, М. В.
Бадурин, И. В.
Чуянова, Е. С.
Логинова, Е. С.
Генали, М. А
Вагапова, Н. Т.
Оборудование для производства наногетероструктурных солнечных элементов : лабораторный практикум / Лебедев А. А. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2023. - 166 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
оптическая микроскопия -- технологические дефекты -- фотоэлектрические преобразователи
Аннотация: В лабораторном практикуме рассматриваются методики характеризации каскадных фотоэлектрических преобразователей энергии (солнечных элементов) на основе материалов АIIIBV/Ge, позволяющие учитывать их особенности и нашедшие применение при разработке, отладке технологии и непосредственно при производстве таких приборов для использования их в составе солнечных батарей космических аппаратов. Практикум включает три раздела, в которых представлены методики характеризации фотоэлектрических преобразователей и их структурных частей по электрическим, оптическим параметрам, а также методы выявления технологических дефектов. Теоретическое введение, предшествующее каждой из практических частей практикума, позволяет получить минимально необходимые знания как по фундаментальным вопросам физики полупроводников, источников оптического излучения, так и по прикладным вопросам работы полупроводниковых приборов и технологическим аспектам их создания и др. В практической части рассмотрены методики характеризации фотоэлектрических преобразователей с помощью импульсного имитатора внеатмосферного солнечного излучения, установки измерения внешнего кантового выхода фотоотклика, установки измерения электролюминесценции, эллипсометра, спектрофотометра, оптического микроскопа. Методики характеризации эпитаксиальных слоев и композиций из них рассмотрены в первой части практикума (№ 3504). Предназначен для обучающихся в магистратуре по направлению подготовки 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника» (трек «Перспективные полупроводниковые оптоэлектронные приборы»).
Доп.точки доступа:
Лебедев, А. А.
Рябцева, М. В.
Бадурин, И. В.
Чуянова, Е. С.
Логинова, Е. С.
Генали, М. А
Вагапова, Н. Т.
26.
Подробнее
Малютина, Е. С.
Оценка качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии : методические указания / Малютина Е. С. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2020. - 43 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 34.1
Кл.слова (ненормированные):
микроскоп -- микроскопия -- микроструктура -- сплавы
Аннотация: Содержат набор заданий и методических рекомендаций по их выполнению. Задания направлены на выполнение инженерной исследовательской работы по контролю качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии. Слушатели элективного курса «Оценка качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии» научатся настраивать микроскоп и фокусировать изображения в режиме «Светлое поле», самостоятельно приготовят объекты исследования микроструктуры для светового и сканирующего электронного микроскопа; изучат и идентифицируют микроструктуру различных сплавов на основе железа, используя электронную базу данных «Микроструктура» кафедры Физического материаловедения НИТУ «МИСиС», определят дефектные структуры стали и технического железа. При анализе структурных составляющих сплавов будут использованы оцифрованные изображения, полученные как с помощью световой, так и с помощью сканирующей электронной микроскопии. Поскольку все механические и почти все физические свойства сплавов зависят от микроструктуры, слушатели научатся определять количественные параметры микроструктуры различными методами. Количественному анализу будут подвергнуты как однофазные, так и многофазные объекты. Выполнив предложенные проекты, обучаемые углубят свои знания в области строения сплавов на основе железа, контроля и определения их свойств в соответствии с ГОСТами. Предназначены для учеников московских школ, которые проходят обучение на элективных курсах в рамках городского образовательного проекта «Инженерный класс в московской школе».
Малютина, Е. С.
Оценка качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии : методические указания / Малютина Е. С. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2020. - 43 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
микроскоп -- микроскопия -- микроструктура -- сплавы
Аннотация: Содержат набор заданий и методических рекомендаций по их выполнению. Задания направлены на выполнение инженерной исследовательской работы по контролю качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии. Слушатели элективного курса «Оценка качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии» научатся настраивать микроскоп и фокусировать изображения в режиме «Светлое поле», самостоятельно приготовят объекты исследования микроструктуры для светового и сканирующего электронного микроскопа; изучат и идентифицируют микроструктуру различных сплавов на основе железа, используя электронную базу данных «Микроструктура» кафедры Физического материаловедения НИТУ «МИСиС», определят дефектные структуры стали и технического железа. При анализе структурных составляющих сплавов будут использованы оцифрованные изображения, полученные как с помощью световой, так и с помощью сканирующей электронной микроскопии. Поскольку все механические и почти все физические свойства сплавов зависят от микроструктуры, слушатели научатся определять количественные параметры микроструктуры различными методами. Количественному анализу будут подвергнуты как однофазные, так и многофазные объекты. Выполнив предложенные проекты, обучаемые углубят свои знания в области строения сплавов на основе железа, контроля и определения их свойств в соответствии с ГОСТами. Предназначены для учеников московских школ, которые проходят обучение на элективных курсах в рамках городского образовательного проекта «Инженерный класс в московской школе».
Page 3, Results: 26