Choice of metadata IPR SMART
Page 9, Results: 89
Report on unfulfilled requests: 0
81.
Подробнее
Фирстов, А. П.
Атлас структурных образований : учебно-методическое пособие / Фирстов А. П. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2023. - 200 с. - ISBN 978-5-9729-1443-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 34.6
Кл.слова (ненормированные):
атлас -- изготовление микрошлифов -- магний -- сплавы -- структурные образования -- титан
Аннотация: Содержит классификацию, краткое описание структур и фотографии шлифов основных сплавов черных и цветных металлов. Рассматривается оборудование для микроскопического метода исследования металлов и изготовления шлифов. Для студентов технических вузов для практических занятий, для курсового и дипломного проектирования.
Доп.точки доступа:
Фирстова, Н. Д.
Фирстов, А. П.
Атлас структурных образований : учебно-методическое пособие / Фирстов А. П. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2023. - 200 с. - ISBN 978-5-9729-1443-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
атлас -- изготовление микрошлифов -- магний -- сплавы -- структурные образования -- титан
Аннотация: Содержит классификацию, краткое описание структур и фотографии шлифов основных сплавов черных и цветных металлов. Рассматривается оборудование для микроскопического метода исследования металлов и изготовления шлифов. Для студентов технических вузов для практических занятий, для курсового и дипломного проектирования.
Доп.точки доступа:
Фирстова, Н. Д.
82.
Подробнее
Материаловедение. Ч.1 : лабораторный практикум / Медведева С. В. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2023. - 122 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.3
Кл.слова (ненормированные):
количественная металлография -- материаловедение -- свойства сплавов -- термическая обработка
Аннотация: Лабораторный практикум содержит пять лабораторных работ по основным темам курса «Материаловедение», в результате выполнения которых студенты получат навыки практической работы на металлографическом микроскопе, твердомерах, разрывной испытательной машине, а также научатся проводить термическую обработку сталей, готовить образцы для металлографического анализа и т.д. Практикум позволяет полностью обеспечить студентов необходимой информацией для выполнения лабораторных работ, предусмотренных учебной программой курса. Предназначен для студентов, обучающихся по направлению 22.03.02 «Металлургия».
Доп.точки доступа:
Медведева, С. В.
Барков, Р. Ю.
Мамзурина, О. И.
Яковцева, О. А.
Материаловедение. Ч.1 : лабораторный практикум / Медведева С. В. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2023. - 122 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
количественная металлография -- материаловедение -- свойства сплавов -- термическая обработка
Аннотация: Лабораторный практикум содержит пять лабораторных работ по основным темам курса «Материаловедение», в результате выполнения которых студенты получат навыки практической работы на металлографическом микроскопе, твердомерах, разрывной испытательной машине, а также научатся проводить термическую обработку сталей, готовить образцы для металлографического анализа и т.д. Практикум позволяет полностью обеспечить студентов необходимой информацией для выполнения лабораторных работ, предусмотренных учебной программой курса. Предназначен для студентов, обучающихся по направлению 22.03.02 «Металлургия».
Доп.точки доступа:
Медведева, С. В.
Барков, Р. Ю.
Мамзурина, О. И.
Яковцева, О. А.
83.
Подробнее
Методы диагностики и анализа наносистем : учебное пособие (лабораторный практикум) / сост.: И. М. Шевченко, М. А. Ясная. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2023. - 186 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.383
Кл.слова (ненормированные):
анализ -- диагностика -- зондовый микроскоп -- количественный анализ -- наноинженерия -- наносистема -- наносистема -- спектрофотометр
Аннотация: Пособие составлено в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++) в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой дисциплины «Методы диагностики и анализа наносистем»; в нем представлены лабораторные работы, содержащие краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, рекомендуемую литературу. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности».
Доп.точки доступа:
Шевченко, И. М. \сост.\
Ясная, М. А. \сост.\
Методы диагностики и анализа наносистем : учебное пособие (лабораторный практикум) / сост.: И. М. Шевченко, М. А. Ясная. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2023. - 186 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
анализ -- диагностика -- зондовый микроскоп -- количественный анализ -- наноинженерия -- наносистема -- наносистема -- спектрофотометр
Аннотация: Пособие составлено в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++) в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой дисциплины «Методы диагностики и анализа наносистем»; в нем представлены лабораторные работы, содержащие краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, рекомендуемую литературу. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности».
Доп.точки доступа:
Шевченко, И. М. \сост.\
Ясная, М. А. \сост.\
84.
Подробнее
Юдакова, О. И.
Методы микроскопического анализа в ботанике : учебно-методическое пособие для студентов биологического факультета, обучающихся по направлению подготовки бакалавриата 06.03.01 Биология / Юдакова О. И. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2023. - 60 с. - ISBN 978-5-292-04839-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 28.0
Кл.слова (ненормированные):
биология -- ботаника -- вегетативный орган -- генеративный орган -- кариологический анализ -- микроскопический анализ -- микроскопия -- растение
Аннотация: В пособии приводятся общие сведения об истории развития микроскопии, типах микроскопов, устройстве современных световых микроскопов и правилах работы с ними. Подробно изложены методики приготовления микроскопических препаратов для проведения кариологического анализа растений и изучения структуры и развития их вегетативных и генеративных органов на тканевом, клеточном и субклеточном уровнях. Описаны рецептуры приготовления наиболее часто используемых фиксаторов и красителей. Для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавриата 06.03.01 Биология, аспирантов и преподавателей.
Юдакова, О. И.
Методы микроскопического анализа в ботанике : учебно-методическое пособие для студентов биологического факультета, обучающихся по направлению подготовки бакалавриата 06.03.01 Биология / Юдакова О. И. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2023. - 60 с. - ISBN 978-5-292-04839-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
биология -- ботаника -- вегетативный орган -- генеративный орган -- кариологический анализ -- микроскопический анализ -- микроскопия -- растение
Аннотация: В пособии приводятся общие сведения об истории развития микроскопии, типах микроскопов, устройстве современных световых микроскопов и правилах работы с ними. Подробно изложены методики приготовления микроскопических препаратов для проведения кариологического анализа растений и изучения структуры и развития их вегетативных и генеративных органов на тканевом, клеточном и субклеточном уровнях. Описаны рецептуры приготовления наиболее часто используемых фиксаторов и красителей. Для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавриата 06.03.01 Биология, аспирантов и преподавателей.
85.
Подробнее
Оборудование для производства наногетероструктурных солнечных элементов : лабораторный практикум / Лебедев А. А. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2023. - 166 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.85
Кл.слова (ненормированные):
оптическая микроскопия -- технологические дефекты -- фотоэлектрические преобразователи
Аннотация: В лабораторном практикуме рассматриваются методики характеризации каскадных фотоэлектрических преобразователей энергии (солнечных элементов) на основе материалов АIIIBV/Ge, позволяющие учитывать их особенности и нашедшие применение при разработке, отладке технологии и непосредственно при производстве таких приборов для использования их в составе солнечных батарей космических аппаратов. Практикум включает три раздела, в которых представлены методики характеризации фотоэлектрических преобразователей и их структурных частей по электрическим, оптическим параметрам, а также методы выявления технологических дефектов. Теоретическое введение, предшествующее каждой из практических частей практикума, позволяет получить минимально необходимые знания как по фундаментальным вопросам физики полупроводников, источников оптического излучения, так и по прикладным вопросам работы полупроводниковых приборов и технологическим аспектам их создания и др. В практической части рассмотрены методики характеризации фотоэлектрических преобразователей с помощью импульсного имитатора внеатмосферного солнечного излучения, установки измерения внешнего кантового выхода фотоотклика, установки измерения электролюминесценции, эллипсометра, спектрофотометра, оптического микроскопа. Методики характеризации эпитаксиальных слоев и композиций из них рассмотрены в первой части практикума (№ 3504). Предназначен для обучающихся в магистратуре по направлению подготовки 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника» (трек «Перспективные полупроводниковые оптоэлектронные приборы»).
Доп.точки доступа:
Лебедев, А. А.
Рябцева, М. В.
Бадурин, И. В.
Чуянова, Е. С.
Логинова, Е. С.
Генали, М. А
Вагапова, Н. Т.
Оборудование для производства наногетероструктурных солнечных элементов : лабораторный практикум / Лебедев А. А. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2023. - 166 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
оптическая микроскопия -- технологические дефекты -- фотоэлектрические преобразователи
Аннотация: В лабораторном практикуме рассматриваются методики характеризации каскадных фотоэлектрических преобразователей энергии (солнечных элементов) на основе материалов АIIIBV/Ge, позволяющие учитывать их особенности и нашедшие применение при разработке, отладке технологии и непосредственно при производстве таких приборов для использования их в составе солнечных батарей космических аппаратов. Практикум включает три раздела, в которых представлены методики характеризации фотоэлектрических преобразователей и их структурных частей по электрическим, оптическим параметрам, а также методы выявления технологических дефектов. Теоретическое введение, предшествующее каждой из практических частей практикума, позволяет получить минимально необходимые знания как по фундаментальным вопросам физики полупроводников, источников оптического излучения, так и по прикладным вопросам работы полупроводниковых приборов и технологическим аспектам их создания и др. В практической части рассмотрены методики характеризации фотоэлектрических преобразователей с помощью импульсного имитатора внеатмосферного солнечного излучения, установки измерения внешнего кантового выхода фотоотклика, установки измерения электролюминесценции, эллипсометра, спектрофотометра, оптического микроскопа. Методики характеризации эпитаксиальных слоев и композиций из них рассмотрены в первой части практикума (№ 3504). Предназначен для обучающихся в магистратуре по направлению подготовки 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника» (трек «Перспективные полупроводниковые оптоэлектронные приборы»).
Доп.точки доступа:
Лебедев, А. А.
Рябцева, М. В.
Бадурин, И. В.
Чуянова, Е. С.
Логинова, Е. С.
Генали, М. А
Вагапова, Н. Т.
86.
Подробнее
Методы исследования наноматериалов и наносистем : лабораторный практикум / сост.: И. М. Шевченко, М. А. Ясная. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2022. - 174 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.383
Кл.слова (ненормированные):
зондовый микроскоп -- изображение -- исследование -- наноинженерия -- наноматериал -- наноматериалы -- наносистема -- нанотехнологии
Аннотация: Практикум составлен в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++), в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой. В нем представлены лабораторные работы, содержащие краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, рекомендуемую литературу. Предназначен для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Нанотехнологии и наноматериалы».
Доп.точки доступа:
Шевченко, И. М. \сост.\
Ясная, М. А. \сост.\
Методы исследования наноматериалов и наносистем : лабораторный практикум / сост.: И. М. Шевченко, М. А. Ясная. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2022. - 174 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
зондовый микроскоп -- изображение -- исследование -- наноинженерия -- наноматериал -- наноматериалы -- наносистема -- нанотехнологии
Аннотация: Практикум составлен в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++), в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой. В нем представлены лабораторные работы, содержащие краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, рекомендуемую литературу. Предназначен для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Нанотехнологии и наноматериалы».
Доп.точки доступа:
Шевченко, И. М. \сост.\
Ясная, М. А. \сост.\
87.
Подробнее
Малютина, Е. С.
Фазовые равновесия и структурообразование. Диаграмма фазового равновесия Fe-C : сборник задач / Малютина Е. С. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2022. - 77 с. - ISBN 978-5-907560-08-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 34.2
Кл.слова (ненормированные):
горячая деформация -- диаграмма -- железо-графит -- железо-цементит -- литье -- микроструктура -- обработка -- отжиг -- сталь -- структурообразование -- фазовое равновесие -- чугун
Аннотация: В пособии приведены задачи для анализа фазовых и структурных превращений первого и второго рода в сталях и чугунах с использованием диаграмм фазового равновесия железо-цементит и железо-графит. В задачнике использованы оцифрованные изображения микроструктур сталей и чугунов после различных обработок (отжига, литья, горячей деформации, сфероидизирующего и графитизирующего отжига). Каждая задача представлена не менее чем в 33 вариантах. Для идентификации микроструктур в задачнике впервые использованы оцифрованные изображения микроструктуры, полученные с помощью сканирующего электронного микроскопа. Настоящий задачник предназначен для бакалавров, обучающихся по направлениям подготовки 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов», профили «Физическое материаловедение», «Металловедение и термическая обработка металлов», «Физико-химия процессов и материалов»; 03.03.02 «Физика», профиль «Физика конденсированного состояния»; 28.03.03 «Наноматериалы», профиль «Композиционные наноматериалы».
Малютина, Е. С.
Фазовые равновесия и структурообразование. Диаграмма фазового равновесия Fe-C : сборник задач / Малютина Е. С. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2022. - 77 с. - ISBN 978-5-907560-08-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
горячая деформация -- диаграмма -- железо-графит -- железо-цементит -- литье -- микроструктура -- обработка -- отжиг -- сталь -- структурообразование -- фазовое равновесие -- чугун
Аннотация: В пособии приведены задачи для анализа фазовых и структурных превращений первого и второго рода в сталях и чугунах с использованием диаграмм фазового равновесия железо-цементит и железо-графит. В задачнике использованы оцифрованные изображения микроструктур сталей и чугунов после различных обработок (отжига, литья, горячей деформации, сфероидизирующего и графитизирующего отжига). Каждая задача представлена не менее чем в 33 вариантах. Для идентификации микроструктур в задачнике впервые использованы оцифрованные изображения микроструктуры, полученные с помощью сканирующего электронного микроскопа. Настоящий задачник предназначен для бакалавров, обучающихся по направлениям подготовки 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов», профили «Физическое материаловедение», «Металловедение и термическая обработка металлов», «Физико-химия процессов и материалов»; 03.03.02 «Физика», профиль «Физика конденсированного состояния»; 28.03.03 «Наноматериалы», профиль «Композиционные наноматериалы».
88.
Подробнее
Малютина, Е. С.
Оценка качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии : методические указания / Малютина Е. С. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2020. - 43 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 34.1
Кл.слова (ненормированные):
микроскоп -- микроскопия -- микроструктура -- сплавы
Аннотация: Содержат набор заданий и методических рекомендаций по их выполнению. Задания направлены на выполнение инженерной исследовательской работы по контролю качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии. Слушатели элективного курса «Оценка качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии» научатся настраивать микроскоп и фокусировать изображения в режиме «Светлое поле», самостоятельно приготовят объекты исследования микроструктуры для светового и сканирующего электронного микроскопа; изучат и идентифицируют микроструктуру различных сплавов на основе железа, используя электронную базу данных «Микроструктура» кафедры Физического материаловедения НИТУ «МИСиС», определят дефектные структуры стали и технического железа. При анализе структурных составляющих сплавов будут использованы оцифрованные изображения, полученные как с помощью световой, так и с помощью сканирующей электронной микроскопии. Поскольку все механические и почти все физические свойства сплавов зависят от микроструктуры, слушатели научатся определять количественные параметры микроструктуры различными методами. Количественному анализу будут подвергнуты как однофазные, так и многофазные объекты. Выполнив предложенные проекты, обучаемые углубят свои знания в области строения сплавов на основе железа, контроля и определения их свойств в соответствии с ГОСТами. Предназначены для учеников московских школ, которые проходят обучение на элективных курсах в рамках городского образовательного проекта «Инженерный класс в московской школе».
Малютина, Е. С.
Оценка качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии : методические указания / Малютина Е. С. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2020. - 43 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
микроскоп -- микроскопия -- микроструктура -- сплавы
Аннотация: Содержат набор заданий и методических рекомендаций по их выполнению. Задания направлены на выполнение инженерной исследовательской работы по контролю качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии. Слушатели элективного курса «Оценка качества сплавов на основе железа с помощью цифровой микроскопии» научатся настраивать микроскоп и фокусировать изображения в режиме «Светлое поле», самостоятельно приготовят объекты исследования микроструктуры для светового и сканирующего электронного микроскопа; изучат и идентифицируют микроструктуру различных сплавов на основе железа, используя электронную базу данных «Микроструктура» кафедры Физического материаловедения НИТУ «МИСиС», определят дефектные структуры стали и технического железа. При анализе структурных составляющих сплавов будут использованы оцифрованные изображения, полученные как с помощью световой, так и с помощью сканирующей электронной микроскопии. Поскольку все механические и почти все физические свойства сплавов зависят от микроструктуры, слушатели научатся определять количественные параметры микроструктуры различными методами. Количественному анализу будут подвергнуты как однофазные, так и многофазные объекты. Выполнив предложенные проекты, обучаемые углубят свои знания в области строения сплавов на основе железа, контроля и определения их свойств в соответствии с ГОСТами. Предназначены для учеников московских школ, которые проходят обучение на элективных курсах в рамках городского образовательного проекта «Инженерный класс в московской школе».
89.
Подробнее
Агапов, Н. А.
Разработка оптической схемы и несущих механических узлов микроскопа : учебно-методическое пособие / Агапов Н. А. - Томск : Томский политехнический университет, 2020. - 116 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 34.964
Кл.слова (ненормированные):
механический узел -- микроскоп -- несущие узлы -- объектив -- окуляр -- оптика -- оптическая схема -- оптотехника
Аннотация: В пособии подробно описана методика расчета оптической схемы микроскопа: габаритный расчет, аберрационный расчет конструктивных параметров объектива, расчет аберраций объектива и окуляра, разрешающей способности микроскопа в пространстве предметов и изображений. Рассматриваются вопросы, связанные с конструированием основных оптических и механических узлов микроскопа. Все стадии расчета проиллюстрированы рисунками, скриншотами файлов данных. Для выполнения расчетов на ПК используется учебная программа «Оптика». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 12.04.02 «Оптотехника».
Доп.точки доступа:
Валиев, Д. Т.
Россомахина, Н. Е.
Агапов, Н. А.
Разработка оптической схемы и несущих механических узлов микроскопа : учебно-методическое пособие / Агапов Н. А. - Томск : Томский политехнический университет, 2020. - 116 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
механический узел -- микроскоп -- несущие узлы -- объектив -- окуляр -- оптика -- оптическая схема -- оптотехника
Аннотация: В пособии подробно описана методика расчета оптической схемы микроскопа: габаритный расчет, аберрационный расчет конструктивных параметров объектива, расчет аберраций объектива и окуляра, разрешающей способности микроскопа в пространстве предметов и изображений. Рассматриваются вопросы, связанные с конструированием основных оптических и механических узлов микроскопа. Все стадии расчета проиллюстрированы рисунками, скриншотами файлов данных. Для выполнения расчетов на ПК используется учебная программа «Оптика». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 12.04.02 «Оптотехника».
Доп.точки доступа:
Валиев, Д. Т.
Россомахина, Н. Е.
Page 9, Results: 89