Digital catalogue


 

Choice of metadata IPR SMART

Page 1, Results: 146

Report on unfulfilled requests: 0

45105

    Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А. - 2014. - 227 с. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- микроэлектронный материал -- наноэлектронный материал -- электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».

Доп.точки доступа:
Филимонова, Н. И.

Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А., 2014. - 227 с.

1.

Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А., 2014. - 227 с.


45105

    Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А. - 2014. - 227 с. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- микроэлектронный материал -- наноэлектронный материал -- электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».

Доп.точки доступа:
Филимонова, Н. И.

99117

    Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 2. Система автоматизированного проектирования «Ковчег 3.04» : практическое пособие. - [Б. м.] : Техносфера, 2019 - .Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 2. Система автоматизированного проектирования «Ковчег 3.04» / Гаврилов С. В. - 2019. - 308 с. - ISBN 978-5-94836-443-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 31.2

Кл.слова (ненормированные):
полузаказные БИС -- конструкции БМК -- редактор схем -- расчет задержек -- контроль топологии
Аннотация: Это вторая книга серии практических пособий из четырех книг под общим названием «Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507», посвященной общим сведениям о базовых матричных кристаллах, вопросам методологии проектирования БИС на их основе, средствам проектирования и библиотекам функциональных ячеек. Книга содержит описание системы автоматизированного проектирования «Ковчег 3.04», используемой при разработке специализированных КМОП микросхем на основе базовых матричных кристаллов серий 5503 и 5507, нашедших широкое применение в радиоэлектронной аппаратуре различного назначения. Детально описаны все подсистемы САПР, реализующие полный цикл проектирования микросхем от разработки логического проекта до подготовки БИС к производству. Книга предназначена для разработчиков радиоэлектронной аппаратуры, а также для преподавателей, аспирантов и студентов старших курсов, изучающих современные методы проектирования специализированных БИС.

Доп.точки доступа:
Гаврилов, С. В.
Денисов, А. Н.
Коняхин, В. В.
Соколовская, М. М.
Саурова, А. Н. \ред.\

Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 2. Система автоматизированного проектирования «Ковчег 3.04» [Электронный ресурс] : Практическое пособие. Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 2. Система автоматизированного проектирования «Ковчег 3.04» / Гаврилов С. В., 2019. - 308 с.

2.

Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 2. Система автоматизированного проектирования «Ковчег 3.04» [Электронный ресурс] : Практическое пособие. Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 2. Система автоматизированного проектирования «Ковчег 3.04» / Гаврилов С. В., 2019. - 308 с.


99117

    Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 2. Система автоматизированного проектирования «Ковчег 3.04» : практическое пособие. - [Б. м.] : Техносфера, 2019 - .Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 2. Система автоматизированного проектирования «Ковчег 3.04» / Гаврилов С. В. - 2019. - 308 с. - ISBN 978-5-94836-443-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 31.2

Кл.слова (ненормированные):
полузаказные БИС -- конструкции БМК -- редактор схем -- расчет задержек -- контроль топологии
Аннотация: Это вторая книга серии практических пособий из четырех книг под общим названием «Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507», посвященной общим сведениям о базовых матричных кристаллах, вопросам методологии проектирования БИС на их основе, средствам проектирования и библиотекам функциональных ячеек. Книга содержит описание системы автоматизированного проектирования «Ковчег 3.04», используемой при разработке специализированных КМОП микросхем на основе базовых матричных кристаллов серий 5503 и 5507, нашедших широкое применение в радиоэлектронной аппаратуре различного назначения. Детально описаны все подсистемы САПР, реализующие полный цикл проектирования микросхем от разработки логического проекта до подготовки БИС к производству. Книга предназначена для разработчиков радиоэлектронной аппаратуры, а также для преподавателей, аспирантов и студентов старших курсов, изучающих современные методы проектирования специализированных БИС.

Доп.точки доступа:
Гаврилов, С. В.
Денисов, А. Н.
Коняхин, В. В.
Соколовская, М. М.
Саурова, А. Н. \ред.\

99107

    Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 3. Библиотека функциональных ячеек для проектирования самосинхронных полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 : практическое пособие. - [Б. м.] : Техносфера, 2019 - .Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 3. Библиотека функциональных ячеек для проектирования самосинхронных полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 / Денисов А. Н. - 2019. - 316 с. - ISBN 978-5-94836-440-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 31.2

Кл.слова (ненормированные):
полузаказные БИС -- конструкции БМК -- триггеры Шмитта -- инверторы -- назначение ячейки
Аннотация: Это третья книга серии практических пособий из четырех книг под общим названием «Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507», посвященных общим сведениям о базовых матричных кристаллах, вопросам методологии проектирования БИС на их основе, средствам проектирования и библиотекам ячеек полузаказных микросхем серий 5503 и 5507. Книга содержит описание унифицированной библиотеки функциональных ячеек, предназначенной для проектирования средствами САПР «Ковчег» различных специализированных микросхем на основе базовых матричных кристаллов серий 5503 и 5507. Книга предназначена для разработчиков радиоэлектронной аппаратуры, а также для преподавателей, аспирантов и студентов старших курсов, изучающих современные методы проектирования специализированных БИС.

Доп.точки доступа:
Денисов, А. Н.
Фомин, Ю. П.
Коняхин, В. В.
Федоров, Р. А.
Саурова, А. Н. \ред.\

Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 3. Библиотека функциональных ячеек для проектирования самосинхронных полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 [Электронный ресурс] : Практическое пособие. Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 3. Библиотека функциональных ячеек для проектирования самосинхронных полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 / Денисов А. Н., 2019. - 316 с.

3.

Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 3. Библиотека функциональных ячеек для проектирования самосинхронных полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 [Электронный ресурс] : Практическое пособие. Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 3. Библиотека функциональных ячеек для проектирования самосинхронных полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 / Денисов А. Н., 2019. - 316 с.


99107

    Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 3. Библиотека функциональных ячеек для проектирования самосинхронных полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 : практическое пособие. - [Б. м.] : Техносфера, 2019 - .Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507. В 4 книгах. Книга 3. Библиотека функциональных ячеек для проектирования самосинхронных полузаказных микросхем серий 5503 и 5507 / Денисов А. Н. - 2019. - 316 с. - ISBN 978-5-94836-440-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 31.2

Кл.слова (ненормированные):
полузаказные БИС -- конструкции БМК -- триггеры Шмитта -- инверторы -- назначение ячейки
Аннотация: Это третья книга серии практических пособий из четырех книг под общим названием «Полузаказные БИС на БМК серий 5503 и 5507», посвященных общим сведениям о базовых матричных кристаллах, вопросам методологии проектирования БИС на их основе, средствам проектирования и библиотекам ячеек полузаказных микросхем серий 5503 и 5507. Книга содержит описание унифицированной библиотеки функциональных ячеек, предназначенной для проектирования средствами САПР «Ковчег» различных специализированных микросхем на основе базовых матричных кристаллов серий 5503 и 5507. Книга предназначена для разработчиков радиоэлектронной аппаратуры, а также для преподавателей, аспирантов и студентов старших курсов, изучающих современные методы проектирования специализированных БИС.

Доп.точки доступа:
Денисов, А. Н.
Фомин, Ю. П.
Коняхин, В. В.
Федоров, Р. А.
Саурова, А. Н. \ред.\

45203

    Электроника. Часть 2 : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Электроника. Часть 2 / Разинкин В. П. - 2014. - 106 с. - ISBN 978-5-7782-2530-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- полупроводниковый диод -- выпрямительный диод -- детекторный диод -- импульсный диод -- туннельный диод -- биполярный транзистор
Аннотация: Настоящее пособие входит в состав учебно-методического комплекса по курсу Электроника, разработанного для студентов НГТУ, обучающихся по направлениям 11.03.01 Радиотехника и 11.03.02 - Инфокоммуникационные технологии и системы связи. Рассмотрены принципы работы основных видов полупроводниковых приборов и происходящие в них физические процессы. Приведено описание параметров и характеристик диодов, биполярных и полевых транзисторов в различных схемах включения. Пособие может быть использовано при мультимедийной форме чтения лекций, при выполнении расчетно-графических заданий и подготовке к лабораторным работам. Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ в рамках базовой части государственного задания, тема проекта: Теория построения и практическая реализация широкополосных микроволновых устройств, предназначенных для использования в измерительном оборудовании цифровых систем телевидения, связи и телекоммуникаций, включая вычислительные системы.

Электроника. Часть 2 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Электроника. Часть 2 / Разинкин В. П., 2014. - 106 с.

4.

Электроника. Часть 2 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Электроника. Часть 2 / Разинкин В. П., 2014. - 106 с.


45203

    Электроника. Часть 2 : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Электроника. Часть 2 / Разинкин В. П. - 2014. - 106 с. - ISBN 978-5-7782-2530-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- полупроводниковый диод -- выпрямительный диод -- детекторный диод -- импульсный диод -- туннельный диод -- биполярный транзистор
Аннотация: Настоящее пособие входит в состав учебно-методического комплекса по курсу Электроника, разработанного для студентов НГТУ, обучающихся по направлениям 11.03.01 Радиотехника и 11.03.02 - Инфокоммуникационные технологии и системы связи. Рассмотрены принципы работы основных видов полупроводниковых приборов и происходящие в них физические процессы. Приведено описание параметров и характеристик диодов, биполярных и полевых транзисторов в различных схемах включения. Пособие может быть использовано при мультимедийной форме чтения лекций, при выполнении расчетно-графических заданий и подготовке к лабораторным работам. Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ в рамках базовой части государственного задания, тема проекта: Теория построения и практическая реализация широкополосных микроволновых устройств, предназначенных для использования в измерительном оборудовании цифровых систем телевидения, связи и телекоммуникаций, включая вычислительные системы.

45080

    Вакуумные и плазменные приборы. Часть 1 : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2013 - .Вакуумные и плазменные приборы. Часть 1 / Лисицына Л. И. - 2013. - 44 с. - ISBN 978-5-7782-2273-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
вакуумный прибор -- плазменный прибор -- электронная лампа -- осциллографическая трубка
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены общие положения, основные принципы работы и параметры некоторых вакуумных и плазменных приборов: электронных ламп, осциллографической электронно-лучевой трубки и приборов тлеющего разряда. Для знакомства с этими приборами и изучения принципов их действия предложены лабораторные работы, даны задания к работам, порядок их выполнения, контрольные вопросы, выносимые на защиту работ, и содержание отчетов. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по специальности «Электронные приборы и устройства», а также может быть полезно для инженеров и научных работников, занимающихся разработкой новых типов приборов и усовершенствованием существующих.

Вакуумные и плазменные приборы. Часть 1 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Вакуумные и плазменные приборы. Часть 1 / Лисицына Л. И., 2013. - 44 с.

5.

Вакуумные и плазменные приборы. Часть 1 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Вакуумные и плазменные приборы. Часть 1 / Лисицына Л. И., 2013. - 44 с.


45080

    Вакуумные и плазменные приборы. Часть 1 : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2013 - .Вакуумные и плазменные приборы. Часть 1 / Лисицына Л. И. - 2013. - 44 с. - ISBN 978-5-7782-2273-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
вакуумный прибор -- плазменный прибор -- электронная лампа -- осциллографическая трубка
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены общие положения, основные принципы работы и параметры некоторых вакуумных и плазменных приборов: электронных ламп, осциллографической электронно-лучевой трубки и приборов тлеющего разряда. Для знакомства с этими приборами и изучения принципов их действия предложены лабораторные работы, даны задания к работам, порядок их выполнения, контрольные вопросы, выносимые на защиту работ, и содержание отчетов. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по специальности «Электронные приборы и устройства», а также может быть полезно для инженеров и научных работников, занимающихся разработкой новых типов приборов и усовершенствованием существующих.

45104

    Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2013 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I / Филимонова Н. И. - 2013. - 134 с. - ISBN 978-5-7782-2158-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронный материал -- наноэлектронная структура -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия
Аннотация: Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Экспериментальные методы исследования и метрология», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем», и студентов, обучающихся по направлению 210100 «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».

Доп.точки доступа:
Кольцов, Б. Б.

Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I / Филимонова Н. И., 2013. - 134 с.

6.

Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I / Филимонова Н. И., 2013. - 134 с.


45104

    Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2013 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I / Филимонова Н. И. - 2013. - 134 с. - ISBN 978-5-7782-2158-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронный материал -- наноэлектронная структура -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия
Аннотация: Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Экспериментальные методы исследования и метрология», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем», и студентов, обучающихся по направлению 210100 «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».

Доп.точки доступа:
Кольцов, Б. Б.

34741

    Электроника. Часть первая. Лабораторный практикум по аналоговой электронике в программно-аппаратной среде NI ELVIS II : учебное пособие. - [Б. м.] : Томский политехнический университет, 2013 - .Электроника. Часть первая. Лабораторный практикум по аналоговой электронике в программно-аппаратной среде NI ELVIS II / Цимбалист Э. И. - 2013. - 302 с. - ISBN 978-5-4387-0314-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.973

Кл.слова (ненормированные):
аналоговая электроника -- программно-аппаратная среда -- NI ELVIS -- Multisim
Аннотация: Пособие включает в себя руководство по эксплуатации инструментов NI ELVIS II, основы схемотехнического моделирования и анализа электрических схем в среде Multisim, рекомендации по выполнению лабораторного цикла, которые могут быть полезными при изучении учебной дисциплины «Электроника», содержит контролирующие материалы. Знакомит с современными средствами измерений и моделирования схем, готовит студентов к выполнению лабораторных работ. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки «Приборостроение».

Доп.точки доступа:
Цимбалист, Э. И.
Баранов, П. Ф.
Силушкин, С. В.
Фомичев, Ю. М.

Электроника. Часть первая. Лабораторный практикум по аналоговой электронике в программно-аппаратной среде NI ELVIS II [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Электроника. Часть первая. Лабораторный практикум по аналоговой электронике в программно-аппаратной среде NI ELVIS II / Цимбалист Э. И., 2013. - 302 с.

7.

Электроника. Часть первая. Лабораторный практикум по аналоговой электронике в программно-аппаратной среде NI ELVIS II [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Электроника. Часть первая. Лабораторный практикум по аналоговой электронике в программно-аппаратной среде NI ELVIS II / Цимбалист Э. И., 2013. - 302 с.


34741

    Электроника. Часть первая. Лабораторный практикум по аналоговой электронике в программно-аппаратной среде NI ELVIS II : учебное пособие. - [Б. м.] : Томский политехнический университет, 2013 - .Электроника. Часть первая. Лабораторный практикум по аналоговой электронике в программно-аппаратной среде NI ELVIS II / Цимбалист Э. И. - 2013. - 302 с. - ISBN 978-5-4387-0314-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.973

Кл.слова (ненормированные):
аналоговая электроника -- программно-аппаратная среда -- NI ELVIS -- Multisim
Аннотация: Пособие включает в себя руководство по эксплуатации инструментов NI ELVIS II, основы схемотехнического моделирования и анализа электрических схем в среде Multisim, рекомендации по выполнению лабораторного цикла, которые могут быть полезными при изучении учебной дисциплины «Электроника», содержит контролирующие материалы. Знакомит с современными средствами измерений и моделирования схем, готовит студентов к выполнению лабораторных работ. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки «Приборостроение».

Доп.точки доступа:
Цимбалист, Э. И.
Баранов, П. Ф.
Силушкин, С. В.
Фомичев, Ю. М.

13959

    Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 1 : учебное пособие. - [Б. м.] : Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 2012 - .Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 1 / Орликов Л. Н. - 2012. - 88 с. - ISBN 978-5-4263-0119-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.84

Кл.слова (ненормированные):
оптический материал -- электронная техника -- вакуумная электроника -- плазменная электроника -- твердотельная электроника
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены основы технологических процессов в производстве материалов и изделий электронной техники. В том числе кинетические, диффузионные и поверхностные явления и межфазные взаимодействия в технологических процессах; физические основы вакуумной, ионно-плазменной, электронно-лучевой и лазерной технологии; основы технологии изготовления приборов и устройств вакуумной, плазменной, твердотельной и микроэлектроники; основы автоматизации процессов производства оптических материалов и изделий и устройств; эксплуатация и сервисное обслуживание технологического оборудования. Большинство разделов содержит математические модели для инженерных расчетов. Пособие предназначено для студентов очной и заочной форм, обучающихся по направлению «Фотоника и оптоинформатика» по дисциплине «Основы технологии оптических материалов и изделий».

Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 1 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 1 / Орликов Л. Н., 2012. - 88 с.

8.

Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 1 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 1 / Орликов Л. Н., 2012. - 88 с.


13959

    Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 1 : учебное пособие. - [Б. м.] : Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 2012 - .Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 1 / Орликов Л. Н. - 2012. - 88 с. - ISBN 978-5-4263-0119-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.84

Кл.слова (ненормированные):
оптический материал -- электронная техника -- вакуумная электроника -- плазменная электроника -- твердотельная электроника
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены основы технологических процессов в производстве материалов и изделий электронной техники. В том числе кинетические, диффузионные и поверхностные явления и межфазные взаимодействия в технологических процессах; физические основы вакуумной, ионно-плазменной, электронно-лучевой и лазерной технологии; основы технологии изготовления приборов и устройств вакуумной, плазменной, твердотельной и микроэлектроники; основы автоматизации процессов производства оптических материалов и изделий и устройств; эксплуатация и сервисное обслуживание технологического оборудования. Большинство разделов содержит математические модели для инженерных расчетов. Пособие предназначено для студентов очной и заочной форм, обучающихся по направлению «Фотоника и оптоинформатика» по дисциплине «Основы технологии оптических материалов и изделий».

13960

    Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 2 : учебное пособие. - [Б. м.] : Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 2012 - .Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 2 / Орликов Л. Н. - 2012. - 99 с. - ISBN 978-5-4263-0119-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.84

Кл.слова (ненормированные):
автоматизация производства -- эксплуатация оборудования -- инженерный расчет
Аннотация: В учебном пособии ч. 2 рассмотрены основы технологии изготовления материалов и изделий. Кроме того, рассмотрены основы автоматизации процессов производства; эксплуатация и сервисное обслуживание технологического оборудования. Большинство разделов содержит математические модели для инженерных расчетов. Пособие предназначено для студентов очной и заочной форм, обучающихся по направлению «Фотоника и оптоинформатика» по дисциплине «Основы технологии оптических материалов и изделий».

Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 2 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 2 / Орликов Л. Н., 2012. - 99 с.

9.

Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 2 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 2 / Орликов Л. Н., 2012. - 99 с.


13960

    Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 2 : учебное пособие. - [Б. м.] : Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 2012 - .Основы технологии оптических материалов и изделий. Часть 2 / Орликов Л. Н. - 2012. - 99 с. - ISBN 978-5-4263-0119-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.84

Кл.слова (ненормированные):
автоматизация производства -- эксплуатация оборудования -- инженерный расчет
Аннотация: В учебном пособии ч. 2 рассмотрены основы технологии изготовления материалов и изделий. Кроме того, рассмотрены основы автоматизации процессов производства; эксплуатация и сервисное обслуживание технологического оборудования. Большинство разделов содержит математические модели для инженерных расчетов. Пособие предназначено для студентов очной и заочной форм, обучающихся по направлению «Фотоника и оптоинформатика» по дисциплине «Основы технологии оптических материалов и изделий».

13990

    Технология материалов и изделий электронной техники. Часть 1 : учебное пособие. - [Б. м.] : Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 2012 - .Технология материалов и изделий электронной техники. Часть 1 / Орликов Л. Н. - 2012. - 98 с. - ISBN 978-5-9227-0420-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
технология материала -- электронная техника -- микроэлектроника -- автоматизация процесса -- диффузионное явление -- поверхностное явление
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены основы технологических процессов в производстве материалов и изделий электронной техники. В том числе кинетические, диффузионные и поверхностные явления и межфазные взаимодействия в технологических процессах; физические основы вакуумной, ионно-плазменной, электронно-лучевой и лазерной технологии; основы технологии изготовления приборов и устройств вакуумной, плазменной, твердотельной и микроэлектроники; основы автоматизации процессов производства электронных приборов и устройств; эксплуатация и сервисное обслуживание технологического оборудования. Большинство разделов содержит математические модели для инженерных расчетов. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микроэлектроника» при изучении курсов «Технология материалов и изделий», «Вакуумная и плазменная электроника», «Оптическое материаловедение». Пособие будет полезно для студентов смежных специальностей при изучении курсов «Технология приборов оптической электроники и фотоники», «Специальные вопросы технологии», а также при выполнении курсовых и дипломных работ.

Технология материалов и изделий электронной техники. Часть 1 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Технология материалов и изделий электронной техники. Часть 1 / Орликов Л. Н., 2012. - 98 с.

10.

Технология материалов и изделий электронной техники. Часть 1 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Технология материалов и изделий электронной техники. Часть 1 / Орликов Л. Н., 2012. - 98 с.


13990

    Технология материалов и изделий электронной техники. Часть 1 : учебное пособие. - [Б. м.] : Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 2012 - .Технология материалов и изделий электронной техники. Часть 1 / Орликов Л. Н. - 2012. - 98 с. - ISBN 978-5-9227-0420-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
технология материала -- электронная техника -- микроэлектроника -- автоматизация процесса -- диффузионное явление -- поверхностное явление
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены основы технологических процессов в производстве материалов и изделий электронной техники. В том числе кинетические, диффузионные и поверхностные явления и межфазные взаимодействия в технологических процессах; физические основы вакуумной, ионно-плазменной, электронно-лучевой и лазерной технологии; основы технологии изготовления приборов и устройств вакуумной, плазменной, твердотельной и микроэлектроники; основы автоматизации процессов производства электронных приборов и устройств; эксплуатация и сервисное обслуживание технологического оборудования. Большинство разделов содержит математические модели для инженерных расчетов. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микроэлектроника» при изучении курсов «Технология материалов и изделий», «Вакуумная и плазменная электроника», «Оптическое материаловедение». Пособие будет полезно для студентов смежных специальностей при изучении курсов «Технология приборов оптической электроники и фотоники», «Специальные вопросы технологии», а также при выполнении курсовых и дипломных работ.

Page 1, Results: 146

 

All acquisitions for 
Or select a month