База данных: Электрондық кітапхана
Беті 1, Нәтижелерін: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
С28
Секацкий, В. С.
Методы и средства измерений и контроля [Электронный ресурс] / В. С. Секацкий. - Красноярск : ИПЦ СФУ, 2007. - 284 с. - Б. ц.
Рубрики: МЕТОДЫ ЭКОНОМИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ
Кл.слова (ненормированные):
методы и средства измерений -- средства измерений -- виды контроля -- контроль деталей калибрами -- универсальные микроскопы -- контроль поверхностных дефектов
С28
Секацкий, В. С.
Методы и средства измерений и контроля [Электронный ресурс] / В. С. Секацкий. - Красноярск : ИПЦ СФУ, 2007. - 284 с. - Б. ц.
| УДК |
Рубрики: МЕТОДЫ ЭКОНОМИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ
Кл.слова (ненормированные):
методы и средства измерений -- средства измерений -- виды контроля -- контроль деталей калибрами -- универсальные микроскопы -- контроль поверхностных дефектов
2.
Подробнее
Н40
Неволин, В. К.
Мир электроники: Зондовые нанотехнологии в электронике [Электронный ресурс] : учебник / В. К. Неволин. - М. : Техносфера, 2014. - 176 с. - Б. ц.
ББК 32.85
Рубрики: ЕСТЕСТВЕННЫЕ НАУКИ
ТЕХНИКА
Кл.слова (ненормированные):
учебник -- микроскопы -- атомная структура -- зондовое формирование -- характеристика макетов -- методы углеродных нанотрубок
Н40
Неволин, В. К.
Мир электроники: Зондовые нанотехнологии в электронике [Электронный ресурс] : учебник / В. К. Неволин. - М. : Техносфера, 2014. - 176 с. - Б. ц.
Рубрики: ЕСТЕСТВЕННЫЕ НАУКИ
ТЕХНИКА
Кл.слова (ненормированные):
учебник -- микроскопы -- атомная структура -- зондовое формирование -- характеристика макетов -- методы углеродных нанотрубок
Беті 1, Нәтижелерін: 2