База данных: IPR SMART кітаптар
Беті 1, Нәтижелерін: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А. - 2014. - 227 с. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.85
Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- микроэлектронный материал -- наноэлектронный материал -- электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Доп.точки доступа:
Филимонова, Н. И.
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А. - 2014. - 227 с. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- микроэлектронный материал -- наноэлектронный материал -- электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Доп.точки доступа:
Филимонова, Н. И.
2.
Подробнее
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2013 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I / Филимонова Н. И. - 2013. - 134 с. - ISBN 978-5-7782-2158-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.85
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронный материал -- наноэлектронная структура -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия
Аннотация: Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Экспериментальные методы исследования и метрология», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем», и студентов, обучающихся по направлению 210100 «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Доп.точки доступа:
Кольцов, Б. Б.
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2013 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I / Филимонова Н. И. - 2013. - 134 с. - ISBN 978-5-7782-2158-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронный материал -- наноэлектронная структура -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия
Аннотация: Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Экспериментальные методы исследования и метрология», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем», и студентов, обучающихся по направлению 210100 «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Доп.точки доступа:
Кольцов, Б. Б.
Беті 1, Нәтижелерін: 2