База данных: Кітаптар
Беті 1, Нәтижелерін: 1
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
128969
Блесман, А. И.
Методы исследования наноматериалов : учебное пособие / Блесман А. И. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 79 с. - ISBN 978-5-4497-1978-2, 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.37
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- наноинженерия -- наноматериал -- рентген -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов — растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплину «Методы исследования наноматериалов», а также будет полезно при прохождении практики и выполнении ВКР.
Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.
Полонянкин, Д. А.
Блесман, А. И.
Методы исследования наноматериалов : учебное пособие / Блесман А. И. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 79 с. - ISBN 978-5-4497-1978-2, 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- наноинженерия -- наноматериал -- рентген -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов — растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплину «Методы исследования наноматериалов», а также будет полезно при прохождении практики и выполнении ВКР.
Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.
Полонянкин, Д. А.
Беті 1, Нәтижелерін: 1