База данных: IPR SMART кітаптар
Беті 1, Нәтижелерін: 1
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Химич, М. А.
Введение в рентгеноструктурный анализ : учебное пособие / Химич М. А. - Томск : Издательство Томского государственного университета, 2022. - 88 с. - ISBN 978-5-907572-78-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
кристаллическое строение -- механика -- рентгеновский дифрактометр -- рентгеновское излучение -- рентгеноструктурный анализ -- физика
Аннотация: Учебное пособие посвящено описанию основ рентгеноструктурного анализа. Целью автора было максимально лаконично и доступно охарактеризовать физические основы рентгеноструктурного анализа и его отдельные методы, которые могут быть использованы при решении практических научно-исследовательских и инженерно-технических задач. Представленный материал может быть полезен тем, кому необходимо понимать, как рентгеновское излучение взаимодействует с веществом, какие методы рентгеноструктурного анализа существуют и какие подходы можно применять в том или ином случае для решения поставленных задач. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению «15.03.03 Прикладная механика» и смежным направлениям. Пособие может быть использовано студентами физико-технического, физического, химического, радиофизического факультетов по направлениям «Радиофизика», «Оптотехника», «Физика», «Химия», «Фундаментальная и прикладная химия» а также преподавателями при разработке курсов лекций и практических занятий.
Химич, М. А.
Введение в рентгеноструктурный анализ : учебное пособие / Химич М. А. - Томск : Издательство Томского государственного университета, 2022. - 88 с. - ISBN 978-5-907572-78-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кристаллическое строение -- механика -- рентгеновский дифрактометр -- рентгеновское излучение -- рентгеноструктурный анализ -- физика
Аннотация: Учебное пособие посвящено описанию основ рентгеноструктурного анализа. Целью автора было максимально лаконично и доступно охарактеризовать физические основы рентгеноструктурного анализа и его отдельные методы, которые могут быть использованы при решении практических научно-исследовательских и инженерно-технических задач. Представленный материал может быть полезен тем, кому необходимо понимать, как рентгеновское излучение взаимодействует с веществом, какие методы рентгеноструктурного анализа существуют и какие подходы можно применять в том или ином случае для решения поставленных задач. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению «15.03.03 Прикладная механика» и смежным направлениям. Пособие может быть использовано студентами физико-технического, физического, химического, радиофизического факультетов по направлениям «Радиофизика», «Оптотехника», «Физика», «Химия», «Фундаментальная и прикладная химия» а также преподавателями при разработке курсов лекций и практических занятий.
Беті 1, Нәтижелерін: 1