Электрондық каталог


 

База данных: IPR SMART кітаптар

Беті 4, Нәтижелерін: 70

Отмеченные записи: 0

58860

    Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) : учебное пособие. - [Б. м.] : Техносфера, 2016 - .Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) / Устынюк Ю. А. - 2016. - 292 с. - ISBN 978-5-94836-410-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 24.2

Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия -- ядерный резонанс -- магнитный резонанс -- спектрометр ЯМР -- природа экранирования -- эффект Оверхаузера
Аннотация: В основу текста книги положен материал двух лекционных курсов, которые автор читал студентам кафедры органической химии Химического факультета МГУ, а также студентам Высшего химического колледжа РАН. В лекциях дан обзор основных возможностей использования одномерных методик ЯМР в органической химии, иллюстрированный решением интересных задач, приводятся вопросы и задачи для самостоятельной работы. Автор знакомит своих слушателей с основными фактами истории развития ЯМР и с учеными, которые внесли важный вклад в это развитие.

Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) / Устынюк Ю. А., 2016. - 292 с.

31.

Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) / Устынюк Ю. А., 2016. - 292 с.

Открыть исходную запись


58860

    Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) : учебное пособие. - [Б. м.] : Техносфера, 2016 - .Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) / Устынюк Ю. А. - 2016. - 292 с. - ISBN 978-5-94836-410-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 24.2

Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия -- ядерный резонанс -- магнитный резонанс -- спектрометр ЯМР -- природа экранирования -- эффект Оверхаузера
Аннотация: В основу текста книги положен материал двух лекционных курсов, которые автор читал студентам кафедры органической химии Химического факультета МГУ, а также студентам Высшего химического колледжа РАН. В лекциях дан обзор основных возможностей использования одномерных методик ЯМР в органической химии, иллюстрированный решением интересных задач, приводятся вопросы и задачи для самостоятельной работы. Автор знакомит своих слушателей с основными фактами истории развития ЯМР и с учеными, которые внесли важный вклад в это развитие.

70160

    Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР : учебное пособие. - [Б. м.] : Московский педагогический государственный университет, 2015 - .Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР / Хребтова С. Б. - 2015. - 20 с. - ISBN 978-5-4263-0329-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 24.2

Кл.слова (ненормированные):
химия -- вещество -- спектроскопия -- резонанс -- магнит
Аннотация: Учебное пособие содержит тренировочные задания в тестовой форме по современным физическим методам исследования вещества - спектроскопии ядерного магнитного резонанса и спектроскопии электронного парамагнитного резонанса. Пособие адресовано как студентам химических специальностей высших педагогических учебных заведений, так и преподавателям.

Доп.точки доступа:
Телешев, А. Т.
Ярышев, Н. Г.

Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР / Хребтова С. Б., 2015. - 20 с.

32.

Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР / Хребтова С. Б., 2015. - 20 с.

Открыть исходную запись


70160

    Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР : учебное пособие. - [Б. м.] : Московский педагогический государственный университет, 2015 - .Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР / Хребтова С. Б. - 2015. - 20 с. - ISBN 978-5-4263-0329-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 24.2

Кл.слова (ненормированные):
химия -- вещество -- спектроскопия -- резонанс -- магнит
Аннотация: Учебное пособие содержит тренировочные задания в тестовой форме по современным физическим методам исследования вещества - спектроскопии ядерного магнитного резонанса и спектроскопии электронного парамагнитного резонанса. Пособие адресовано как студентам химических специальностей высших педагогических учебных заведений, так и преподавателям.

Доп.точки доступа:
Телешев, А. Т.
Ярышев, Н. Г.

45105

    Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А. - 2014. - 227 с. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- микроэлектронный материал -- наноэлектронный материал -- электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».

Доп.точки доступа:
Филимонова, Н. И.

Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А., 2014. - 227 с.

33.

Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А., 2014. - 227 с.

Открыть исходную запись


45105

    Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А. - 2014. - 227 с. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- микроэлектронный материал -- наноэлектронный материал -- электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».

Доп.точки доступа:
Филимонова, Н. И.

66234

    Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 : учебное пособие. - [Б. м.] : Уральский федеральный университет, ЭБС АСВ, 2014 - .Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 / Бельская Н. П. - 2014. - 124 с. - ISBN 978-5-7996-1310-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
физика -- материя -- магнит -- резонанс -- химическое взаимодействие
Аннотация: Учебное пособие предназначено для самостоятельной подготовки студентов, обучающихся по специальностям 240901 «Биотехнология», 240401 «Химическая технология органических веществ», магистрантов направления 240100 «Химическая технология» и 240700 «Биотехнология», а также для аспирантов специальностей 02.00.03 «Органическая химия» и 05.17.04 «Технология органических веществ». В первой части учебного пособия изложены физические основы метода ЯМР, инструментальные особенности и разделы спектроскопии ЯМР 1Н (химический сдвиг и спинспиновое взаимодействие). Во второй части изложены методы интерпретации спектров ЯМР 1Н, не подчиняющихся правилам первого порядка, экспериментальные методы их упрощения, спектроскопия на ядрах ЯМР 13С.

Доп.точки доступа:
Ельцов, О. С.
Безматерных, М. А. \ред.\

Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 / Бельская Н. П., 2014. - 124 с.

34.

Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 [Электронный ресурс] : Учебное пособие. Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 / Бельская Н. П., 2014. - 124 с.

Открыть исходную запись


66234

    Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 : учебное пособие. - [Б. м.] : Уральский федеральный университет, ЭБС АСВ, 2014 - .Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 / Бельская Н. П. - 2014. - 124 с. - ISBN 978-5-7996-1310-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
физика -- материя -- магнит -- резонанс -- химическое взаимодействие
Аннотация: Учебное пособие предназначено для самостоятельной подготовки студентов, обучающихся по специальностям 240901 «Биотехнология», 240401 «Химическая технология органических веществ», магистрантов направления 240100 «Химическая технология» и 240700 «Биотехнология», а также для аспирантов специальностей 02.00.03 «Органическая химия» и 05.17.04 «Технология органических веществ». В первой части учебного пособия изложены физические основы метода ЯМР, инструментальные особенности и разделы спектроскопии ЯМР 1Н (химический сдвиг и спинспиновое взаимодействие). Во второй части изложены методы интерпретации спектров ЯМР 1Н, не подчиняющихся правилам первого порядка, экспериментальные методы их упрощения, спектроскопия на ядрах ЯМР 13С.

Доп.точки доступа:
Ельцов, О. С.
Безматерных, М. А. \ред.\

128996
Нор, П. Е.
    Спектральные методы контроля качества окружающей среды : учебное пособие / Нор П. Е. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 108 с. - ISBN 978-5-4497-1976-8, 978-5-8149-2445-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 20.18

Кл.слова (ненормированные):
контроль качества -- окружающая среда -- спектальный метод -- спектроскопия -- экологический мониторинг
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены спектральные методы контроля окружающей среды и экологического мониторинга (атомная и молекулярная спектроскопия), приведены примеры решения задач по применению молекулярных спектроскопических бесконтактных методов контроля. Предназначено для студентов, обучающихся по направлениям подготовки 18.03.02, 18.04.02 «Энерго- и ресурсосберегающие процессы в химической технологии, нефтехимии и биотехнологии», изучающих дисциплины «Методы и приборы контроля качества окружающей среды», «Методы контроля и оценки состояния окружающей среды». Может быть использовано студентами направления 20.03.01 «Техносферная безопасность» при изучении дисциплины «Методы и средства контроля качества окружающей среды».

Нор, П. Е. Спектральные методы контроля качества окружающей среды [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Нор П. Е., 2023. - 108 с.

35.

Нор, П. Е. Спектральные методы контроля качества окружающей среды [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Нор П. Е., 2023. - 108 с.

Открыть исходную запись


128996
Нор, П. Е.
    Спектральные методы контроля качества окружающей среды : учебное пособие / Нор П. Е. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 108 с. - ISBN 978-5-4497-1976-8, 978-5-8149-2445-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 20.18

Кл.слова (ненормированные):
контроль качества -- окружающая среда -- спектальный метод -- спектроскопия -- экологический мониторинг
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены спектральные методы контроля окружающей среды и экологического мониторинга (атомная и молекулярная спектроскопия), приведены примеры решения задач по применению молекулярных спектроскопических бесконтактных методов контроля. Предназначено для студентов, обучающихся по направлениям подготовки 18.03.02, 18.04.02 «Энерго- и ресурсосберегающие процессы в химической технологии, нефтехимии и биотехнологии», изучающих дисциплины «Методы и приборы контроля качества окружающей среды», «Методы контроля и оценки состояния окружающей среды». Может быть использовано студентами направления 20.03.01 «Техносферная безопасность» при изучении дисциплины «Методы и средства контроля качества окружающей среды».

129167

    Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 : учебное пособие / Билалов А. В. - Казань : Издательство КНИТУ, 2022. - 108 с. - ISBN 978-5-7882-2934-8, 978-5-7882-3094-8 (ч.3) : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 24.5

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- масс-спектрометрия -- реометрия -- спектроскопия -- химия -- хроматография
Аннотация: Предложены вопросы, задания и тесты для контроля знаний и умений, полученных студентами при изучении курса «Инструментальные методы исследования в химической технологии». Предназначено для магистрантов, обучающихся по направлению подготовки 18.04.01 «Химическая технология», а также для слушателей вузов и техникумов химических и химико-технологических специальностей. Подготовлено на кафедре физической и коллоидной химии.

Доп.точки доступа:
Билалов, А. В.
Галяметдинов, Ю. Г.
Осипова, В. В.
Романова, К. А.
Шамилов, Р. Р.

Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Билалов А. В., 2022. - 108 с.

36.

Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Билалов А. В., 2022. - 108 с.

Открыть исходную запись


129167

    Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 : учебное пособие / Билалов А. В. - Казань : Издательство КНИТУ, 2022. - 108 с. - ISBN 978-5-7882-2934-8, 978-5-7882-3094-8 (ч.3) : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 24.5

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- масс-спектрометрия -- реометрия -- спектроскопия -- химия -- хроматография
Аннотация: Предложены вопросы, задания и тесты для контроля знаний и умений, полученных студентами при изучении курса «Инструментальные методы исследования в химической технологии». Предназначено для магистрантов, обучающихся по направлению подготовки 18.04.01 «Химическая технология», а также для слушателей вузов и техникумов химических и химико-технологических специальностей. Подготовлено на кафедре физической и коллоидной химии.

Доп.точки доступа:
Билалов, А. В.
Галяметдинов, Ю. Г.
Осипова, В. В.
Романова, К. А.
Шамилов, Р. Р.

118616

    Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.371

Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».

Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.

Методы исследования структуры твердых тел [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Ожерельев В. В., 2021. - 108 с.

37.

Методы исследования структуры твердых тел [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Ожерельев В. В., 2021. - 108 с.

Открыть исходную запись


118616

    Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.371

Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».

Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.

124891
Рогачев, Е. А.
    Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е. А. - Омск : Омский государственный технический университет, 2021. - 88 с. - ISBN 978-5-8149-3367-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
исследование -- материал -- севременные методы
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.

Рогачев, Е. А. Физические основы современных методов исследования материалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Рогачев Е. А., 2021. - 88 с.

38.

Рогачев, Е. А. Физические основы современных методов исследования материалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Рогачев Е. А., 2021. - 88 с.

Открыть исходную запись


124891
Рогачев, Е. А.
    Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е. А. - Омск : Омский государственный технический университет, 2021. - 88 с. - ISBN 978-5-8149-3367-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
исследование -- материал -- севременные методы
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.

93805
Чичинин, А. И.
    Атомная и молекулярная спектроскопия : учебник / Чичинин А. И. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2019. - 884 с. - ISBN 978-5-4437-0927-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.344

Кл.слова (ненормированные):
дискретное уравнение -- квантовая механика -- спектроскопия -- фотоны -- эффект зенона
Аннотация: Книга является учебником по основам квантовой механики применительно к атомной и молекулярной спектроскопии. Она написана на основе лекций автора на физическом факультете НГУ. Подробно излагаются основы строения атомов и молекул, для описания спектров используются техника неприводимых тензорных операторов и теория симметрии. Книга содержит множество практически важных таблиц, а также задачи с ответами. Предназначена для студентов старших курсов физических и физико-химических специальностей.

Чичинин, А. И. Атомная и молекулярная спектроскопия [Электронный ресурс] : Учебник / Чичинин А. И., 2019. - 884 с.

39.

Чичинин, А. И. Атомная и молекулярная спектроскопия [Электронный ресурс] : Учебник / Чичинин А. И., 2019. - 884 с.

Открыть исходную запись


93805
Чичинин, А. И.
    Атомная и молекулярная спектроскопия : учебник / Чичинин А. И. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2019. - 884 с. - ISBN 978-5-4437-0927-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.344

Кл.слова (ненормированные):
дискретное уравнение -- квантовая механика -- спектроскопия -- фотоны -- эффект зенона
Аннотация: Книга является учебником по основам квантовой механики применительно к атомной и молекулярной спектроскопии. Она написана на основе лекций автора на физическом факультете НГУ. Подробно излагаются основы строения атомов и молекул, для описания спектров используются техника неприводимых тензорных операторов и теория симметрии. Книга содержит множество практически важных таблиц, а также задачи с ответами. Предназначена для студентов старших курсов физических и физико-химических специальностей.

98719
Илюшин, В. А.
    Наноматериалы : учебное пособие / Илюшин В. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2019. - 114 с. - ISBN 978-5-7782-3858-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
нанокластер -- наноматериал -- нанотрубка -- размерный эффект -- спектроскопия -- структура
Аннотация: Рассматриваются размерные эффекты в нанообъектах, классификация наноматериалов, их состав, строение, свойства, методы получения и методы исследования. Предназначено для студентов РЭФ, обучающихся по направлению 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» дневной формы обучения.

Илюшин, В. А. Наноматериалы [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Илюшин В. А., 2019. - 114 с.

40.

Илюшин, В. А. Наноматериалы [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Илюшин В. А., 2019. - 114 с.

Открыть исходную запись


98719
Илюшин, В. А.
    Наноматериалы : учебное пособие / Илюшин В. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2019. - 114 с. - ISBN 978-5-7782-3858-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
нанокластер -- наноматериал -- нанотрубка -- размерный эффект -- спектроскопия -- структура
Аннотация: Рассматриваются размерные эффекты в нанообъектах, классификация наноматериалов, их состав, строение, свойства, методы получения и методы исследования. Предназначено для студентов РЭФ, обучающихся по направлению 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» дневной формы обучения.

Беті 4, Нәтижелерін: 70

 

Барлық түсімдер 
Немесе қызығушылық танытқан айыңызды таңдаңыз