База данных: IPR SMART кітаптар
Беті 4, Нәтижелерін: 70
Отмеченные записи: 0
31.

Подробнее
58860
Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) : учебное пособие. - [Б. м.] : Техносфера, 2016 - .Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) / Устынюк Ю. А. - 2016. - 292 с. - ISBN 978-5-94836-410-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 24.2
Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия -- ядерный резонанс -- магнитный резонанс -- спектрометр ЯМР -- природа экранирования -- эффект Оверхаузера
Аннотация: В основу текста книги положен материал двух лекционных курсов, которые автор читал студентам кафедры органической химии Химического факультета МГУ, а также студентам Высшего химического колледжа РАН. В лекциях дан обзор основных возможностей использования одномерных методик ЯМР в органической химии, иллюстрированный решением интересных задач, приводятся вопросы и задачи для самостоятельной работы. Автор знакомит своих слушателей с основными фактами истории развития ЯМР и с учеными, которые внесли важный вклад в это развитие.
Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) : учебное пособие. - [Б. м.] : Техносфера, 2016 - .Лекции по спектроскопии ядерного магнитного резонанса. Часть 1 (вводный курс) / Устынюк Ю. А. - 2016. - 292 с. - ISBN 978-5-94836-410-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия -- ядерный резонанс -- магнитный резонанс -- спектрометр ЯМР -- природа экранирования -- эффект Оверхаузера
Аннотация: В основу текста книги положен материал двух лекционных курсов, которые автор читал студентам кафедры органической химии Химического факультета МГУ, а также студентам Высшего химического колледжа РАН. В лекциях дан обзор основных возможностей использования одномерных методик ЯМР в органической химии, иллюстрированный решением интересных задач, приводятся вопросы и задачи для самостоятельной работы. Автор знакомит своих слушателей с основными фактами истории развития ЯМР и с учеными, которые внесли важный вклад в это развитие.
32.

Подробнее
70160
Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР : учебное пособие. - [Б. м.] : Московский педагогический государственный университет, 2015 - .Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР / Хребтова С. Б. - 2015. - 20 с. - ISBN 978-5-4263-0329-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 24.2
Кл.слова (ненормированные):
химия -- вещество -- спектроскопия -- резонанс -- магнит
Аннотация: Учебное пособие содержит тренировочные задания в тестовой форме по современным физическим методам исследования вещества - спектроскопии ядерного магнитного резонанса и спектроскопии электронного парамагнитного резонанса. Пособие адресовано как студентам химических специальностей высших педагогических учебных заведений, так и преподавателям.
Доп.точки доступа:
Телешев, А. Т.
Ярышев, Н. Г.
Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР : учебное пособие. - [Б. м.] : Московский педагогический государственный университет, 2015 - .Физические методы исследования вещества. Задания для самостоятельной работы студентов. Часть 1. Спектроскопия ЯМР и ЭПР / Хребтова С. Б. - 2015. - 20 с. - ISBN 978-5-4263-0329-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
химия -- вещество -- спектроскопия -- резонанс -- магнит
Аннотация: Учебное пособие содержит тренировочные задания в тестовой форме по современным физическим методам исследования вещества - спектроскопии ядерного магнитного резонанса и спектроскопии электронного парамагнитного резонанса. Пособие адресовано как студентам химических специальностей высших педагогических учебных заведений, так и преподавателям.
Доп.точки доступа:
Телешев, А. Т.
Ярышев, Н. Г.
33.

Подробнее
45105
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А. - 2014. - 227 с. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.85
Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- микроэлектронный материал -- наноэлектронный материал -- электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Доп.точки доступа:
Филимонова, Н. И.
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А. - 2014. - 227 с. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- микроэлектронный материал -- наноэлектронный материал -- электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Доп.точки доступа:
Филимонова, Н. И.
34.

Подробнее
66234
Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 : учебное пособие. - [Б. м.] : Уральский федеральный университет, ЭБС АСВ, 2014 - .Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 / Бельская Н. П. - 2014. - 124 с. - ISBN 978-5-7996-1310-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
физика -- материя -- магнит -- резонанс -- химическое взаимодействие
Аннотация: Учебное пособие предназначено для самостоятельной подготовки студентов, обучающихся по специальностям 240901 «Биотехнология», 240401 «Химическая технология органических веществ», магистрантов направления 240100 «Химическая технология» и 240700 «Биотехнология», а также для аспирантов специальностей 02.00.03 «Органическая химия» и 05.17.04 «Технология органических веществ». В первой части учебного пособия изложены физические основы метода ЯМР, инструментальные особенности и разделы спектроскопии ЯМР 1Н (химический сдвиг и спинспиновое взаимодействие). Во второй части изложены методы интерпретации спектров ЯМР 1Н, не подчиняющихся правилам первого порядка, экспериментальные методы их упрощения, спектроскопия на ядрах ЯМР 13С.
Доп.точки доступа:
Ельцов, О. С.
Безматерных, М. А. \ред.\
Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 : учебное пособие. - [Б. м.] : Уральский федеральный университет, ЭБС АСВ, 2014 - .Ядерный магнитный резонанс. Теория и практика. Часть 2 / Бельская Н. П. - 2014. - 124 с. - ISBN 978-5-7996-1310-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
физика -- материя -- магнит -- резонанс -- химическое взаимодействие
Аннотация: Учебное пособие предназначено для самостоятельной подготовки студентов, обучающихся по специальностям 240901 «Биотехнология», 240401 «Химическая технология органических веществ», магистрантов направления 240100 «Химическая технология» и 240700 «Биотехнология», а также для аспирантов специальностей 02.00.03 «Органическая химия» и 05.17.04 «Технология органических веществ». В первой части учебного пособия изложены физические основы метода ЯМР, инструментальные особенности и разделы спектроскопии ЯМР 1Н (химический сдвиг и спинспиновое взаимодействие). Во второй части изложены методы интерпретации спектров ЯМР 1Н, не подчиняющихся правилам первого порядка, экспериментальные методы их упрощения, спектроскопия на ядрах ЯМР 13С.
Доп.точки доступа:
Ельцов, О. С.
Безматерных, М. А. \ред.\
35.

Подробнее
128996
Нор, П. Е.
Спектральные методы контроля качества окружающей среды : учебное пособие / Нор П. Е. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 108 с. - ISBN 978-5-4497-1976-8, 978-5-8149-2445-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 20.18
Кл.слова (ненормированные):
контроль качества -- окружающая среда -- спектальный метод -- спектроскопия -- экологический мониторинг
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены спектральные методы контроля окружающей среды и экологического мониторинга (атомная и молекулярная спектроскопия), приведены примеры решения задач по применению молекулярных спектроскопических бесконтактных методов контроля. Предназначено для студентов, обучающихся по направлениям подготовки 18.03.02, 18.04.02 «Энерго- и ресурсосберегающие процессы в химической технологии, нефтехимии и биотехнологии», изучающих дисциплины «Методы и приборы контроля качества окружающей среды», «Методы контроля и оценки состояния окружающей среды». Может быть использовано студентами направления 20.03.01 «Техносферная безопасность» при изучении дисциплины «Методы и средства контроля качества окружающей среды».
Нор, П. Е.
Спектральные методы контроля качества окружающей среды : учебное пособие / Нор П. Е. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 108 с. - ISBN 978-5-4497-1976-8, 978-5-8149-2445-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
контроль качества -- окружающая среда -- спектальный метод -- спектроскопия -- экологический мониторинг
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены спектральные методы контроля окружающей среды и экологического мониторинга (атомная и молекулярная спектроскопия), приведены примеры решения задач по применению молекулярных спектроскопических бесконтактных методов контроля. Предназначено для студентов, обучающихся по направлениям подготовки 18.03.02, 18.04.02 «Энерго- и ресурсосберегающие процессы в химической технологии, нефтехимии и биотехнологии», изучающих дисциплины «Методы и приборы контроля качества окружающей среды», «Методы контроля и оценки состояния окружающей среды». Может быть использовано студентами направления 20.03.01 «Техносферная безопасность» при изучении дисциплины «Методы и средства контроля качества окружающей среды».
36.

Подробнее
129167
Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 : учебное пособие / Билалов А. В. - Казань : Издательство КНИТУ, 2022. - 108 с. - ISBN 978-5-7882-2934-8, 978-5-7882-3094-8 (ч.3) : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 24.5
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- масс-спектрометрия -- реометрия -- спектроскопия -- химия -- хроматография
Аннотация: Предложены вопросы, задания и тесты для контроля знаний и умений, полученных студентами при изучении курса «Инструментальные методы исследования в химической технологии». Предназначено для магистрантов, обучающихся по направлению подготовки 18.04.01 «Химическая технология», а также для слушателей вузов и техникумов химических и химико-технологических специальностей. Подготовлено на кафедре физической и коллоидной химии.
Доп.точки доступа:
Билалов, А. В.
Галяметдинов, Ю. Г.
Осипова, В. В.
Романова, К. А.
Шамилов, Р. Р.
Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 : учебное пособие / Билалов А. В. - Казань : Издательство КНИТУ, 2022. - 108 с. - ISBN 978-5-7882-2934-8, 978-5-7882-3094-8 (ч.3) : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- масс-спектрометрия -- реометрия -- спектроскопия -- химия -- хроматография
Аннотация: Предложены вопросы, задания и тесты для контроля знаний и умений, полученных студентами при изучении курса «Инструментальные методы исследования в химической технологии». Предназначено для магистрантов, обучающихся по направлению подготовки 18.04.01 «Химическая технология», а также для слушателей вузов и техникумов химических и химико-технологических специальностей. Подготовлено на кафедре физической и коллоидной химии.
Доп.точки доступа:
Билалов, А. В.
Галяметдинов, Ю. Г.
Осипова, В. В.
Романова, К. А.
Шамилов, Р. Р.
37.

Подробнее
118616
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.371
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».
Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.
38.

Подробнее
124891
Рогачев, Е. А.
Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е. А. - Омск : Омский государственный технический университет, 2021. - 88 с. - ISBN 978-5-8149-3367-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.3
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- материал -- севременные методы
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
Рогачев, Е. А.
Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е. А. - Омск : Омский государственный технический университет, 2021. - 88 с. - ISBN 978-5-8149-3367-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование -- материал -- севременные методы
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.
39.

Подробнее
93805
Чичинин, А. И.
Атомная и молекулярная спектроскопия : учебник / Чичинин А. И. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2019. - 884 с. - ISBN 978-5-4437-0927-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.344
Кл.слова (ненормированные):
дискретное уравнение -- квантовая механика -- спектроскопия -- фотоны -- эффект зенона
Аннотация: Книга является учебником по основам квантовой механики применительно к атомной и молекулярной спектроскопии. Она написана на основе лекций автора на физическом факультете НГУ. Подробно излагаются основы строения атомов и молекул, для описания спектров используются техника неприводимых тензорных операторов и теория симметрии. Книга содержит множество практически важных таблиц, а также задачи с ответами. Предназначена для студентов старших курсов физических и физико-химических специальностей.
Чичинин, А. И.
Атомная и молекулярная спектроскопия : учебник / Чичинин А. И. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2019. - 884 с. - ISBN 978-5-4437-0927-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дискретное уравнение -- квантовая механика -- спектроскопия -- фотоны -- эффект зенона
Аннотация: Книга является учебником по основам квантовой механики применительно к атомной и молекулярной спектроскопии. Она написана на основе лекций автора на физическом факультете НГУ. Подробно излагаются основы строения атомов и молекул, для описания спектров используются техника неприводимых тензорных операторов и теория симметрии. Книга содержит множество практически важных таблиц, а также задачи с ответами. Предназначена для студентов старших курсов физических и физико-химических специальностей.
40.

Подробнее
98719
Илюшин, В. А.
Наноматериалы : учебное пособие / Илюшин В. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2019. - 114 с. - ISBN 978-5-7782-3858-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.3
Кл.слова (ненормированные):
нанокластер -- наноматериал -- нанотрубка -- размерный эффект -- спектроскопия -- структура
Аннотация: Рассматриваются размерные эффекты в нанообъектах, классификация наноматериалов, их состав, строение, свойства, методы получения и методы исследования. Предназначено для студентов РЭФ, обучающихся по направлению 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» дневной формы обучения.
Илюшин, В. А.
Наноматериалы : учебное пособие / Илюшин В. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2019. - 114 с. - ISBN 978-5-7782-3858-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
нанокластер -- наноматериал -- нанотрубка -- размерный эффект -- спектроскопия -- структура
Аннотация: Рассматриваются размерные эффекты в нанообъектах, классификация наноматериалов, их состав, строение, свойства, методы получения и методы исследования. Предназначено для студентов РЭФ, обучающихся по направлению 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» дневной формы обучения.
Беті 4, Нәтижелерін: 70