База данных: IPR SMART кітаптар
Беті 1, Нәтижелерін: 4
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Блесман, А. И.
Методы исследования наноматериалов : учебное пособие / Блесман А. И. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 79 с. - ISBN 978-5-4497-1978-2, 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.37
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- наноинженерия -- наноматериал -- рентген -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов — растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплину «Методы исследования наноматериалов», а также будет полезно при прохождении практики и выполнении ВКР.
Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.
Полонянкин, Д. А.
Блесман, А. И.
Методы исследования наноматериалов : учебное пособие / Блесман А. И. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 79 с. - ISBN 978-5-4497-1978-2, 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- наноинженерия -- наноматериал -- рентген -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов — растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплину «Методы исследования наноматериалов», а также будет полезно при прохождении практики и выполнении ВКР.
Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.
Полонянкин, Д. А.
2.
Подробнее
Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии : монография / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 156 с. - ISBN 978-5-9275-2415-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.36
Кл.слова (ненормированные):
кремниевая матрица -- металлооксидная наноструктура -- нанокомпозит -- нанокомпозитная пленка -- оксид 3d-металла -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская спектроскопия -- углеродная матрица -- электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.
Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.
Шматко, В. А.
Фуник, А. О.
Невзорова, Н. М.
Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии : монография / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 156 с. - ISBN 978-5-9275-2415-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кремниевая матрица -- металлооксидная наноструктура -- нанокомпозит -- нанокомпозитная пленка -- оксид 3d-металла -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская спектроскопия -- углеродная матрица -- электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.
Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.
Шматко, В. А.
Фуник, А. О.
Невзорова, Н. М.
3.
Подробнее
Филимонова, Н. И.
Методы электронной микроскопии : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
линза -- микроскоп -- пэм -- сэм -- электронная микроскопия -- электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».
Доп.точки доступа:
Величко, А. А.
Фадеева, Н. Е.
Филимонова, Н. И.
Методы электронной микроскопии : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
линза -- микроскоп -- пэм -- сэм -- электронная микроскопия -- электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».
Доп.точки доступа:
Величко, А. А.
Фадеева, Н. Е.
4.
Подробнее
Бахматов, П. В.
Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 148 с. - ISBN 978-5-9729-2061-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 34.641
Кл.слова (ненормированные):
порообразование -- растровая микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- рэм -- сварное соединение -- сварочная проволока -- фрактография -- электронная микроскопия
Аннотация: Приведены сведения об основах и принципах проведения растровой электронной микроскопии. Описаны основные функциональные возможности Hitachi 3400N. Показаны результаты научных исследований в решении инженерных задач с применением растрового электронного микроскопа: качественный анализ распределения легирующих элементов как по плоскости сканируемого образца, так и по заданному направлению, фрактография, диффузионные слои в сварных соединениях, изучение поверхности свариваемых кромок и сварочной проволоки, причин порообразования в металле шва и другое. Включены как обобщение многочисленных публикаций в отечественной и зарубежной специализированной литературе, так и собственные исследования авторов. Для студентов, магистров, аспирантов технических университетов и институтов, а также специалистов НИИ, КБ, предприятий авиационно-космического комплекса. Материалы книги могут служить основой для разработки технологических рекомендаций, стандартов, определяющих содержание учебных планов, учебно-методических пособий, для профессиональной подготовки инженерных и научных кадров.
Доп.точки доступа:
Григорьев, В. В.
Калугина, А. А.
Бахматов, П. В.
Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 148 с. - ISBN 978-5-9729-2061-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
порообразование -- растровая микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- рэм -- сварное соединение -- сварочная проволока -- фрактография -- электронная микроскопия
Аннотация: Приведены сведения об основах и принципах проведения растровой электронной микроскопии. Описаны основные функциональные возможности Hitachi 3400N. Показаны результаты научных исследований в решении инженерных задач с применением растрового электронного микроскопа: качественный анализ распределения легирующих элементов как по плоскости сканируемого образца, так и по заданному направлению, фрактография, диффузионные слои в сварных соединениях, изучение поверхности свариваемых кромок и сварочной проволоки, причин порообразования в металле шва и другое. Включены как обобщение многочисленных публикаций в отечественной и зарубежной специализированной литературе, так и собственные исследования авторов. Для студентов, магистров, аспирантов технических университетов и институтов, а также специалистов НИИ, КБ, предприятий авиационно-космического комплекса. Материалы книги могут служить основой для разработки технологических рекомендаций, стандартов, определяющих содержание учебных планов, учебно-методических пособий, для профессиональной подготовки инженерных и научных кадров.
Доп.точки доступа:
Григорьев, В. В.
Калугина, А. А.
Беті 1, Нәтижелерін: 4