База данных: IPR SMART кітаптар
Беті 2, Нәтижелерін: 11
Отмеченные записи: 0
11.
Подробнее
106739
Адлер, Ю. П.
Статистическое управление процессами – Statistical Process Control (SPC). Практическое руководство по разведочному анализу данных : учебное пособие / Адлер Ю. П. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2020. - 382 с. - ISBN 978-5-907226-49-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 65.05
Кл.слова (ненормированные):
анализ данных -- статистика -- статистическое мышление -- управление процессами
Аннотация: Учебное пособие учит тому, как в современном мире, полном изменчивости, принимать решения на основе анализа реальных данных. Курс основан на идеях великих гуру системного и статистического мышления Уолтера Шухарта и Эдвардса Деминга, дополненных и расширенных авторами с учетом происходящей в мире промышленной революции. Пособие содержит большое число примеров, взятых из реальной практики самых разных отечественных и зарубежных компаний. Изучение этого курса будет полезно для студентов всех специальностей и всех уровней подготовки, причем не только в МИСиС, но и в любых технических вузах.
Доп.точки доступа:
Шпер, В. Л.
Адлер, Ю. П.
Статистическое управление процессами – Statistical Process Control (SPC). Практическое руководство по разведочному анализу данных : учебное пособие / Адлер Ю. П. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2020. - 382 с. - ISBN 978-5-907226-49-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
анализ данных -- статистика -- статистическое мышление -- управление процессами
Аннотация: Учебное пособие учит тому, как в современном мире, полном изменчивости, принимать решения на основе анализа реальных данных. Курс основан на идеях великих гуру системного и статистического мышления Уолтера Шухарта и Эдвардса Деминга, дополненных и расширенных авторами с учетом происходящей в мире промышленной революции. Пособие содержит большое число примеров, взятых из реальной практики самых разных отечественных и зарубежных компаний. Изучение этого курса будет полезно для студентов всех специальностей и всех уровней подготовки, причем не только в МИСиС, но и в любых технических вузах.
Доп.точки доступа:
Шпер, В. Л.
Беті 2, Нәтижелерін: 11