
31.233+65.291.8
Г69
Горлов, М. И
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий. 2-е изд [Электронный ресурс] : учебноепособие / М.И Горлов, В.А Сергеев. - Ульяновск : УлГТУ, 2015. - 406 с. - Б. ц.
УДК | 621.315.292+658.562.4 |
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
неразрушающий контроль -- дестабилизирующие факторы -- токовые характеристики -- критические напряжение -- динамичность тока -- контроль МОП
Доп.точки доступа:
Сергеев, В.А