База данных: IPR SMART кітаптар
Беті 1, Нәтижелерін: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии : монография / Моргунов Р. Б. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018. - 186 с. - ISBN 978-5-8265-1881-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.334
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовый микроскоп -- калибровочная решётка -- магнетизм -- магнитно-силовая микроскопия -- магнитный кантилевер -- метод биттера -- острие иглы -- сканируюший микроскоп -- стенка блоха
Аннотация: Изложены современные представления об исследовании поверхности твёрдых тел и органических объектов методом зондовой микроскопии. Рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии в различных режимах сканирования. Представлены возможности использования магнитно-силовой микроскопии в исследовании доменной структуры ферромагнетиков и тонких плёнок, объектов полупроводниковой спинтроники. Представляет интерес для научных сотрудников, работающих в области физики поверхности, физики твёрдого тела и магнетизма, а также для студентов и аспирантов физических и инженерных специальностей университетов при изучении спецкурсов физики наносистем.
Доп.точки доступа:
Моргунов, Р. Б.
Коплак, О. В.
Безверхний, А. И.
Дмитриев, О. С.
Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии : монография / Моргунов Р. Б. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018. - 186 с. - ISBN 978-5-8265-1881-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовый микроскоп -- калибровочная решётка -- магнетизм -- магнитно-силовая микроскопия -- магнитный кантилевер -- метод биттера -- острие иглы -- сканируюший микроскоп -- стенка блоха
Аннотация: Изложены современные представления об исследовании поверхности твёрдых тел и органических объектов методом зондовой микроскопии. Рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии в различных режимах сканирования. Представлены возможности использования магнитно-силовой микроскопии в исследовании доменной структуры ферромагнетиков и тонких плёнок, объектов полупроводниковой спинтроники. Представляет интерес для научных сотрудников, работающих в области физики поверхности, физики твёрдого тела и магнетизма, а также для студентов и аспирантов физических и инженерных специальностей университетов при изучении спецкурсов физики наносистем.
Доп.точки доступа:
Моргунов, Р. Б.
Коплак, О. В.
Безверхний, А. И.
Дмитриев, О. С.
2.
Подробнее
Методы диагностики и анализа наносистем : учебное пособие (лабораторный практикум) / сост.: И. М. Шевченко, М. А. Ясная. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2023. - 186 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.383
Кл.слова (ненормированные):
анализ -- диагностика -- зондовый микроскоп -- количественный анализ -- наноинженерия -- наносистема -- наносистема -- спектрофотометр
Аннотация: Пособие составлено в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++) в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой дисциплины «Методы диагностики и анализа наносистем»; в нем представлены лабораторные работы, содержащие краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, рекомендуемую литературу. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности».
Доп.точки доступа:
Шевченко, И. М. \сост.\
Ясная, М. А. \сост.\
Методы диагностики и анализа наносистем : учебное пособие (лабораторный практикум) / сост.: И. М. Шевченко, М. А. Ясная. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2023. - 186 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
анализ -- диагностика -- зондовый микроскоп -- количественный анализ -- наноинженерия -- наносистема -- наносистема -- спектрофотометр
Аннотация: Пособие составлено в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++) в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой дисциплины «Методы диагностики и анализа наносистем»; в нем представлены лабораторные работы, содержащие краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, рекомендуемую литературу. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности».
Доп.точки доступа:
Шевченко, И. М. \сост.\
Ясная, М. А. \сост.\
3.
Подробнее
Методы исследования наноматериалов и наносистем : лабораторный практикум / сост.: И. М. Шевченко, М. А. Ясная. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2022. - 174 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.383
Кл.слова (ненормированные):
зондовый микроскоп -- изображение -- исследование -- наноинженерия -- наноматериал -- наноматериалы -- наносистема -- нанотехнологии
Аннотация: Практикум составлен в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++), в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой. В нем представлены лабораторные работы, содержащие краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, рекомендуемую литературу. Предназначен для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Нанотехнологии и наноматериалы».
Доп.точки доступа:
Шевченко, И. М. \сост.\
Ясная, М. А. \сост.\
Методы исследования наноматериалов и наносистем : лабораторный практикум / сост.: И. М. Шевченко, М. А. Ясная. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2022. - 174 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
зондовый микроскоп -- изображение -- исследование -- наноинженерия -- наноматериал -- наноматериалы -- наносистема -- нанотехнологии
Аннотация: Практикум составлен в соответствии с требованиями Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования (ФГОС ВО 3++), в соответствии с рабочим учебным планом и рабочей программой. В нем представлены лабораторные работы, содержащие краткие теоретические сведения по темам работ, методические указания по их выполнению, планы составления отчета, контрольные вопросы и задания по изучаемой теме, рекомендуемую литературу. Предназначен для студентов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Нанотехнологии и наноматериалы».
Доп.точки доступа:
Шевченко, И. М. \сост.\
Ясная, М. А. \сост.\
Беті 1, Нәтижелерін: 3