База данных: IPR SMART кітаптар
Беті 1, Нәтижелерін: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии : монография / Моргунов Р. Б. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018. - 186 с. - ISBN 978-5-8265-1881-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.334
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовый микроскоп -- калибровочная решётка -- магнетизм -- магнитно-силовая микроскопия -- магнитный кантилевер -- метод биттера -- острие иглы -- сканируюший микроскоп -- стенка блоха
Аннотация: Изложены современные представления об исследовании поверхности твёрдых тел и органических объектов методом зондовой микроскопии. Рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии в различных режимах сканирования. Представлены возможности использования магнитно-силовой микроскопии в исследовании доменной структуры ферромагнетиков и тонких плёнок, объектов полупроводниковой спинтроники. Представляет интерес для научных сотрудников, работающих в области физики поверхности, физики твёрдого тела и магнетизма, а также для студентов и аспирантов физических и инженерных специальностей университетов при изучении спецкурсов физики наносистем.
Доп.точки доступа:
Моргунов, Р. Б.
Коплак, О. В.
Безверхний, А. И.
Дмитриев, О. С.
Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии : монография / Моргунов Р. Б. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018. - 186 с. - ISBN 978-5-8265-1881-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовый микроскоп -- калибровочная решётка -- магнетизм -- магнитно-силовая микроскопия -- магнитный кантилевер -- метод биттера -- острие иглы -- сканируюший микроскоп -- стенка блоха
Аннотация: Изложены современные представления об исследовании поверхности твёрдых тел и органических объектов методом зондовой микроскопии. Рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии в различных режимах сканирования. Представлены возможности использования магнитно-силовой микроскопии в исследовании доменной структуры ферромагнетиков и тонких плёнок, объектов полупроводниковой спинтроники. Представляет интерес для научных сотрудников, работающих в области физики поверхности, физики твёрдого тела и магнетизма, а также для студентов и аспирантов физических и инженерных специальностей университетов при изучении спецкурсов физики наносистем.
Доп.точки доступа:
Моргунов, Р. Б.
Коплак, О. В.
Безверхний, А. И.
Дмитриев, О. С.
2.
Подробнее
Кузнецова, Ю. В.
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе : учебное пособие / Кузнецова Ю. В. - Тверь : Тверской государственный университет, 2023. - 96 с. - ISBN 978-5-7609-1838-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовая микроскопия -- научно-исследовательская работа
Аннотация: Пособие предназначено для студентов естественнонаучных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для ис-следования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата.
Кузнецова, Ю. В.
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе : учебное пособие / Кузнецова Ю. В. - Тверь : Тверской государственный университет, 2023. - 96 с. - ISBN 978-5-7609-1838-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовая микроскопия -- научно-исследовательская работа
Аннотация: Пособие предназначено для студентов естественнонаучных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для ис-следования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата.
Беті 1, Нәтижелерін: 2