База данных: IPR SMART кітаптар
Беті 1, Нәтижелерін: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Чернышев, А. П.
Введение в физику твердого тела и нанофизику. Специальный курс физики. Конспект лекций : учебное пособие / Чернышев А. П. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2019. - 88 с. - ISBN 978-5-7782-4048-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
квантовая механика -- квантовая оптика -- кристаллическая решетка -- нанофизика -- рентгеновский луч -- твердое тело -- физика
Аннотация: В настоящее время идет быстрое развитие элементной базы микроэлектроники. Элементная база изменяется на всех уровнях характерных размеров: от нанометровых элементов микроэлектроники, построенных с применением наночастиц, нанопроволоки и тонких пленок, до электронных компонентов с геометрическими размерами элементов порядка нескольких микрометров. Специальный курс физики позволяет познакомить студентов с основными физическими принципами, положенными в основу разработки и использования современной элементной базы микроэлектроники. Для этого студенты изучают соответствующие разделы квантовой механики, физики твердого тела и квантовой оптики. Настоящее пособие призвано помочь в изучении специального курса физики как на аудиторных занятиях, так и при самостоятельном изучении. Пособие предназначено для студентов МТФ, обучающихся по направлению 15.03.02 «Технологические машины и оборудование» и 15.03.05 «Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств» дневной формы обучения.
Чернышев, А. П.
Введение в физику твердого тела и нанофизику. Специальный курс физики. Конспект лекций : учебное пособие / Чернышев А. П. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2019. - 88 с. - ISBN 978-5-7782-4048-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
квантовая механика -- квантовая оптика -- кристаллическая решетка -- нанофизика -- рентгеновский луч -- твердое тело -- физика
Аннотация: В настоящее время идет быстрое развитие элементной базы микроэлектроники. Элементная база изменяется на всех уровнях характерных размеров: от нанометровых элементов микроэлектроники, построенных с применением наночастиц, нанопроволоки и тонких пленок, до электронных компонентов с геометрическими размерами элементов порядка нескольких микрометров. Специальный курс физики позволяет познакомить студентов с основными физическими принципами, положенными в основу разработки и использования современной элементной базы микроэлектроники. Для этого студенты изучают соответствующие разделы квантовой механики, физики твердого тела и квантовой оптики. Настоящее пособие призвано помочь в изучении специального курса физики как на аудиторных занятиях, так и при самостоятельном изучении. Пособие предназначено для студентов МТФ, обучающихся по направлению 15.03.02 «Технологические машины и оборудование» и 15.03.05 «Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств» дневной формы обучения.
2.
Подробнее
Тарасова, Н. В.
Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом : методические указания к практическим занятиям по дисциплинам «Методы структурного анализа в материаловедении наносистем», «Методы диагностики и испытаний в нанотехнологиях» / Тарасова Н. В. - Липецк : Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. - 24 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- наносистема -- нанотехнология -- рентгеновский луч
Аннотация: Методические указания содержат теоретические сведения о физических основах процессов ослабления, поглощения и рассеяния рентгеновского излучения при взаимодействии с исследуемым веществом, примеры решения задач по расчету показателей ослабления и подбору селективно-поглощающих фильтров, задачи для самостоятельной работы. Предназначены для студентов профиля подготовки «Нанотехнологии и наноматериалы».
Тарасова, Н. В.
Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом : методические указания к практическим занятиям по дисциплинам «Методы структурного анализа в материаловедении наносистем», «Методы диагностики и испытаний в нанотехнологиях» / Тарасова Н. В. - Липецк : Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. - 24 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- наносистема -- нанотехнология -- рентгеновский луч
Аннотация: Методические указания содержат теоретические сведения о физических основах процессов ослабления, поглощения и рассеяния рентгеновского излучения при взаимодействии с исследуемым веществом, примеры решения задач по расчету показателей ослабления и подбору селективно-поглощающих фильтров, задачи для самостоятельной работы. Предназначены для студентов профиля подготовки «Нанотехнологии и наноматериалы».
Беті 1, Нәтижелерін: 2