Электрондық каталог


 

База данных: IPR SMART кітаптар

Беті 5, Нәтижелерін: 70

Отмеченные записи: 0

69545
Филимонова, Н. И.
    Методы электронной микроскопии : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
линза -- микроскоп -- пэм -- сэм -- электронная микроскопия -- электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».

Доп.точки доступа:
Величко, А. А.
Фадеева, Н. Е.

Филимонова, Н. И. Методы электронной микроскопии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Филимонова Н. И., 2016. - 61 с.

41.

Филимонова, Н. И. Методы электронной микроскопии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Филимонова Н. И., 2016. - 61 с.


69545
Филимонова, Н. И.
    Методы электронной микроскопии : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
линза -- микроскоп -- пэм -- сэм -- электронная микроскопия -- электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».

Доп.точки доступа:
Величко, А. А.
Фадеева, Н. Е.

72702
Сулейманов, С. М.
    Микроструктурная организация внутренних органов поросят при рахите. Гистологический атлас : учебное пособие / Сулейманов С. М. - Воронеж : Воронежский Государственный Аграрный Университет им. Императора Петра Первого, 2016. - 98 с. - ISBN 978-5-7267-0847-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 48.1

Кл.слова (ненормированные):
болезнь -- ветеринария -- гистология -- животное -- микроскопия -- орган -- поросенок -- сельское хозяйство
Аннотация: В пособии рассмотрены вопросы возрастной морфологии органов клинически здоровых и больных рахитом поросят. Атлас состоит из шести разделов. Иллюстрирован фотографиями, выполненными при световой микроскопии гистологических срезов органов. Предназначен для студентов факультетов ветеринарной медицины, преподавателей специализированных высших и средних учебных заведений, практикующих ветеринарных врачей.

Доп.точки доступа:
Дерезина, Т. Н.
Паршин, П. А.

Сулейманов, С. М. Микроструктурная организация внутренних органов поросят при рахите. Гистологический атлас [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Сулейманов С. М., 2016. - 98 с.

42.

Сулейманов, С. М. Микроструктурная организация внутренних органов поросят при рахите. Гистологический атлас [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Сулейманов С. М., 2016. - 98 с.


72702
Сулейманов, С. М.
    Микроструктурная организация внутренних органов поросят при рахите. Гистологический атлас : учебное пособие / Сулейманов С. М. - Воронеж : Воронежский Государственный Аграрный Университет им. Императора Петра Первого, 2016. - 98 с. - ISBN 978-5-7267-0847-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 48.1

Кл.слова (ненормированные):
болезнь -- ветеринария -- гистология -- животное -- микроскопия -- орган -- поросенок -- сельское хозяйство
Аннотация: В пособии рассмотрены вопросы возрастной морфологии органов клинически здоровых и больных рахитом поросят. Атлас состоит из шести разделов. Иллюстрирован фотографиями, выполненными при световой микроскопии гистологических срезов органов. Предназначен для студентов факультетов ветеринарной медицины, преподавателей специализированных высших и средних учебных заведений, практикующих ветеринарных врачей.

Доп.точки доступа:
Дерезина, Т. Н.
Паршин, П. А.

84705

    Сканирующая зондовая нанотомография / Агапова О. И. - Москва : Техносфера, 2016. - 184 с. - ISBN 978-5-94836-456-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 53.4

Кл.слова (ненормированные):
микроструктура -- наноструктура -- нанотомография -- сзнт
Аннотация: Монография посвящена разработанному в ФГБУ «ФНЦ трансплантологии и искусственных органов им. ак. В.И. Шумакова» Минздрава России современному методу исследования трехмерных микро- наноструктур сканирующей зондовой нанотомографии (СЗНТ), основанной на комбинации сканирующей зондовой микроскопии и ультрамикротомии. В книге проанализированы преимущества и недостатки СЗНТ в сравнении с другими методами анализа ультраструктуры, представлены результаты исследований трехмерной структуры различных биоматериалов и биологических объектов. Рассмотрены ключевые технические решения разработанных аппаратных комплексов для СЗНТ и криоСЗНТ и особенности их патентования. Книга предназначена для специалистов в области нанотехнологий, микроскопии высокого разрешения, структурной биологии, химии полимеров, науки о материалах и других специальностей.

Доп.точки доступа:
Агапова, О. И.
Ефимов, А. Е.
Соколов, Д. Ю.
Агапов, И. И.

Сканирующая зондовая нанотомография [Электронный ресурс] / Агапова О. И., 2016. - 184 с.

43.

Сканирующая зондовая нанотомография [Электронный ресурс] / Агапова О. И., 2016. - 184 с.


84705

    Сканирующая зондовая нанотомография / Агапова О. И. - Москва : Техносфера, 2016. - 184 с. - ISBN 978-5-94836-456-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 53.4

Кл.слова (ненормированные):
микроструктура -- наноструктура -- нанотомография -- сзнт
Аннотация: Монография посвящена разработанному в ФГБУ «ФНЦ трансплантологии и искусственных органов им. ак. В.И. Шумакова» Минздрава России современному методу исследования трехмерных микро- наноструктур сканирующей зондовой нанотомографии (СЗНТ), основанной на комбинации сканирующей зондовой микроскопии и ультрамикротомии. В книге проанализированы преимущества и недостатки СЗНТ в сравнении с другими методами анализа ультраструктуры, представлены результаты исследований трехмерной структуры различных биоматериалов и биологических объектов. Рассмотрены ключевые технические решения разработанных аппаратных комплексов для СЗНТ и криоСЗНТ и особенности их патентования. Книга предназначена для специалистов в области нанотехнологий, микроскопии высокого разрешения, структурной биологии, химии полимеров, науки о материалах и других специальностей.

Доп.точки доступа:
Агапова, О. И.
Ефимов, А. Е.
Соколов, Д. Ю.
Агапов, И. И.

60748
Панова, Т. В.
    Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия : учебное пособие / Панова Т. В. - Омск : Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского, 2016. - 80 с. - ISBN 978-5-7779-2052-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.38я73

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования вещества -- растровая электронная микроскопия -- электронный микроскоп
Аннотация: Дано изложение различных методов просвечивающей и растровой электронной микроскопии, методов оптической микроскопии и их практического применения. Рассматриваются взаимодействие электронов с веществом, принципы формирования изображения в электронном микроскопе, основные узлы электронного микроскопа и способы приготовления образцов. Содержит задания для практической работы. Для студентов старших курсов вузов, изучающих курс «Современные методы исследования вещества».

Панова, Т. В. Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Панова Т. В., 2016. - 80 с.

44.

Панова, Т. В. Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Панова Т. В., 2016. - 80 с.


60748
Панова, Т. В.
    Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия : учебное пособие / Панова Т. В. - Омск : Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского, 2016. - 80 с. - ISBN 978-5-7779-2052-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.38я73

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования вещества -- растровая электронная микроскопия -- электронный микроскоп
Аннотация: Дано изложение различных методов просвечивающей и растровой электронной микроскопии, методов оптической микроскопии и их практического применения. Рассматриваются взаимодействие электронов с веществом, принципы формирования изображения в электронном микроскопе, основные узлы электронного микроскопа и способы приготовления образцов. Содержит задания для практической работы. Для студентов старших курсов вузов, изучающих курс «Современные методы исследования вещества».

103932
Барабаш, Т. К.
    Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии / Барабаш Т. К. - Благовещенск : Амурский государственный университет, 2016. - 148 с. - ISBN 978-5-93493-271-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
доменная структура -- поляризация -- рэм -- сегнетоэлектрик -- физика -- фрактальный метод
Аннотация: В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конфигураций. Проведена диагностика фрактальных размерностей временных зависимостей токов переключения поляризации, индуцированных электронным зондом. Разработана модель, позволяющая описать процесс формирования отклика сегнетоэлектриков в режиме токов электронно-стимулированной поляризации, с учетом фрактального характера динамики доменной структуры. Установлены закономерности изменения формы кривой импульса тока переключения в режиме инжекции при вариации параметров моделирования, соответствующих различным условиям экспериментального наблюдения. Монография предназначена для специалистов, работающих в области сегнетоэлектричества, она может быть полезна исследователям, использующим фрактальные методы для анализа и моделирования сложных физических систем.

Доп.точки доступа:
Масловская, А. Г.

Барабаш, Т. К. Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии [Электронный ресурс] / Барабаш Т. К., 2016. - 148 с.

45.

Барабаш, Т. К. Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии [Электронный ресурс] / Барабаш Т. К., 2016. - 148 с.


103932
Барабаш, Т. К.
    Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии / Барабаш Т. К. - Благовещенск : Амурский государственный университет, 2016. - 148 с. - ISBN 978-5-93493-271-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
доменная структура -- поляризация -- рэм -- сегнетоэлектрик -- физика -- фрактальный метод
Аннотация: В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конфигураций. Проведена диагностика фрактальных размерностей временных зависимостей токов переключения поляризации, индуцированных электронным зондом. Разработана модель, позволяющая описать процесс формирования отклика сегнетоэлектриков в режиме токов электронно-стимулированной поляризации, с учетом фрактального характера динамики доменной структуры. Установлены закономерности изменения формы кривой импульса тока переключения в режиме инжекции при вариации параметров моделирования, соответствующих различным условиям экспериментального наблюдения. Монография предназначена для специалистов, работающих в области сегнетоэлектричества, она может быть полезна исследователям, использующим фрактальные методы для анализа и моделирования сложных физических систем.

Доп.точки доступа:
Масловская, А. Г.

62921
Орловская, Т. В.
    Анализ пищевого растительного сырья : учебное пособие / Орловская Т. В. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2015. - 141 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 53.52я73

Кл.слова (ненормированные):
анализ сырья -- гистохимический анализ -- микрохимический анализ -- пищевое сырье -- растительная клетка -- растительное сырье -- строение клетки -- химический состав
Аннотация: Пособие составлено в соответствии с требованиями Федерального государственного стандарта высшего профессионального образования, рабочим учебным планом и программой дисциплины «Анатомия пищевого сырья», составной частью которой и является данный курс. Содержит лекционный материал, морфолого-анатомическую характеристику растительного пищевого сырья; описание техники проведения различных видов исследования при диагностике сырья (макроскопический, микроскопический, гистохимический, микрохимический), прописи гистохимических и микрохимических реакций на различные группы биологически активных веществ; контрольные вопросы, глоссарий, приложение, литературу. Предназначено для студентов, обучающихся по программам бакалавриата направления подготовки 100800.62 – Товароведение.

Доп.точки доступа:
Беляева, И. А.
Калашнова, Т. В.

Орловская, Т. В. Анализ пищевого растительного сырья [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Орловская Т. В., 2015. - 141 с.

46.

Орловская, Т. В. Анализ пищевого растительного сырья [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Орловская Т. В., 2015. - 141 с.


62921
Орловская, Т. В.
    Анализ пищевого растительного сырья : учебное пособие / Орловская Т. В. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2015. - 141 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 53.52я73

Кл.слова (ненормированные):
анализ сырья -- гистохимический анализ -- микрохимический анализ -- пищевое сырье -- растительная клетка -- растительное сырье -- строение клетки -- химический состав
Аннотация: Пособие составлено в соответствии с требованиями Федерального государственного стандарта высшего профессионального образования, рабочим учебным планом и программой дисциплины «Анатомия пищевого сырья», составной частью которой и является данный курс. Содержит лекционный материал, морфолого-анатомическую характеристику растительного пищевого сырья; описание техники проведения различных видов исследования при диагностике сырья (макроскопический, микроскопический, гистохимический, микрохимический), прописи гистохимических и микрохимических реакций на различные группы биологически активных веществ; контрольные вопросы, глоссарий, приложение, литературу. Предназначено для студентов, обучающихся по программам бакалавриата направления подготовки 100800.62 – Товароведение.

Доп.точки доступа:
Беляева, И. А.
Калашнова, Т. В.

40504

    Введение в фемтонанофотонику. Фундаментальные основы и лазерные методы управляемого получения и диагностики наноструктурированных материалов : учебное пособие / Аракелян С. М. - Москва : Логос, 2015. - 744 с. - ISBN 978-5-98704-812-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
математическое моделирование -- оптоинформатика -- статическая физика -- термодинамика наноструктур -- фемтонанофотоника -- фотоника
Аннотация: Изложены базовые принципы и фундаментальные основы современной фемтонанофотоники с акцентом на перспективы практического использования ее достижений. Рассмотрены вопросы статистической физики и термодинамики наноструктур с применением методов математического моделирования их направленного конструирования. Приведены результаты по лазерному синтезу нанокластерной материи – обсуждаются основные подходы и характеристики, включая лазерно-индуцированное возбуждение нелинейных гидродинамических явлений со стохастическим поведением и фрактальных структур в различных материалах в гибридных экспериментальных схемах, а также методы лазерной диагностики в реальном масштабе времени развития нелинейных динамических процессов и методы электронной и зондовой микроскопии. Проанализированы структурные фазовые переходы и коррелированные макроскопические состояния при управляемом лазерном формировании наночастиц на поверхности твердых тел, в том числе в аспекте проявления размерных эффектов и их квантовых аналогов. Затронуты вопросы метрологического обеспечения нанотехнологий и наноизмерений. Для студентов, обучающихся в высших учебных заведениях по направлениям подготовки «Оптотехника», «Лазерная техника и лазерные технологии», «Фотоника и оптоинформатика», специальностям «Оптотехника» и «Лазерная техника и лазерные технологии». Для преподавателей вузов, обеспечивающих проведение учебных занятий в области нанотехнологий и связанной с ними тематикой. Представляет интерес для ученых и специалистов, разрабатывающих проблемы фемтонанофотоники.

Доп.точки доступа:
Аракелян, С. М.
Кучерик, А. О.
Прокошев, В. Г.
Рау, В. Г.
Сергеев, А. Г.
Аракелян, С. М. \ред.\

Введение в фемтонанофотонику. Фундаментальные основы и лазерные методы управляемого получения и диагностики наноструктурированных материалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Аракелян С. М., 2015. - 744 с.

47.

Введение в фемтонанофотонику. Фундаментальные основы и лазерные методы управляемого получения и диагностики наноструктурированных материалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Аракелян С. М., 2015. - 744 с.


40504

    Введение в фемтонанофотонику. Фундаментальные основы и лазерные методы управляемого получения и диагностики наноструктурированных материалов : учебное пособие / Аракелян С. М. - Москва : Логос, 2015. - 744 с. - ISBN 978-5-98704-812-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
математическое моделирование -- оптоинформатика -- статическая физика -- термодинамика наноструктур -- фемтонанофотоника -- фотоника
Аннотация: Изложены базовые принципы и фундаментальные основы современной фемтонанофотоники с акцентом на перспективы практического использования ее достижений. Рассмотрены вопросы статистической физики и термодинамики наноструктур с применением методов математического моделирования их направленного конструирования. Приведены результаты по лазерному синтезу нанокластерной материи – обсуждаются основные подходы и характеристики, включая лазерно-индуцированное возбуждение нелинейных гидродинамических явлений со стохастическим поведением и фрактальных структур в различных материалах в гибридных экспериментальных схемах, а также методы лазерной диагностики в реальном масштабе времени развития нелинейных динамических процессов и методы электронной и зондовой микроскопии. Проанализированы структурные фазовые переходы и коррелированные макроскопические состояния при управляемом лазерном формировании наночастиц на поверхности твердых тел, в том числе в аспекте проявления размерных эффектов и их квантовых аналогов. Затронуты вопросы метрологического обеспечения нанотехнологий и наноизмерений. Для студентов, обучающихся в высших учебных заведениях по направлениям подготовки «Оптотехника», «Лазерная техника и лазерные технологии», «Фотоника и оптоинформатика», специальностям «Оптотехника» и «Лазерная техника и лазерные технологии». Для преподавателей вузов, обеспечивающих проведение учебных занятий в области нанотехнологий и связанной с ними тематикой. Представляет интерес для ученых и специалистов, разрабатывающих проблемы фемтонанофотоники.

Доп.точки доступа:
Аракелян, С. М.
Кучерик, А. О.
Прокошев, В. Г.
Рау, В. Г.
Сергеев, А. Г.
Аракелян, С. М. \ред.\

52133
Недзьведь, М. К.
    Патологическая анатомия : учебник / Недзьведь М. К. - Минск : Вышэйшая школа, 2015. - 679 с. - ISBN 978-985-06-2515-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 52.5

Кл.слова (ненормированные):
патогенез -- патологическая анатомия -- этиология
Аннотация: Изложены макро- и микроскопические характеристики различных процессов (альтерации, воспаления и т.д.). Рассмотрены этиология, патогенез, классификация и морфологические изменения при болезнях системы крови, органов дыхания, пищеварения, выделения, сердечно-сосудистой, костной и нервно-мышечной систем, желез внутренней секреции. Для студентов учреждений высшего медицинского образования, практикующих патологоанатомов.

Доп.точки доступа:
Черствый, Е. Д.

Недзьведь, М. К. Патологическая анатомия [Электронный ресурс] : Учебник / Недзьведь М. К., 2015. - 679 с.

48.

Недзьведь, М. К. Патологическая анатомия [Электронный ресурс] : Учебник / Недзьведь М. К., 2015. - 679 с.


52133
Недзьведь, М. К.
    Патологическая анатомия : учебник / Недзьведь М. К. - Минск : Вышэйшая школа, 2015. - 679 с. - ISBN 978-985-06-2515-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 52.5

Кл.слова (ненормированные):
патогенез -- патологическая анатомия -- этиология
Аннотация: Изложены макро- и микроскопические характеристики различных процессов (альтерации, воспаления и т.д.). Рассмотрены этиология, патогенез, классификация и морфологические изменения при болезнях системы крови, органов дыхания, пищеварения, выделения, сердечно-сосудистой, костной и нервно-мышечной систем, желез внутренней секреции. Для студентов учреждений высшего медицинского образования, практикующих патологоанатомов.

Доп.точки доступа:
Черствый, Е. Д.

26894
Неволин, В. К.
    Зондовые нанотехнологии в электронике / Неволин В. К. - Москва : Техносфера, 2014. - 174 с. - ISBN 978-5-94836-382-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- зондовые нанотехнологии -- интегральная схема -- квантовая схема -- электроника -- электрохимический массоперенос
Аннотация: Прогресс в микроэлектронике связывают с уменьшением линейных размеров функциональных элементов. Если их размеры становятся порядка нанометров, то существенными являются квантовые эффекты, принципиально меняющие физику работы. Созданием таких элементов и интегральных квантовых схем на их основе занимается нанотехнология. В монографии изложены физические основы зондовой нанотехнологии на базе сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, показаны основные достижения, обсуждаются проблемы, требующие решения. Предназначена для студентов старших курсов, аспирантов и молодых ученых, желающих познакомиться с новым научным направлением и попробовать свои силы в развитии технологии ХХI века.

Неволин, В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике [Электронный ресурс] / Неволин В. К., 2014. - 174 с.

49.

Неволин, В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике [Электронный ресурс] / Неволин В. К., 2014. - 174 с.


26894
Неволин, В. К.
    Зондовые нанотехнологии в электронике / Неволин В. К. - Москва : Техносфера, 2014. - 174 с. - ISBN 978-5-94836-382-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- зондовые нанотехнологии -- интегральная схема -- квантовая схема -- электроника -- электрохимический массоперенос
Аннотация: Прогресс в микроэлектронике связывают с уменьшением линейных размеров функциональных элементов. Если их размеры становятся порядка нанометров, то существенными являются квантовые эффекты, принципиально меняющие физику работы. Созданием таких элементов и интегральных квантовых схем на их основе занимается нанотехнология. В монографии изложены физические основы зондовой нанотехнологии на базе сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, показаны основные достижения, обсуждаются проблемы, требующие решения. Предназначена для студентов старших курсов, аспирантов и молодых ученых, желающих познакомиться с новым научным направлением и попробовать свои силы в развитии технологии ХХI века.

61986
Вознесенский, Э. Ф.
    Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.33я7

Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.

Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.

Вознесенский, Э. Ф. Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Вознесенский Э. Ф., 2014. - 184 с.

50.

Вознесенский, Э. Ф. Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Вознесенский Э. Ф., 2014. - 184 с.


61986
Вознесенский, Э. Ф.
    Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.33я7

Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.

Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.

Беті 5, Нәтижелерін: 70

 

Барлық түсімдер 
Немесе қызығушылық танытқан айыңызды таңдаңыз