Электрондық каталог


 

База данных: IPR SMART кітаптар

Беті 1, Нәтижелерін: 1

Отмеченные записи: 0

133660
Пахаруков, Ю. В.
    Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов : учебное пособие / Пахаруков Ю. В. - Тюмень : Тюменский индустриальный университет, 2023. - 98 с. - ISBN 978-5-9961-3051-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.607

Кл.слова (ненормированные):
xafs-спектроскопия -- материал -- неразрушающий контроль -- синхротронное излучение -- спектроскопические свойства
Аннотация: Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся в тюменском индустриальном университете по направлению приборостроение неразрушающий контроль и материаловедение. Материал пособия написан для бакалавров, специалистов и аспирантов. Пособие содержит подробное описание синхротронного излучения с последующим анализом его спектроскопических свойств и возможностью применения в неразрушающем контроле.

Доп.точки доступа:
Шабиев, Ф. К.
Сафаргалиев, Р. Ф.

Пахаруков, Ю. В. Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Пахаруков Ю. В., 2023. - 98 с.

1.

Пахаруков, Ю. В. Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Пахаруков Ю. В., 2023. - 98 с.


133660
Пахаруков, Ю. В.
    Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов : учебное пособие / Пахаруков Ю. В. - Тюмень : Тюменский индустриальный университет, 2023. - 98 с. - ISBN 978-5-9961-3051-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.607

Кл.слова (ненормированные):
xafs-спектроскопия -- материал -- неразрушающий контроль -- синхротронное излучение -- спектроскопические свойства
Аннотация: Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся в тюменском индустриальном университете по направлению приборостроение неразрушающий контроль и материаловедение. Материал пособия написан для бакалавров, специалистов и аспирантов. Пособие содержит подробное описание синхротронного излучения с последующим анализом его спектроскопических свойств и возможностью применения в неразрушающем контроле.

Доп.точки доступа:
Шабиев, Ф. К.
Сафаргалиев, Р. Ф.

Беті 1, Нәтижелерін: 1

 

Барлық түсімдер 
Немесе қызығушылық танытқан айыңызды таңдаңыз