База данных: IPR SMART кітаптар
Беті 1, Нәтижелерін: 1
Отмеченные записи: 0
1.
![](http://e-lib.dulaty.kz/wp-content/plugins/skelib/skelib_public/template/images/book-cover-not.png)
Подробнее
133660
Пахаруков, Ю. В.
Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов : учебное пособие / Пахаруков Ю. В. - Тюмень : Тюменский индустриальный университет, 2023. - 98 с. - ISBN 978-5-9961-3051-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.607
Кл.слова (ненормированные):
xafs-спектроскопия -- материал -- неразрушающий контроль -- синхротронное излучение -- спектроскопические свойства
Аннотация: Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся в тюменском индустриальном университете по направлению приборостроение неразрушающий контроль и материаловедение. Материал пособия написан для бакалавров, специалистов и аспирантов. Пособие содержит подробное описание синхротронного излучения с последующим анализом его спектроскопических свойств и возможностью применения в неразрушающем контроле.
Доп.точки доступа:
Шабиев, Ф. К.
Сафаргалиев, Р. Ф.
Пахаруков, Ю. В.
Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов : учебное пособие / Пахаруков Ю. В. - Тюмень : Тюменский индустриальный университет, 2023. - 98 с. - ISBN 978-5-9961-3051-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
УДК |
Кл.слова (ненормированные):
xafs-спектроскопия -- материал -- неразрушающий контроль -- синхротронное излучение -- спектроскопические свойства
Аннотация: Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся в тюменском индустриальном университете по направлению приборостроение неразрушающий контроль и материаловедение. Материал пособия написан для бакалавров, специалистов и аспирантов. Пособие содержит подробное описание синхротронного излучения с последующим анализом его спектроскопических свойств и возможностью применения в неразрушающем контроле.
Доп.точки доступа:
Шабиев, Ф. К.
Сафаргалиев, Р. Ф.
Беті 1, Нәтижелерін: 1