Электронный каталог


 

База данных: Каталог ЭБС IPR SMART

Страница 1, Результатов: 1

Отмеченные записи: 0

61986
Вознесенский, Э. Ф.
    Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.33я7

Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.

Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.

Вознесенский, Э. Ф. Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Вознесенский Э. Ф., 2014. - 184 с.

1.

Вознесенский, Э. Ф. Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Вознесенский Э. Ф., 2014. - 184 с.


61986
Вознесенский, Э. Ф.
    Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.33я7

Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.

Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.

Страница 1, Результатов: 1

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц