База данных: Каталог ЭБС IPR SMART
Страница 1, Результатов: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3 : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2009 - .Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3 / Данилов В. С. - 2009. - 80 с. - ISBN 978-5-7782-1284-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.85
Кл.слова (ненормированные):
анализ процесса -- полупроводниковое устройство -- анализ тока
Аннотация: В третьей части учебного пособия рассмотрены наиболее важные процессы, происходящие в МОП-транзисторах. Адресовано студентам, специализирующимся в области создания полупроводниковых устройств.
Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3 : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2009 - .Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3 / Данилов В. С. - 2009. - 80 с. - ISBN 978-5-7782-1284-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
анализ процесса -- полупроводниковое устройство -- анализ тока
Аннотация: В третьей части учебного пособия рассмотрены наиболее важные процессы, происходящие в МОП-транзисторах. Адресовано студентам, специализирующимся в области создания полупроводниковых устройств.
2.
Подробнее
Задачи инженерного анализа процессов и аппаратов химической и биотехнологии в среде NX : учебное пособие / Акулинин Е. И. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018. - 80 с. - ISBN 978-5-8265-1934-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК з966
Кл.слова (ненормированные):
siemens nx -- анализ процесса -- биотехнология -- инженерный анализ -- компьютерная модель -- математическое моделирование -- системный анализ -- химическая технология
Аннотация: Посвящено решению задач инженерного анализа в среде Siemens NX. Представлены разделы по основам математического моделирования температурных полей и напряжённо-деформированного состояния элементов технических систем. Изложены особенности применения пакета для решения типовых задач химической технологии. Разработан лабораторный практикум и приведены примеры пошагового построения математических моделей для расчёта полей перемещений, напряжений и температур. Предназначено для студентов и магистрантов направлений: 19.03.01, 19.04.01 «Биотехнология», 19.03.02, 19.04.02 «Продукты питания из растительного сырья», 15.04.01 «Машиностроение».
Доп.точки доступа:
Акулинин, Е. И.
Глебов, А. О.
Дедов, Д. Л.
Карпов, С. В.
Обухов, А. Д.
Задачи инженерного анализа процессов и аппаратов химической и биотехнологии в среде NX : учебное пособие / Акулинин Е. И. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018. - 80 с. - ISBN 978-5-8265-1934-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
siemens nx -- анализ процесса -- биотехнология -- инженерный анализ -- компьютерная модель -- математическое моделирование -- системный анализ -- химическая технология
Аннотация: Посвящено решению задач инженерного анализа в среде Siemens NX. Представлены разделы по основам математического моделирования температурных полей и напряжённо-деформированного состояния элементов технических систем. Изложены особенности применения пакета для решения типовых задач химической технологии. Разработан лабораторный практикум и приведены примеры пошагового построения математических моделей для расчёта полей перемещений, напряжений и температур. Предназначено для студентов и магистрантов направлений: 19.03.01, 19.04.01 «Биотехнология», 19.03.02, 19.04.02 «Продукты питания из растительного сырья», 15.04.01 «Машиностроение».
Доп.точки доступа:
Акулинин, Е. И.
Глебов, А. О.
Дедов, Д. Л.
Карпов, С. В.
Обухов, А. Д.
Страница 1, Результатов: 2