Электронный каталог


 

База данных: Каталог ЭБС IPR SMART

Страница 1, Результатов: 1

Отмеченные записи: 0

106117
Горлов, М. И.
    Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий / Горлов М. И. - Ульяновск : Ульяновский государственный технический университет, 2020. - 471 с. - ISBN 978-5-9795-2000-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 31.2

Кл.слова (ненормированные):
диагностический контроль -- диагностический метод -- интегральная схема -- качество -- полупроводниковое изделие -- радиоэлектронная аппаратура
Аннотация: В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

Доп.точки доступа:
Сергеев, В. А.
Горлова, М. И. \ред.\

Горлов, М. И. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий [Электронный ресурс] / Горлов М. И., 2020. - 471 с.

1.

Горлов, М. И. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий [Электронный ресурс] / Горлов М. И., 2020. - 471 с.


106117
Горлов, М. И.
    Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий / Горлов М. И. - Ульяновск : Ульяновский государственный технический университет, 2020. - 471 с. - ISBN 978-5-9795-2000-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 31.2

Кл.слова (ненормированные):
диагностический контроль -- диагностический метод -- интегральная схема -- качество -- полупроводниковое изделие -- радиоэлектронная аппаратура
Аннотация: В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

Доп.точки доступа:
Сергеев, В. А.
Горлова, М. И. \ред.\

Страница 1, Результатов: 1

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц