Электронный каталог


 

База данных: Каталог ЭБС IPR SMART

Страница 1, Результатов: 6

Отмеченные записи: 0

128969
Блесман, А. И.
    Методы исследования наноматериалов : учебное пособие / Блесман А. И. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 79 с. - ISBN 978-5-4497-1978-2, 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.37

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- наноинженерия -- наноматериал -- рентген -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов — растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплину «Методы исследования наноматериалов», а также будет полезно при прохождении практики и выполнении ВКР.

Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.
Полонянкин, Д. А.

Блесман, А. И. Методы исследования наноматериалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Блесман А. И., 2023. - 79 с.

1.

Блесман, А. И. Методы исследования наноматериалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Блесман А. И., 2023. - 79 с.


128969
Блесман, А. И.
    Методы исследования наноматериалов : учебное пособие / Блесман А. И. - Москва : Ай Пи Ар Медиа, 2023. - 79 с. - ISBN 978-5-4497-1978-2, 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.37

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- наноинженерия -- наноматериал -- рентген -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов — растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие предназначено студентам, обучающимся по направлениям подготовки 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия», изучающих дисциплину «Методы исследования наноматериалов», а также будет полезно при прохождении практики и выполнении ВКР.

Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.
Полонянкин, Д. А.

129167

    Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 : учебное пособие / Билалов А. В. - Казань : Издательство КНИТУ, 2022. - 108 с. - ISBN 978-5-7882-2934-8, 978-5-7882-3094-8 (ч.3) : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 24.5

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- масс-спектрометрия -- реометрия -- спектроскопия -- химия -- хроматография
Аннотация: Предложены вопросы, задания и тесты для контроля знаний и умений, полученных студентами при изучении курса «Инструментальные методы исследования в химической технологии». Предназначено для магистрантов, обучающихся по направлению подготовки 18.04.01 «Химическая технология», а также для слушателей вузов и техникумов химических и химико-технологических специальностей. Подготовлено на кафедре физической и коллоидной химии.

Доп.точки доступа:
Билалов, А. В.
Галяметдинов, Ю. Г.
Осипова, В. В.
Романова, К. А.
Шамилов, Р. Р.

Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Билалов А. В., 2022. - 108 с.

2.

Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Билалов А. В., 2022. - 108 с.


129167

    Теоретические и экспериментальные методы исследования в химии. Контрольные задания и тесты. В 3 частях. Ч.3 : учебное пособие / Билалов А. В. - Казань : Издательство КНИТУ, 2022. - 108 с. - ISBN 978-5-7882-2934-8, 978-5-7882-3094-8 (ч.3) : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 24.5

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- масс-спектрометрия -- реометрия -- спектроскопия -- химия -- хроматография
Аннотация: Предложены вопросы, задания и тесты для контроля знаний и умений, полученных студентами при изучении курса «Инструментальные методы исследования в химической технологии». Предназначено для магистрантов, обучающихся по направлению подготовки 18.04.01 «Химическая технология», а также для слушателей вузов и техникумов химических и химико-технологических специальностей. Подготовлено на кафедре физической и коллоидной химии.

Доп.точки доступа:
Билалов, А. В.
Галяметдинов, Ю. Г.
Осипова, В. В.
Романова, К. А.
Шамилов, Р. Р.

118616

    Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.371

Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».

Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.

Методы исследования структуры твердых тел [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Ожерельев В. В., 2021. - 108 с.

3.

Методы исследования структуры твердых тел [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Ожерельев В. В., 2021. - 108 с.


118616

    Методы исследования структуры твердых тел : учебное пособие / Ожерельев В. В. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2021. - 108 с. - ISBN 978-5-7731-0987-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.371

Кл.слова (ненормированные):
исследование -- микроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- спектроскопия -- структура -- твердое тело -- электронография
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены методы исследования структуры твердых тел: рентгеновская дифрактометрия, электронография, атомно-силовая микроскопия, оже-электронная спектроскопия. Приводится описание физических основ методов, используемого оборудования и методик анализа данных. Издание предназначено для студентов направлений 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и 16.03.01 «Техническая физика» для изучения дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем» и «Структурные методы исследований».

Доп.точки доступа:
Ожерельев, В. В.
Костюченко, А. В.
Канныкин, С. В.
Донцов, А. И.

124891
Рогачев, Е. А.
    Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е. А. - Омск : Омский государственный технический университет, 2021. - 88 с. - ISBN 978-5-8149-3367-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
исследование -- материал -- севременные методы
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.

Рогачев, Е. А. Физические основы современных методов исследования материалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Рогачев Е. А., 2021. - 88 с.

4.

Рогачев, Е. А. Физические основы современных методов исследования материалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Рогачев Е. А., 2021. - 88 с.


124891
Рогачев, Е. А.
    Физические основы современных методов исследования материалов : учебное пособие / Рогачев Е. А. - Омск : Омский государственный технический университет, 2021. - 88 с. - ISBN 978-5-8149-3367-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
исследование -- материал -- севременные методы
Аннотация: Рассмотрены физические процессы, законы и явления, лежащие в основе различных методов исследования материалов, таких как сканирующая зондовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, ИК-спектроскопия, рентгеновская дифрактометрия и др. Представлен материал для самостоятельной работы в виде практических заданий.\nУчебное пособие предназначено для студентов бакалавриата, магистратуры и аспирантов, обучающихся по специальностям, связанным с проектированием оборудования и разработкой специальных технологий создания новых материалов.

87446

    Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии : монография / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 156 с. - ISBN 978-5-9275-2415-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.36

Кл.слова (ненормированные):
кремниевая матрица -- металлооксидная наноструктура -- нанокомпозит -- нанокомпозитная пленка -- оксид 3d-металла -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская спектроскопия -- углеродная матрица -- электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.

Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.
Шматко, В. А.
Фуник, А. О.
Невзорова, Н. М.

Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии [Электронный ресурс] : Монография / Яловега Г. Э., 2017. - 156 с.

5.

Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии [Электронный ресурс] : Монография / Яловега Г. Э., 2017. - 156 с.


87446

    Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии : монография / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 156 с. - ISBN 978-5-9275-2415-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 30.36

Кл.слова (ненормированные):
кремниевая матрица -- металлооксидная наноструктура -- нанокомпозит -- нанокомпозитная пленка -- оксид 3d-металла -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская спектроскопия -- углеродная матрица -- электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.

Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.
Шматко, В. А.
Фуник, А. О.
Невзорова, Н. М.

111703

    Основы рентгеновской дифрактометрии : лабораторный практикум / сост. Ю. В. Великанова. - Самара : Самарский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2020. - 78 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.344

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- кристалл -- лабораторная работа -- рентген
Аннотация: Данные лабораторные работы знакомят обучающихся с основами дифракционных методов исследования кристаллов и с базовыми понятиями кристаллографии. Материал предназначен для студентов 4 курса очной и очно-заочной формы обучения и преподавателей дисциплины «Основы рентгеновской дифрактометрии».

Доп.точки доступа:
Великанова, Ю. В. \сост.\

Основы рентгеновской дифрактометрии [Электронный ресурс] : Лабораторный практикум / сост. Ю. В. Великанова, 2020. - 78 с.

6.

Основы рентгеновской дифрактометрии [Электронный ресурс] : Лабораторный практикум / сост. Ю. В. Великанова, 2020. - 78 с.


111703

    Основы рентгеновской дифрактометрии : лабораторный практикум / сост. Ю. В. Великанова. - Самара : Самарский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2020. - 78 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 22.344

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- кристалл -- лабораторная работа -- рентген
Аннотация: Данные лабораторные работы знакомят обучающихся с основами дифракционных методов исследования кристаллов и с базовыми понятиями кристаллографии. Материал предназначен для студентов 4 курса очной и очно-заочной формы обучения и преподавателей дисциплины «Основы рентгеновской дифрактометрии».

Доп.точки доступа:
Великанова, Ю. В. \сост.\

Страница 1, Результатов: 6

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц