База данных: Каталог ЭБС IPR SMART
Страница 1, Результатов: 1
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / Ищенко А. В. - Екатеринбург : Уральский федеральный университет, 2017. - 180 с. - ISBN 978-5-321-02523-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- зондовый прибор -- изображение -- наноиндентор -- поверхность -- сзм -- туннельная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены основы методов получения изображений в сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Практическая часть пособия знакомит с устройством зондовых приборов, принципами их работы и режимами настройки. Представлены примеры лабораторных практикумов для обучения основным навыкам работы с оборудованием для СЗМ и со специализированным программным обеспечением, которое позволяет проводить анализ и обработку изображений, полученных при различных режимах работы зондового микроскопа. Пособие предназначено для бакалавров, магистров и специалистов инженерно-технических и естественно-научных образовательных направлений. Учебное пособие разработано в научно-образовательном центре «Наноматериалы и нанотехнологии» УрФУ.
Доп.точки доступа:
Ищенко, А. В.
Вохминцев, А. С.
Огородников, И. И.
Вайнштейн, И. А.
Шульгина, Б. В. \ред.\
Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / Ищенко А. В. - Екатеринбург : Уральский федеральный университет, 2017. - 180 с. - ISBN 978-5-321-02523-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- зондовый прибор -- изображение -- наноиндентор -- поверхность -- сзм -- туннельная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии представлены основы методов получения изображений в сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Практическая часть пособия знакомит с устройством зондовых приборов, принципами их работы и режимами настройки. Представлены примеры лабораторных практикумов для обучения основным навыкам работы с оборудованием для СЗМ и со специализированным программным обеспечением, которое позволяет проводить анализ и обработку изображений, полученных при различных режимах работы зондового микроскопа. Пособие предназначено для бакалавров, магистров и специалистов инженерно-технических и естественно-научных образовательных направлений. Учебное пособие разработано в научно-образовательном центре «Наноматериалы и нанотехнологии» УрФУ.
Доп.точки доступа:
Ищенко, А. В.
Вохминцев, А. С.
Огородников, И. И.
Вайнштейн, И. А.
Шульгина, Б. В. \ред.\
Страница 1, Результатов: 1