Электронный каталог


 

База данных: Каталог ЭБС IPR SMART

Страница 1, Результатов: 1

Отмеченные записи: 0

124289
Гуревич, В. И.
    Уязвимости микропроцессорных реле защиты: проблемы и решения : учебно-практическое пособие / Гуревич В. И. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2022. - 256 с. - ISBN 978-5-9729-0916-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 31.27

Кл.слова (ненормированные):
кибернетическое воздействие -- микропроцессорные устройства -- реле защиты -- уязвимость -- электромагнит
Аннотация: Подробно рассмотрены проблемы уязвимости микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) к естественным и преднамеренным деструктивным воздействиям, включающим кибернетические и электромагнитные воздействия. Описаны современные технические средства, с помощью которых могут осуществляться преднамеренные дистанционные деструктивные воздействия на МУРЗ. Рассмотрены как традиционные пассивные (экранированные шкафы, фильтры, кабели, специальные материалы и покрытия) средства защиты, так и новые, основанные на схемотехнических и аппаратных методах. Для инженеров, занимающихся разработкой, проектированием и эксплуатацией релейной защиты, а также для научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов соответствующих дисциплин средних и высших учебных заведений.

Гуревич, В. И. Уязвимости микропроцессорных реле защиты: проблемы и решения [Электронный ресурс] : Учебно-практическое пособие / Гуревич В. И., 2022. - 256 с.

1.

Гуревич, В. И. Уязвимости микропроцессорных реле защиты: проблемы и решения [Электронный ресурс] : Учебно-практическое пособие / Гуревич В. И., 2022. - 256 с.


124289
Гуревич, В. И.
    Уязвимости микропроцессорных реле защиты: проблемы и решения : учебно-практическое пособие / Гуревич В. И. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2022. - 256 с. - ISBN 978-5-9729-0916-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 31.27

Кл.слова (ненормированные):
кибернетическое воздействие -- микропроцессорные устройства -- реле защиты -- уязвимость -- электромагнит
Аннотация: Подробно рассмотрены проблемы уязвимости микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) к естественным и преднамеренным деструктивным воздействиям, включающим кибернетические и электромагнитные воздействия. Описаны современные технические средства, с помощью которых могут осуществляться преднамеренные дистанционные деструктивные воздействия на МУРЗ. Рассмотрены как традиционные пассивные (экранированные шкафы, фильтры, кабели, специальные материалы и покрытия) средства защиты, так и новые, основанные на схемотехнических и аппаратных методах. Для инженеров, занимающихся разработкой, проектированием и эксплуатацией релейной защиты, а также для научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов соответствующих дисциплин средних и высших учебных заведений.

Страница 1, Результатов: 1

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц