База данных: Каталог ЭБС IPR SMART
Страница 1, Результатов: 1
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Бахматов, П. В.
Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 148 с. - ISBN 978-5-9729-2061-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 34.641
Кл.слова (ненормированные):
порообразование -- растровая микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- рэм -- сварное соединение -- сварочная проволока -- фрактография -- электронная микроскопия
Аннотация: Приведены сведения об основах и принципах проведения растровой электронной микроскопии. Описаны основные функциональные возможности Hitachi 3400N. Показаны результаты научных исследований в решении инженерных задач с применением растрового электронного микроскопа: качественный анализ распределения легирующих элементов как по плоскости сканируемого образца, так и по заданному направлению, фрактография, диффузионные слои в сварных соединениях, изучение поверхности свариваемых кромок и сварочной проволоки, причин порообразования в металле шва и другое. Включены как обобщение многочисленных публикаций в отечественной и зарубежной специализированной литературе, так и собственные исследования авторов. Для студентов, магистров, аспирантов технических университетов и институтов, а также специалистов НИИ, КБ, предприятий авиационно-космического комплекса. Материалы книги могут служить основой для разработки технологических рекомендаций, стандартов, определяющих содержание учебных планов, учебно-методических пособий, для профессиональной подготовки инженерных и научных кадров.
Доп.точки доступа:
Григорьев, В. В.
Калугина, А. А.
Бахматов, П. В.
Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке : учебное пособие / Бахматов П. В. - Москва, Вологда : Инфра-Инженерия, 2024. - 148 с. - ISBN 978-5-9729-2061-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
порообразование -- растровая микроскопия -- рентгеноспектральный микроанализ -- рэм -- сварное соединение -- сварочная проволока -- фрактография -- электронная микроскопия
Аннотация: Приведены сведения об основах и принципах проведения растровой электронной микроскопии. Описаны основные функциональные возможности Hitachi 3400N. Показаны результаты научных исследований в решении инженерных задач с применением растрового электронного микроскопа: качественный анализ распределения легирующих элементов как по плоскости сканируемого образца, так и по заданному направлению, фрактография, диффузионные слои в сварных соединениях, изучение поверхности свариваемых кромок и сварочной проволоки, причин порообразования в металле шва и другое. Включены как обобщение многочисленных публикаций в отечественной и зарубежной специализированной литературе, так и собственные исследования авторов. Для студентов, магистров, аспирантов технических университетов и институтов, а также специалистов НИИ, КБ, предприятий авиационно-космического комплекса. Материалы книги могут служить основой для разработки технологических рекомендаций, стандартов, определяющих содержание учебных планов, учебно-методических пособий, для профессиональной подготовки инженерных и научных кадров.
Доп.точки доступа:
Григорьев, В. В.
Калугина, А. А.
Страница 1, Результатов: 1