База данных: Каталог ЭБС IPR SMART
Страница 1, Результатов: 4
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Чернышов, Д. Ю.
Структурные исследования функциональных материалов методами рассеяния синхротронного излучения : учебное пособие / Чернышов Д. Ю. - Санкт-Петербург : Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, 2020. - 111 с. - ISBN 978-5-7422-7052-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.37
Кл.слова (ненормированные):
метод рассеяния -- синхротронное излучение -- физика твердого тела
Аннотация: Соответствует содержанию рабочей программы дисциплины «Ядерно-физические методы в физике твердого тела» по направлению магистерской подготовки 16.04.01 «Техническая физика». Рассмотрены физические принципы проведения структурных исследований материалов методами рассеяния синхротронного излучения. Главное внимание уделено основным структурным механизмам, определяющим физические свойства ряда материалов, в том числе молекулярных структур, сегнетоэлектрических пленок и кристаллов, а также базовым физическим принципам новых методов структурного эксперимента в электрическом поле и новым подходам к анализу больших объемов экспериментальной информации. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки магистров «Техническая физика», а также для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микроэлектроника», для аспирантов и специалистов в области экспериментальной технической физики. Может использоваться в системе повышения квалификации, в учреждениях дополнительного профессионального образования.
Доп.точки доступа:
Вахрушев, С. Б.
Филимонов, А. В.
Чернышов, Д. Ю.
Структурные исследования функциональных материалов методами рассеяния синхротронного излучения : учебное пособие / Чернышов Д. Ю. - Санкт-Петербург : Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, 2020. - 111 с. - ISBN 978-5-7422-7052-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
метод рассеяния -- синхротронное излучение -- физика твердого тела
Аннотация: Соответствует содержанию рабочей программы дисциплины «Ядерно-физические методы в физике твердого тела» по направлению магистерской подготовки 16.04.01 «Техническая физика». Рассмотрены физические принципы проведения структурных исследований материалов методами рассеяния синхротронного излучения. Главное внимание уделено основным структурным механизмам, определяющим физические свойства ряда материалов, в том числе молекулярных структур, сегнетоэлектрических пленок и кристаллов, а также базовым физическим принципам новых методов структурного эксперимента в электрическом поле и новым подходам к анализу больших объемов экспериментальной информации. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки магистров «Техническая физика», а также для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микроэлектроника», для аспирантов и специалистов в области экспериментальной технической физики. Может использоваться в системе повышения квалификации, в учреждениях дополнительного профессионального образования.
Доп.точки доступа:
Вахрушев, С. Б.
Филимонов, А. В.
2.
Подробнее
Синхротронное рентгеновское излучение и его применение для исследования почв и растений: возможности и перспективы : учебное пособие / Минкина Т. М. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2018. - 108 с. - ISBN 978-5-9275-2437-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 40.3
Кл.слова (ненормированные):
исследование почвы -- исследование ризосферы -- метод спектроскопии -- рентгеновская микрофлуоресценция -- рентгеновское излучение -- рентгеновское поглощение -- синхротронное излучение -- тяжелый металл
Аннотация: В учебном пособии освещается применение инструментальных высокотехнологичных методов рентгеновского синхротронного излучения для исследования почв и растений. Особое внимание уделяется возможностям практического применения новейших методов рентгеноспектральной диагностики для исследования почвенных и растительных объектов на молекулярном и атомарном уровне. Учебное пособие предназначено для студентов магистратуры, обучающихся по направлению 06.04.02 «Управление и оценка земельных ресурсов», а также для студентов естественных факультетов, специализирующихся в области охраны окружающей среды.
Доп.точки доступа:
Минкина, Т. М.
Солдатов, А. В.
Невидомская, Д. Г.
Цицуашвили, В. С.
Синхротронное рентгеновское излучение и его применение для исследования почв и растений: возможности и перспективы : учебное пособие / Минкина Т. М. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2018. - 108 с. - ISBN 978-5-9275-2437-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование почвы -- исследование ризосферы -- метод спектроскопии -- рентгеновская микрофлуоресценция -- рентгеновское излучение -- рентгеновское поглощение -- синхротронное излучение -- тяжелый металл
Аннотация: В учебном пособии освещается применение инструментальных высокотехнологичных методов рентгеновского синхротронного излучения для исследования почв и растений. Особое внимание уделяется возможностям практического применения новейших методов рентгеноспектральной диагностики для исследования почвенных и растительных объектов на молекулярном и атомарном уровне. Учебное пособие предназначено для студентов магистратуры, обучающихся по направлению 06.04.02 «Управление и оценка земельных ресурсов», а также для студентов естественных факультетов, специализирующихся в области охраны окружающей среды.
Доп.точки доступа:
Минкина, Т. М.
Солдатов, А. В.
Невидомская, Д. Г.
Цицуашвили, В. С.
3.
Подробнее
Пахаруков, Ю. В.
Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов : учебное пособие / Пахаруков Ю. В. - Тюмень : Тюменский индустриальный университет, 2023. - 98 с. - ISBN 978-5-9961-3051-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.607
Кл.слова (ненормированные):
xafs-спектроскопия -- материал -- неразрушающий контроль -- синхротронное излучение -- спектроскопические свойства
Аннотация: Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся в тюменском индустриальном университете по направлению приборостроение неразрушающий контроль и материаловедение. Материал пособия написан для бакалавров, специалистов и аспирантов. Пособие содержит подробное описание синхротронного излучения с последующим анализом его спектроскопических свойств и возможностью применения в неразрушающем контроле.
Доп.точки доступа:
Шабиев, Ф. К.
Сафаргалиев, Р. Ф.
Пахаруков, Ю. В.
Применение XAFS-спектроскопии в неразрушающем контроле материалов : учебное пособие / Пахаруков Ю. В. - Тюмень : Тюменский индустриальный университет, 2023. - 98 с. - ISBN 978-5-9961-3051-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
xafs-спектроскопия -- материал -- неразрушающий контроль -- синхротронное излучение -- спектроскопические свойства
Аннотация: Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся в тюменском индустриальном университете по направлению приборостроение неразрушающий контроль и материаловедение. Материал пособия написан для бакалавров, специалистов и аспирантов. Пособие содержит подробное описание синхротронного излучения с последующим анализом его спектроскопических свойств и возможностью применения в неразрушающем контроле.
Доп.точки доступа:
Шабиев, Ф. К.
Сафаргалиев, Р. Ф.
4.
Подробнее
Шехтман, Л. И.
Применение методов физики элементарных частиц в других областях науки и медицине : конспект лекций / Шехтман Л. И. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2023. - 299 с. - ISBN 978-5-4437-1404-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.382
Кл.слова (ненормированные):
детектор -- компьютерная томография -- медицина -- медицинская рентгенография -- наука -- синхротронное излучение -- физика -- элементарная частица
Аннотация: Курс лекций посвящен описанию различных детекторных и ускорительных экспериментальных методик, берущих начало в физике элементарных частиц, применяющихся в медицине, биологии, геологии и других науках. В лекциях описываются физические основы работы детекторов, применяемых для медицинской рентгенографии, компьютерной томографии, в экспериментах с пучками синхротронного излучения, в ядерной медицине. Также несколько лекций отводится описанию применений ускорителей тяжелых частиц в адронной терапии, бор-нейтронозахватной терапии, а также ускорительной масс-спектрометрии. Курс рассчитан на магистрантов первого года, и основная его задача – показать разнообразие возможностей применения компетенций, приобретаемых студентами на кафедре физики элементарных частиц. Конспект лекций представляет собой электронную копию презентаций и будет полезен студентам при повторении, закреплении пройденного материала и подготовке к итоговому зачету.
Шехтман, Л. И.
Применение методов физики элементарных частиц в других областях науки и медицине : конспект лекций / Шехтман Л. И. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2023. - 299 с. - ISBN 978-5-4437-1404-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
детектор -- компьютерная томография -- медицина -- медицинская рентгенография -- наука -- синхротронное излучение -- физика -- элементарная частица
Аннотация: Курс лекций посвящен описанию различных детекторных и ускорительных экспериментальных методик, берущих начало в физике элементарных частиц, применяющихся в медицине, биологии, геологии и других науках. В лекциях описываются физические основы работы детекторов, применяемых для медицинской рентгенографии, компьютерной томографии, в экспериментах с пучками синхротронного излучения, в ядерной медицине. Также несколько лекций отводится описанию применений ускорителей тяжелых частиц в адронной терапии, бор-нейтронозахватной терапии, а также ускорительной масс-спектрометрии. Курс рассчитан на магистрантов первого года, и основная его задача – показать разнообразие возможностей применения компетенций, приобретаемых студентами на кафедре физики элементарных частиц. Конспект лекций представляет собой электронную копию презентаций и будет полезен студентам при повторении, закреплении пройденного материала и подготовке к итоговому зачету.
Страница 1, Результатов: 4