База данных: Каталог ЭБС IPR SMART
Страница 1, Результатов: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Будыка, А. К.
Спектрометрия ионизирующих излучений. Гамма-спектрометрия : учебное пособие для вузов / Будыка А. К. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2021. - 224 с. - ISBN 978-5-7262-2720-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.38
Кл.слова (ненормированные):
вещество -- гамма-излучения -- измерения -- ионизирующие излучения -- обработка -- спектр -- спектрометрия -- фотонное излучение -- ядерные технологии
Аннотация: Изложены основы методов спектрометрии гамма-излучения, наиболее широко используемых в ядерных технологиях. В книге приведены основные понятия, описано взаимодействие фотонного излучения с веществом, рассмотрены элементы современных полупроводниковых и сцинтилляционных спектрометров (детекторы, электронный спектрометрический тракт), методы обработки спектров, особенности спектрометрических измерений высоко- и низкоактивных проб. Для студентов и аспирантов вузов, обучающихся по направлениям подготовки «Ядерная энергетика и теплофизика», «Ядерные физика и технологии», специальности «Атомные станции: проектирование, эксплуатация и инжиниринг». Может быть полезным для широкого круга читателей, включая специалистов, работающих в близких областях современной гамма-спектрометрии.
Будыка, А. К.
Спектрометрия ионизирующих излучений. Гамма-спектрометрия : учебное пособие для вузов / Будыка А. К. - Москва : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2021. - 224 с. - ISBN 978-5-7262-2720-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
вещество -- гамма-излучения -- измерения -- ионизирующие излучения -- обработка -- спектр -- спектрометрия -- фотонное излучение -- ядерные технологии
Аннотация: Изложены основы методов спектрометрии гамма-излучения, наиболее широко используемых в ядерных технологиях. В книге приведены основные понятия, описано взаимодействие фотонного излучения с веществом, рассмотрены элементы современных полупроводниковых и сцинтилляционных спектрометров (детекторы, электронный спектрометрический тракт), методы обработки спектров, особенности спектрометрических измерений высоко- и низкоактивных проб. Для студентов и аспирантов вузов, обучающихся по направлениям подготовки «Ядерная энергетика и теплофизика», «Ядерные физика и технологии», специальности «Атомные станции: проектирование, эксплуатация и инжиниринг». Может быть полезным для широкого круга читателей, включая специалистов, работающих в близких областях современной гамма-спектрометрии.
2.
Подробнее
Светличный, А. М.
Фотонно-стимулированные технологические процессы микро- и нанотехнологии : учебное пособие / Светличный А. М. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 104 с. - ISBN 978-5-9275-2395-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.847
Кл.слова (ненормированные):
лазерная планаризация -- лазерное легирование -- микротехнология -- нанотехнология -- пленка вольфрама -- полупроводниковая поверхность -- технологический процесс -- фотонная обработка -- фотонно-стимулированный процесс -- фотонное излучение
Аннотация: В пособии рассмотрены взаимодействие световых потоков с полупроводниковой структурой, режимы обработки, процессы отжига и рекристаллизации поликремниевых и аморфных слоев, отжига и легирования полупроводниковых структур, формирование контактно-металлизационной системы, планаризация, а также получение диэлектрических пленок. Учебное пособие может быть использовано при подготовке магистров по направлениям 28.04.01 - Нанотехнологии и микросистемная техника, 11.04.03 - Конструирование и технология электронных средств, 11.04.04 - Электроника и наноэлектроника в курсе «Лучевые процессы нанотехнологии».
Доп.точки доступа:
Житяев, И. Л.
Светличный, А. М.
Фотонно-стимулированные технологические процессы микро- и нанотехнологии : учебное пособие / Светличный А. М. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 104 с. - ISBN 978-5-9275-2395-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
лазерная планаризация -- лазерное легирование -- микротехнология -- нанотехнология -- пленка вольфрама -- полупроводниковая поверхность -- технологический процесс -- фотонная обработка -- фотонно-стимулированный процесс -- фотонное излучение
Аннотация: В пособии рассмотрены взаимодействие световых потоков с полупроводниковой структурой, режимы обработки, процессы отжига и рекристаллизации поликремниевых и аморфных слоев, отжига и легирования полупроводниковых структур, формирование контактно-металлизационной системы, планаризация, а также получение диэлектрических пленок. Учебное пособие может быть использовано при подготовке магистров по направлениям 28.04.01 - Нанотехнологии и микросистемная техника, 11.04.03 - Конструирование и технология электронных средств, 11.04.04 - Электроника и наноэлектроника в курсе «Лучевые процессы нанотехнологии».
Доп.точки доступа:
Житяев, И. Л.
3.
Подробнее
Метрологическое обеспечение дозиметрии фотонного излучения : учебное пособие / Григорьев Е. И. - Москва : Академия стандартизации, метрологии и сертификации, 2016. - 24 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.10
Кл.слова (ненормированные):
дозиметр -- дозиметрия -- метрология -- поверка -- фотонное излучение
Аннотация: Рассматриваются основные положения метрологического обеспечения дозиметрии фотонного излучения, методы и средства поверки таких дозиметров.
Доп.точки доступа:
Григорьев, Е. И.
Кондратенко, С. Г.
Кувыкин, И. В.
Щипунов, А. Н.
Метрологическое обеспечение дозиметрии фотонного излучения : учебное пособие / Григорьев Е. И. - Москва : Академия стандартизации, метрологии и сертификации, 2016. - 24 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дозиметр -- дозиметрия -- метрология -- поверка -- фотонное излучение
Аннотация: Рассматриваются основные положения метрологического обеспечения дозиметрии фотонного излучения, методы и средства поверки таких дозиметров.
Доп.точки доступа:
Григорьев, Е. И.
Кондратенко, С. Г.
Кувыкин, И. В.
Щипунов, А. Н.
Страница 1, Результатов: 3