Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3

 

Scan me!
QR-код документа

Оценок: 0

45075

    Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3 : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2009 - .Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3 / Данилов В. С. - 2009. - 80 с. - ISBN 978-5-7782-1284-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
621.382
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
анализ процесса -- полупроводниковое устройство -- анализ тока
Аннотация: В третьей части учебного пособия рассмотрены наиболее важные процессы, происходящие в МОП-транзисторах. Адресовано студентам, специализирующимся в области создания полупроводниковых устройств.

Открыть исходную запись

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг

Похожие издания по классификации

Электроника и схемотехника. Мультимедийный практикум с использованием компьютерного моделирования в программной среде «TINA»/Алехин, В. А.
Физические основы электроники. Транзисторы. Гальваномагнитные и термоэлектрические приборы. Оптоэлектронные приборы/Бялик, А. Д.
Схемотехника электронных средств/Селиванова, З. М.
Электроника и схемотехника. Конспект лекций с использованием компьютерного моделирования в среде «Tina-Ti»/Алехин, В. А.
Теория энергетических процессов СВЧ в электронной волновой цепи/Волощенко, П. Ю.