Микроэлектроника: В 9-ти кн. [Текст] /Козырь, И.Я. . Кн.5. Качество и надежность интегральных микросхем

 

QR-код документа

Оценок: 0

32.844я7
М 59
Козырь, И. Я.
    Микроэлектроника: В 9-ти кн. [Текст] : учеб. пособие для втузов. Кн.5. Качество и надежность интегральных микросхем / Под ред. Л.А.Коледова. - М. : Высш. шк., 1987. - 144 с. - 0р.25к.

УДК
621.396
ББК 32.844я7

Рубрики: ТЕХНИКА

   РАДИОЭЛЕКТРОНИКА

   ЭЛЕКТРОНИКА

Кл.слова (ненормированные):
качество ИМС -- ИМС -- расчет -- методы -- испытания ИМС -- БИС -- оценка ИМС -- интегральные микросхемы -- микросхемы
Экземпляры всего: 11
6 -3 (1), 2.1-№2 оқу залы (10)
Свободны: 6 -3 (1), 2.1-№2 оқу залы (10)

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг

Похожие издания по классификации

Основы современной радиолектроники [Текст] /Першин, В.Т.
Моделирование систем.Курсовое проектирование [Текст] /Советов, Б.Я.
Основы современной радиоэлектроники [Электронный ресурс] /Першин, В.Т.
Микроэлектроника: В 9-ти кн. [Текст] /Пономарев, М.Ф. . Кн.3. Базовые матричные кристаллы и программируемые логические матрицы
Зондовые нанотехнологии в электронике [Текст] /Неволин, В.