База данных: Каталог ЭБС IPR SMART
Страница 2, Результатов: 26
Отмеченные записи: 0
11.
Подробнее
Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии : монография / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 156 с. - ISBN 978-5-9275-2415-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.36
Кл.слова (ненормированные):
кремниевая матрица -- металлооксидная наноструктура -- нанокомпозит -- нанокомпозитная пленка -- оксид 3d-металла -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская спектроскопия -- углеродная матрица -- электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.
Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.
Шматко, В. А.
Фуник, А. О.
Невзорова, Н. М.
Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии : монография / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 156 с. - ISBN 978-5-9275-2415-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кремниевая матрица -- металлооксидная наноструктура -- нанокомпозит -- нанокомпозитная пленка -- оксид 3d-металла -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская спектроскопия -- углеродная матрица -- электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.
Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.
Шматко, В. А.
Фуник, А. О.
Невзорова, Н. М.
12.
Подробнее
Филимонова, Н. И.
Методы электронной микроскопии : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
линза -- микроскоп -- пэм -- сэм -- электронная микроскопия -- электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».
Доп.точки доступа:
Величко, А. А.
Фадеева, Н. Е.
Филимонова, Н. И.
Методы электронной микроскопии : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
линза -- микроскоп -- пэм -- сэм -- электронная микроскопия -- электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».
Доп.точки доступа:
Величко, А. А.
Фадеева, Н. Е.
13.
Подробнее
Сулейманов, С. М.
Микроструктурная организация внутренних органов поросят при рахите. Гистологический атлас : учебное пособие / Сулейманов С. М. - Воронеж : Воронежский Государственный Аграрный Университет им. Императора Петра Первого, 2016. - 98 с. - ISBN 978-5-7267-0847-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 48.1
Кл.слова (ненормированные):
болезнь -- ветеринария -- гистология -- животное -- микроскопия -- орган -- поросенок -- сельское хозяйство
Аннотация: В пособии рассмотрены вопросы возрастной морфологии органов клинически здоровых и больных рахитом поросят. Атлас состоит из шести разделов. Иллюстрирован фотографиями, выполненными при световой микроскопии гистологических срезов органов. Предназначен для студентов факультетов ветеринарной медицины, преподавателей специализированных высших и средних учебных заведений, практикующих ветеринарных врачей.
Доп.точки доступа:
Дерезина, Т. Н.
Паршин, П. А.
Сулейманов, С. М.
Микроструктурная организация внутренних органов поросят при рахите. Гистологический атлас : учебное пособие / Сулейманов С. М. - Воронеж : Воронежский Государственный Аграрный Университет им. Императора Петра Первого, 2016. - 98 с. - ISBN 978-5-7267-0847-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
болезнь -- ветеринария -- гистология -- животное -- микроскопия -- орган -- поросенок -- сельское хозяйство
Аннотация: В пособии рассмотрены вопросы возрастной морфологии органов клинически здоровых и больных рахитом поросят. Атлас состоит из шести разделов. Иллюстрирован фотографиями, выполненными при световой микроскопии гистологических срезов органов. Предназначен для студентов факультетов ветеринарной медицины, преподавателей специализированных высших и средних учебных заведений, практикующих ветеринарных врачей.
Доп.точки доступа:
Дерезина, Т. Н.
Паршин, П. А.
14.
Подробнее
Панова, Т. В.
Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия : учебное пособие / Панова Т. В. - Омск : Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского, 2016. - 80 с. - ISBN 978-5-7779-2052-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.38я73
Кл.слова (ненормированные):
метод исследования вещества -- растровая электронная микроскопия -- электронный микроскоп
Аннотация: Дано изложение различных методов просвечивающей и растровой электронной микроскопии, методов оптической микроскопии и их практического применения. Рассматриваются взаимодействие электронов с веществом, принципы формирования изображения в электронном микроскопе, основные узлы электронного микроскопа и способы приготовления образцов. Содержит задания для практической работы. Для студентов старших курсов вузов, изучающих курс «Современные методы исследования вещества».
Панова, Т. В.
Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия : учебное пособие / Панова Т. В. - Омск : Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского, 2016. - 80 с. - ISBN 978-5-7779-2052-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
метод исследования вещества -- растровая электронная микроскопия -- электронный микроскоп
Аннотация: Дано изложение различных методов просвечивающей и растровой электронной микроскопии, методов оптической микроскопии и их практического применения. Рассматриваются взаимодействие электронов с веществом, принципы формирования изображения в электронном микроскопе, основные узлы электронного микроскопа и способы приготовления образцов. Содержит задания для практической работы. Для студентов старших курсов вузов, изучающих курс «Современные методы исследования вещества».
15.
Подробнее
Неволин, В. К.
Зондовые нанотехнологии в электронике / Неволин В. К. - Москва : Техносфера, 2014. - 174 с. - ISBN 978-5-94836-382-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 32.85
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- зондовые нанотехнологии -- интегральная схема -- квантовая схема -- электроника -- электрохимический массоперенос
Аннотация: Прогресс в микроэлектронике связывают с уменьшением линейных размеров функциональных элементов. Если их размеры становятся порядка нанометров, то существенными являются квантовые эффекты, принципиально меняющие физику работы. Созданием таких элементов и интегральных квантовых схем на их основе занимается нанотехнология. В монографии изложены физические основы зондовой нанотехнологии на базе сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, показаны основные достижения, обсуждаются проблемы, требующие решения. Предназначена для студентов старших курсов, аспирантов и молодых ученых, желающих познакомиться с новым научным направлением и попробовать свои силы в развитии технологии ХХI века.
Неволин, В. К.
Зондовые нанотехнологии в электронике / Неволин В. К. - Москва : Техносфера, 2014. - 174 с. - ISBN 978-5-94836-382-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- зондовые нанотехнологии -- интегральная схема -- квантовая схема -- электроника -- электрохимический массоперенос
Аннотация: Прогресс в микроэлектронике связывают с уменьшением линейных размеров функциональных элементов. Если их размеры становятся порядка нанометров, то существенными являются квантовые эффекты, принципиально меняющие физику работы. Созданием таких элементов и интегральных квантовых схем на их основе занимается нанотехнология. В монографии изложены физические основы зондовой нанотехнологии на базе сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, показаны основные достижения, обсуждаются проблемы, требующие решения. Предназначена для студентов старших курсов, аспирантов и молодых ученых, желающих познакомиться с новым научным направлением и попробовать свои силы в развитии технологии ХХI века.
16.
Подробнее
Вознесенский, Э. Ф.
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.33я7
Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.
Вознесенский, Э. Ф.
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.
Абдуллин, И. Ш.
17.
Подробнее
Рентгенография металлов и сплавов : лабораторный практикум / Кузнецова Е. В. - Липецк : Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2022. - 90 с. - ISBN 978-5-00175-150-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 34.2
Кл.слова (ненормированные):
деформированный металл -- определение напряжений -- рентгенография металлов -- сплавы
Аннотация: В лабораторном практикуме приведены основные методы рентгеноструктурного анализа. Лабораторный практикум предназначен для обучающихся по направлениям 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов», 22.03.02 «Металлургия» и 28.03.02 «Наноноинженерия», изучающих дисциплины «Рентгенография и электронная микроскопия», «Методы контроля и анализа веществ», «Методы диагностики в нанотехнологиях».
Доп.точки доступа:
Кузнецова, Е. В.
Косинова, О. А.
Коваленко, И. А.
Кузенков, С. Е.
Цыганов, И. А.
Рентгенография металлов и сплавов : лабораторный практикум / Кузнецова Е. В. - Липецк : Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2022. - 90 с. - ISBN 978-5-00175-150-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
деформированный металл -- определение напряжений -- рентгенография металлов -- сплавы
Аннотация: В лабораторном практикуме приведены основные методы рентгеноструктурного анализа. Лабораторный практикум предназначен для обучающихся по направлениям 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов», 22.03.02 «Металлургия» и 28.03.02 «Наноноинженерия», изучающих дисциплины «Рентгенография и электронная микроскопия», «Методы контроля и анализа веществ», «Методы диагностики в нанотехнологиях».
Доп.точки доступа:
Кузнецова, Е. В.
Косинова, О. А.
Коваленко, И. А.
Кузенков, С. Е.
Цыганов, И. А.
18.
Подробнее
Морозова, К. Н.
Основы электронной микроскопии : учебно-методическое пособие / Морозова К. Н. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2020. - 85 с. - ISBN 978-5-4437-1104-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 28.05
Кл.слова (ненормированные):
биологические объекты -- микроскопия
Аннотация: Учебно-методическое пособие предназначено для магистрантов 1-го курса кафедры цитологии и генетики факультета естественных наук, проходящих практикум по электронной микроскопии. Пособие состоит из вводной части, освещающей историю возникновения и основные принципы электронной микроскопии; основной части, содержащей иллюстрированный обзор методик и подробные протоколы пробоподготовки различных биологических объектов, и заключительной части с общими рекомендациями и списком литературы, в том числе перечнем интернет-ресурсов, посвященных электронной микроскопии. Методическое пособие рекомендовано всем специалистам, начинающим заниматься электронно-микроскопическими исследованиями, в частности, электронно-микроскопическим анализом биологических объектов.
Морозова, К. Н.
Основы электронной микроскопии : учебно-методическое пособие / Морозова К. Н. - Новосибирск : Новосибирский государственный университет, 2020. - 85 с. - ISBN 978-5-4437-1104-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
биологические объекты -- микроскопия
Аннотация: Учебно-методическое пособие предназначено для магистрантов 1-го курса кафедры цитологии и генетики факультета естественных наук, проходящих практикум по электронной микроскопии. Пособие состоит из вводной части, освещающей историю возникновения и основные принципы электронной микроскопии; основной части, содержащей иллюстрированный обзор методик и подробные протоколы пробоподготовки различных биологических объектов, и заключительной части с общими рекомендациями и списком литературы, в том числе перечнем интернет-ресурсов, посвященных электронной микроскопии. Методическое пособие рекомендовано всем специалистам, начинающим заниматься электронно-микроскопическими исследованиями, в частности, электронно-микроскопическим анализом биологических объектов.
19.
Подробнее
Кузнецова, Ю. В.
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе : учебное пособие / Кузнецова Ю. В. - Тверь : Тверской государственный университет, 2023. - 96 с. - ISBN 978-5-7609-1838-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 22.3
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовая микроскопия -- научно-исследовательская работа
Аннотация: Пособие предназначено для студентов естественнонаучных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для ис-следования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата.
Кузнецова, Ю. В.
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе : учебное пособие / Кузнецова Ю. В. - Тверь : Тверской государственный университет, 2023. - 96 с. - ISBN 978-5-7609-1838-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- зондовая микроскопия -- научно-исследовательская работа
Аннотация: Пособие предназначено для студентов естественнонаучных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки элементов поверхности исследуемых материалов. В пособии подробно описаны основные методики АСМ и их применение для ис-следования соответствующих свойств и объектов. Предназначено для студентов магистратуры направления «Радиофизика» и «Физика», а также может быть рекомендовано для студентов бакалавриата.
20.
Подробнее
Методы структурного анализа материалов : учебное пособие / Башков О. В. - Комсомольск-на-Амуре : Комсомольский-на-Амуре государственный университет, 2022. - 60 с. - ISBN 978-5-7765-1514-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
ББК 30.36
Кл.слова (ненормированные):
материал -- материаловедение -- микроскопия -- спектральный анализ -- структурный анализ
Аннотация: В учебном пособии приводятся физические основы методов анализа структуры, состава материалов и контроля качества, представления о состоянии и тенденциях развития методов и средств для осуществления структурного анализа материалов различного класса. Предложены основные принципы построения и функционирования конкретных приборов, установок и их отдельных узлов. Предназначено для студентов специальности 22.03.01 – «Материаловедение и технологии материалов».
Доп.точки доступа:
Башков, О. В.
Бурдасова, А. А.
Белова, И. В.
Башкова, Т. И.
Афанасьева, А. А.
Башкова, О. В. \ред.\
Методы структурного анализа материалов : учебное пособие / Башков О. В. - Комсомольск-на-Амуре : Комсомольский-на-Амуре государственный университет, 2022. - 60 с. - ISBN 978-5-7765-1514-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
материал -- материаловедение -- микроскопия -- спектральный анализ -- структурный анализ
Аннотация: В учебном пособии приводятся физические основы методов анализа структуры, состава материалов и контроля качества, представления о состоянии и тенденциях развития методов и средств для осуществления структурного анализа материалов различного класса. Предложены основные принципы построения и функционирования конкретных приборов, установок и их отдельных узлов. Предназначено для студентов специальности 22.03.01 – «Материаловедение и технологии материалов».
Доп.точки доступа:
Башков, О. В.
Бурдасова, А. А.
Белова, И. В.
Башкова, Т. И.
Афанасьева, А. А.
Башкова, О. В. \ред.\
Страница 2, Результатов: 26