Электронный каталог


 

База данных: Каталог ЭБС IPR SMART

Страница 1, Результатов: 1

Отмеченные записи: 0

129933
Комаров, Ф. Ф.
    Ионная и фотонная обработка материалов : учебное пособие / Комаров Ф. Ф. - Минск : Вышэйшая школа, 2022. - 248 с. - ISBN 978-985-06-3395-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 34.55

Кл.слова (ненормированные):
дефект -- ионная обработка -- ионный пучок -- легирующий атом -- материал -- микроэлектроника -- отжиг -- фотонная обработка -- электроника
Аннотация: Изложены современные представления о физике взаимодействия ионных пучков с твердыми телами, рассмотрены вопросы образования и отжига дефектов кристаллической решетки, формирование заданных профилей распределения легирующих атомов. Приведены данные о современном оборудовании, используемом для ионной и фотонной обработки материалов, а также для изменения свойств ионно-имплантированных слоев. Рассмотрены приложения ионной и фотонной обработки в современных технологиях микроэлектроники и твердотельной электроники. Для студентов учреждений высшего образования, изучающих физику полупроводниковых материалов, физику твердого тела, физическую электронику, микроэлектронику, методы математической физики.

Доп.точки доступа:
Константинов, С. В.

Комаров, Ф. Ф. Ионная и фотонная обработка материалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Комаров Ф. Ф., 2022. - 248 с.

1.

Комаров, Ф. Ф. Ионная и фотонная обработка материалов [Электронный ресурс] : Учебное пособие / Комаров Ф. Ф., 2022. - 248 с.


129933
Комаров, Ф. Ф.
    Ионная и фотонная обработка материалов : учебное пособие / Комаров Ф. Ф. - Минск : Вышэйшая школа, 2022. - 248 с. - ISBN 978-985-06-3395-8 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии IPR SMART.

УДК
ББК 34.55

Кл.слова (ненормированные):
дефект -- ионная обработка -- ионный пучок -- легирующий атом -- материал -- микроэлектроника -- отжиг -- фотонная обработка -- электроника
Аннотация: Изложены современные представления о физике взаимодействия ионных пучков с твердыми телами, рассмотрены вопросы образования и отжига дефектов кристаллической решетки, формирование заданных профилей распределения легирующих атомов. Приведены данные о современном оборудовании, используемом для ионной и фотонной обработки материалов, а также для изменения свойств ионно-имплантированных слоев. Рассмотрены приложения ионной и фотонной обработки в современных технологиях микроэлектроники и твердотельной электроники. Для студентов учреждений высшего образования, изучающих физику полупроводниковых материалов, физику твердого тела, физическую электронику, микроэлектронику, методы математической физики.

Доп.точки доступа:
Константинов, С. В.

Страница 1, Результатов: 1

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц