QR code of document
531.9
К82
Кристаллография,рентгенография и электронная микроскопия [Текст]. - М. : Металлургия, 1982. - 631 с. - 1р.40к. тг.
| УДК | 531.9 |
Рубрики: ФИЗИКА
ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА
Кл.слова (ненормированные):
кристаллография -- дифракционные исследования -- рентгеновские лучи -- электронно-оптические исследования -- интенсивность -- электроны -- нейтроны -- метод Косселя -- динамическая теория -- сплавы -- электронная микроскопия
Экземпляры всего: 1
2.1-№2 Ч/З (1)
Свободны: 2.1-№2 Ч/З (1)